硅晶片超精密加工的研究现状

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1、硅晶片超精密加工的研究现状闫占辉(长舂工程学院机械工程系,长春130012)摘要:归纳总结了硅晶片的加工原理、加工方法和加工设备,分析了硅晶片超精密加工的研究现状,并对砘晶片超粘密加工的发展趋势和今后的研究工作进行了展望,关键词:硅晶片,超精密加工,集成申,路中图分类号:TN305文献标识码:A文章编号:1003-353X(2005)11-0031-041前言硅是兵打金刚石品体结构,原子间以共价键结介的硬脆柯料,K硬度达到1000HV,《断裂强度很低,超精密加工这样的硬脆材料冇-定的难度。M吋,硅乂是一种很好的半

2、导体材料,构成集成电路半导体品片(芯片)的90%以上都是硅耑片L1]。集成也路自1959年发明以來,集成电路芯片的集成度在不断提商,而加工特征尺寸和加工成本逐步缩小[2],如表1所示。为了能在硅茄片上印刷集成电路、与其他元件结合紧密,砘品片的表ifli必须平直;特别处随着集成电路的集成程度的提高,对硅晶片的表面的线宽、硅品片的平直度捉fli了越來越高的要求;而且企业为丫&领市场,实现优质、低耗,人尺、t、卨精度的硅品什超精密加工具冇及艽重耍的意义。表1硅晶片加工部分技术娶求1992IQ95I99R20012004

3、2007HJA件尺吱/wm2UO20020(1300-400HOG400X00400t(XI-40016M64M256MHi410.05"J0<110.004。⑽2h•:-JmOS0J50250.IS0,12010现今w:界上硅品片生产主耍集屮分布于美国、n本、w欧、新加坡等少数发达国家和地区。国內现处于兴建硅晶片加工厂和生产硅品片的热潮。H前,人批生产的砘片直径以200mm为主,们300mm直径的硅片己在2000年幵始出现。目前,只有美国英特尔公司

4、和徳州仪器可以制作300mm的砘舫片。2015年左右可能出现400〜450mm肖杼的硅片,这无疑对硅晶片的超精密加T提出了史萵的要求[3~4]。曰木为改变半导体竞争力下降的局面,开发人晶片技术,于1996年联合成立丫"超大型硅研究所"(SSI),共同研究开发400mm硅片的关键技术[5〜6】。超精密加工的加工机理主要包括"进化加工”及"超越性加工'0前除对机理研究外,还对微观表面完整性、在超精密范畴内对各种材料的加工过程、现象、性能以及工艺参数进行提示性研究。由于宜接对切削点观察异常网难,现在有提议将切削装置小型

5、化,放買丁SEM的镜尖下进行切削丼观察。日本人阪人学弁川直哉教授等开始采用计算机仿真,逐步向揭开微ffi切削的奥秘迫近。超精密加工方法主要括超精密切削(车、铣)、超精密磨削、超精密研磨(机械研磨、化学机械研磨、非接触式浮动研磨、弹性发射加工等)以及超粘密特种加工(电子束、离子束以及激光束加工等)。而且在今后的相当-•段时叫,亚微米及纳米级制造及测蛍成为制造科技和制造工艺的主流。2硅晶片主要加工方法的研究现状2.1硅晶片的形成硅品片经过以下过程形成:多品体硅一>极限拉伸(局域拉伸)一>牟品体硅柱一>外阅磨削(无心磨

6、削)一>磨削切断(精密切割)->0边->硅席片(1)品棒成K工序(拉肀品):融化一颈部成长—品冠成K一品体成长—毘部成氏。(2)品棒裁切与检测:将长成的品棒去掉直径偏小的头、尾部分,并对尺寸进行检测,以决定下步加工的工艺参数。(3)外径磨削:由于在品棒成长过程屮,M外径尺寸和脚度均冇一定偏差,M:外岡柱而也凹凸不平,所以必须对外径进行修整、研磨,使其尺寸、形状误差均小于允许偏差。(4)切断:由于硅的硬度非常人,所以在本工序里,采用环状、M:内径边缘镶嵌冇钻石颗粒的薄八锯•将晶棒切割成-•片片薄片。(5)圆边:刚切

7、下来的品片外边缘很锋利,蛙单品乂是脆性材料,为避免边角崩裂影响品片强度、破坏表而光洁和对后工序带來污染颗粒,必须用专用的屯脑控制设备自动修整简片边缘形状和外径尺寸。2.2硅晶片的超精密加工经过上述过程所形成的硅品片,其:平而度小于8pm,fri还需进•-•步加工,以提高其平而度和降低表而粗糙度。其主耍过程为磨—粘磨y化学刻蚀—抛光—电路层制作—背而磨削—切割成小块。2.2.1超精密切削的研究现状单点金刚厶切削(SPDT)。单点金刚石切削的特点是采川数控A法直接控制加工轮廓和表而粗糙没,是加工红外光学材料和磨削加工

8、的可替代方法。Venkatesh等人采用0°前角、刀尖半径为0.75mm的金刚石刀具加工硅晶片,当切削深度为1mm、进给速度为0.4mm/min、主轴速度为400m/min吋,采用AFM测蛍方法,所得到的农面粗糙度达到1nm[7]。金刚石切削刀M•刃U岡弧半径一直亦向更小的方向发展,闪为它的大小直接影响到被加工农面的粗糙度,同时还必然要求金刚石刀具史加锋利。根据II木大阪

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