测试系统信号放大器的传输与噪声

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1、测试系统信号放大器的传输与噪声一、信号传榆自动检测系统在工作的过程中，有时阴日会51现某些不，1：常的现象，这表明存在着来自外部利内部影响其正常[：作的各种因素，尤其是当被测估躺R微弱时，问题靴更加突山，这些因素总称为“干扰”。干扰不44会造成测量误斧66的甚至会引起系统的亲乱，导致小产事故。因此，克自动枪洲系统的设计、制造成装和使用中都必须充分注意抗干扰间题。我们版首光厂解下：扰的种类和来源以及形成千扰的途径，从前才能有针对性地采取有效措施消除干扰的影响。(一)干扰的来源根据产止十扰的物Ig原因，干扰有如下几种来源：]．机械的干扰机械的干扰是指出

2、于机械振动或冲击、使传感器装置个的元件发：仁振动、变形。使连接导线发生恢移，使指针发生判动，这些都将影响其正常工作。声波的十扰与之类似。2．热的干扰在工作财化感器系统产生的热量所引起的温度波动和环境温度的变化等都会引起检测电路元器件参数发牛变化，贴片钽电容或产：生附加的热电动势等，从而影响了传感器系统购正常L作。太光的干扰柱传感器装置中人们广泛使用着各种半导体2S件，但是半导体材料立光线的作用下台激发山屯子空入列，使半导体几器件产生咆势或引起阴值的变化。4．湿度变化的影响湿度增加会使元器件的绝缘电阻厂降，漏电流增加，高值电阻的阻值厂降．屯介质的介电

3、常数增加．吸潮的线圈骨架膨胀，等等。；．化学的千优化学物品．如骏碱lJ及腐蚀性气体等，会通过化学腐蚀作用损坏传感器装置。6．电、磁的干扰电、磁现象可以通过电路和磁路对传感器系统产少T：扰作用；电场和倔场的变化也会在有关电路卞感应出干扰电压．从而影响传感器系统的汇常工作。这种*时u磁的干扰对于传感器系统来说是最为普通利影响最严至的干扰。7．射线辐射的干扰射线会使气体电离、半导钽电容体激发电子—主穴对、电子从金属中逸出等，因而用于原于能、核装置等领域内的传感器系统，尤其要注意射线辐射对传感器系统的1：扰。(二)噪声、噪声源与信噪比1．噪声、噪声源各种鲁

4、扰在传感船系统的输出端注住反映为‘些与检测员无关的电传冲．这些九用的信号称为噪声。省噪声电压使检测电路元件大法止常工作叫，该噪声电压就税；为十扰电压。噪声来源卜噪声源．噪声朋实际亡足以亡介绍的各种干扰在检测电路Fr’的义体反映，因们它足多种多样的，常见的噪声腮有放电噪声源、电气设备噪声源利闭村噪向源二类。其小．团有吸亩包括热噪声、散粒噪声相接触晚声、2．信噪比，公测量过程小．人们石希织补噪声，但是人们也九法完全排除限声，实阅；U1能要求噪声尽可能小些，究竞允许多大的噪声仔在，则必须与有H1信号联系个——起考虑。显然。有f0估号很强时。则rJJ以允许

5、有较大的噪声；有用信号很弱时，则允许的噪声必须很小。于是、很自然就产牛／“信噪比”这一概念。“信噪比”指的足在信号通道小有用佰号成分与噪声成分之比。符母为s门R，它央不噪声对有用信号影响的大小，泄钉用作号功求为八，有用倍号电压为队．噪卢功率为八，噪声电压为U、．则其佰唤比为(三）干扰的途径与作用方式噪声通过—定的途径侵入AVX钽电容什感器装量才会对测量结果造成影响，因此有必要讨论干扰的途径及作用入式、以便有效地切断这些途径，消涂干扰。干扰的途径柯“路”和“场”两种形式。凡噪户源通过电路的形式作用十被十扰对象的，都属于“路”的十扰，如通过漏电流、共阻

6、抗韶合等51入的干扰；凡噪声源通过电场、磁场的形式作用于被干扰对象的，都届于“场”的十扰，A11通过分市电容、分布互感等引入的十扰。1．通过“路”的干扰(1)漏电流锅台形成的十扰它是巾于绝缘厂良，由流经绝缘电阻的漏电流所引起的噪声干扰。漏电流锅台干扰经常发生在下列情况下：芍用传感器测量较尚的直流电压时，在传感器附近省较高的直流电压源时。在高输入pK抗的直流放大电路中。(：Z)传导锅台形成的十扰噪声经导线拙合到电路中占是最叫显的干扰现象。宅导线经过具打噪声的环境时，即拾取噪声，并经导线传送到电路而造成千扰。传导锅台的主要现象是噪声经电源线传到电路中来

7、。通常，交流供电线路在牛广现场的分布，实际J：构成了一个吸收各种噪声的网络，噪声可’f分方便地以电路传导的形式传到各处，并经过电源引线进人各种电子裴置，造成千扰。实践证明．经电源线引入电子族置的干扰无论从广泛性和严重性来说都是十·分明显的，但常常被人们忽视。(3)共阻抗糊台形成的干扰共阻抗稠合是由1；两个电路共有阻抗．当一个电路中有心流流过叫。迥道共仑阻抗在斯麦迪电子另一个电路上产：生干扰电压。例如．几个电路由同一个电源供电时”会通过电源内阻互相干扰，在放大器小，各放大级通过嫂地线电阻互相干扰。2．通过“场”的干扰(1)静电锅合形成的干扰电场港合实

8、质r—是电容性据合．它是巾于两个电路之间存在古生电容，可使—个电路的电荷变化影响到另一个电路。(2)电磁辆合形成的干扰电傲