电线电缆的基本测试方法

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1、电线电缆的基本测试方法　　基本结构　　（一）导线　　1、导体电阻：除TPT、TS和TST等锡芯电线外，UL不要求测量电线电缆产品的导体电阻。　　2、线径：通常电线电缆的线径都是偶数AWG，如18AWG、16AWG等，奇数AWG电线属于特殊例外。　　3、决定导体截面积的方法有二种：　　A、测量每一根绞合芯线截面积之和，测量时至少要取7根苡线直径的平均值作为平均芯线直径。D　　以Mils计算：导体截面积CMA=nd2（CMA：CircularMil电线电缆的基本测试方法　　基本结构　　（一）导线　　1、导体电阻：除TPT、TS和TST等锡芯电线外，UL不要求测量电线电缆产品的导体

2、电阻。　　2、线径：通常电线电缆的线径都是偶数AWG，如18AWG、16AWG等，奇数AWG电线属于特殊例外。　　3、决定导体截面积的方法有二种：　　A、测量每一根绞合芯线截面积之和，测量时至少要取7根苡线直径的平均值作为平均芯线直径。D　　以Mils计算：导体截面积CMA=nd2（CMA：CircularMil电线电缆的基本测试方法　　基本结构　　（一）导线　　1、导体电阻：除TPT、TS和TST等锡芯电线外，UL不要求测量电线电缆产品的导体电阻。　　2、线径：通常电线电缆的线径都是偶数AWG，如18AWG、16AWG等，奇数AWG电线属于特殊例外。　　3、决定导体截面积的

3、方法有二种：　　A、测量每一根绞合芯线截面积之和，测量时至少要取7根苡线直径的平均值作为平均芯线直径。D　　以Mils计算：导体截面积CMA=nd2（CMA：CircularMil电线电缆的基本测试方法　　基本结构　　（一）导线　　1、导体电阻：除TPT、TS和TST等锡芯电线外，UL不要求测量电线电缆产品的导体电阻。　　2、线径：通常电线电缆的线径都是偶数AWG，如18AWG、16AWG等，奇数AWG电线属于特殊例外。　　3、决定导体截面积的方法有二种：　　A、测量每一根绞合芯线截面积之和，测量时至少要取7根苡线直径的平均值作为平均芯线直径。D　　以Mils计算：导体截面积

4、CMA=nd2（CMA：CircularMilArea)　　以毫米计算：导体=0.7854*nd2　　其中n为导体结构中芯线的根数。芯线直径的测量：根据UL1581第200节，每根芯线直径须使用精度达到0.01mm(0.001英寸），两个端面都是平面的千分尺进行测量。　　B、称重法，见UL1581第210节。　　测量过程中发现测量值小于要求值（UL1581，Table20.1),可用两种方法中的另一种加以证实。（注：DC电阻测量法不能用来作为测量CMA的较终判断标准）。导体绝缘厚度　　1、测量工具：千分尺　　常用的千分尺，测量端面均为平面，较小读数：0.01mm　　端面为1.

5、98*9.5mm，荷重10g的荷重千分尺（导体绝缘厚度）　　平均绝缘厚度的测量：距端线10英寸开始，每10英寸为一个测量点，测量5个点处导线的外径，导体的直径。　　绝缘厚度=（导线外径-导体直径）/2　　将5个点处的绝缘厚度平均即得到平均绝缘厚度。　　较小绝缘厚度的测量：　　测量工具：pin-gauge千分尺,注意此方法适用于18AWG或更大线径的导线结构。截取一段抽出芯线导体的绝缘体，将其放置在千分尺的pin上。测量时先将荷重轻轻抬起，并缓慢转动绝缘体，读取较小值即视作导线绝缘体较小厚度。对于小于18AWG的导线，可采用读数显微镜方法。　　2、测量工具，读数显微镜　　取样时

6、，小心抽取全部导体芯线，沿导线绝缘体方向垂直切片，在显微镜下测量较薄处的厚度，作为导体绝缘层的较小厚度。　　通常将读数显微镜（精度为0.001mm)的测量结果作为较终的参考标准。实际测量时发现一卷电线测量的较小厚度小于规定值多过2Mils，判定该卷电线不合格。若测量值小于规定值不超过2Mils,应在该卷电线上相距1英尺处抽取两个样测量，如果其中1个结果小于较小值，该卷电线判为不合格，若两个测量值均达标，判为合格。　　外被　　平均外被厚度　　沿线身测量相距离英寸的5个点处外被的外径以及成缆直径，外被厚度=（外被外径-成缆直径）/2　　平均外被厚度为5个点测量值的平均。　　外被较

7、小厚度：同导线较小绝缘厚度。外被内表面须先小心抛磨打平，再使用荷重85g,测量截面直径6.4mm的荷重千分尺测量。　　读数显微镜测量：方法同导体绝缘厚度测量方法。　　常见电线的平均厚度和较小厚度的对照表。见UL62，Table:16.2,16.4,16.6,16.8.　　绞距　　芯线绞距　　取芯线10个绞合的间距的平均值作为芯线平均绞距，测量时去除大约十个绞合长度的绝缘外皮，取任何一支芯线为对象进行测量。注意在去皮时不要损伤芯线，造成芯线断线。　　导线绞距　　同样取导线的10个绞距长度进行平均，作为平均