论如何简化放大器和混频器的测量

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1、论如何简化放大器和混频器的测量　　论文关键词：放大器；混频器；测量　　论文摘要：在构成射频系统的基本部件中，放大器和混频器等都是需要经常进行测试的元器件。多端口测试系统可以同时实现高速度和高精度。新型VNA的内部设置有两个内置RF信号源，内置两个RF信号源来简化放大器和混频器的测量。对于放大器的测量，可以使用信号合路器将两个信号合并，然后送到被测放大器（AUT）的输入端；混频器测量的NXN测量法有效的解决了常规测量法所无法解决的一些困难和技术难点。　　　　目前电子产品设备中子系统集成程度不断提高的发展趋势，正在改变着对放大器和混频器进行的测试方式，使得在测试过程中对仪表的

2、设置更加简单，测量时间更短，准确性更高。　　　　一、多端口测试系统可以同时实现高速度和高精度　　传统VNA使用一个作为激励的RF信号源，并采用多路测量接收机来测量正反两个方向上的入射、反射和传输信号；传统VNA有两个测试端口，因为早期的大多数器件只有一个或两个端口。为了对多端口器件进行测量，就需要在被测器件(DUT)的各个端口之间多次变换测试电缆和端接负载，直到完成对所有端口的测量。现在，RF系统所使用的许多器件都有三、四个端口，多至七、八个端口的器件也变得越来越常见。导致器件端口数量提高的原因有两个：一个是平衡元器件的广泛使用，另一个是子组件的集成程度不断提高，如当前中

3、使用的前端模块。为此，可以考虑增加测试系统的测试端口数量进行放大器和混频器的测量。多端口测试系统与使用传统的两端口VNA相比，大大地提高了测试速度。因为它有四大改进：　　（一）两个信号源　　第二个内部信号源与第一个信号源的频率和功率电平设置是相互独立的。第二个信号源可用于非线性放大器测试如互调失真（IMD），或用作测试混频器和变频器的快速本地振荡器（LO）。　　（二）宽带信号合路器　　内部信号合路器可以在仪器的相关测试端口耦合器之前将两个源合并在一起。这便简化了需要两个信号源的放大器测试设置。　　（三）信号切换和接入点　　辅助开关和射频接入点能实现灵活的信号路径选择，并增

4、加外部信号调理得硬件（如推动放大器）或外部测试设备（如数字信号发生器或矢量信号分析仪）。　　（四）脉冲测试能力　　内部脉冲调制器和脉冲发生器提供完全一体化的脉冲S参数解决方案。　　这些改进简化了测试设置过程并在测量放大器、混频器和变频器时缩短了测试时间。这些新增加的特性结合在一起极大地扩大了对被测器件（DUT）进行一次连接可以实现的测量范围。　　　　二、内置两个RF信号源来简化放大器和混频器的测量　　新型VNA的内部设置有两个内置RF信号源，可以对IMD进行测量，而以前这主要通过两个外接的信号源和一个频谱分析仪来完成。基于VNA的测试方法使得在测试过程中对仪表的设置更加简

5、单、测量时间更短、准确性更高。内置两个RF信号源进行放大器和混频器的测量有三个优点。首先，只用一台测试仪器，只进行一次连接便能对全部参数进行测量：S参数、增益压缩、输出谐波、IMD等等。其次，与使用频谱分析仪相比，用功率计对VNA进行校准之后，测量精度更高。最后，如果使用一台频谱分析仪和两个独立的信号源进行同样的测试，完成测试需要花几分钟的时间，但使用PNA-X只需0.6秒。　　两个内置信号源的性能增强，简化了放大器和混频器测量。例如，测试端口可利用的最大信号功率通常为+13至+20dBm（取决于型号和频率）。这对将放大器驱动到非线性区很有帮助，并且在把信号源用作测试混频

6、器的LO信号时也经常要这样。这两个内置信号源的谐波成分也非常低（通常为–60dBc或更低），从而提高谐波和IMD测量的精度，在表征放大器的特性时很容易就可以让放大器从线性工作范围转化到非线性工作范围。　　　　三、如何对放大器进行测量　　对于放大器的测量，可以使用信号合路器将两个信号合并，然后送到被测放大器（AUT）的输入端。AUT的非线性会引起与被放大的输入信号一道出现的互调分量。在通信系统中，这些多余的分量将进入工作频带且不能通过滤波去除。实践中，只测三阶分量，因为它们是造成系统性能下降的最重要因素。在扫描状态下进行放大器测试，一个值得注意的改变是对功率电平而不是对频率

7、进行扫描，这有助于研发工程师们建立晶体管和放大器非线性行为模型。　　相位与驱动的关系是用PNA-X很容易完成的另一种常见的双信号源测试。这个测试参数表征的是当在相邻通道或带外存在大信号时，放大器处理小信号的能力。测试的方法是把不同频率的一个大信号和一个小信号合在一起然后送至被测放大器（AUT），然后在改变大信号的功率时（使用功率扫描），测量小信号的S21相位。　　另一种使用双信号源技术、在建立晶体管和放大器非线性行为模型时会用到的参数是“热态S参数”，这种测试方法用来表征在某一给定频率下，当存在一个比较大的偏离于S参数测试信号