常用的集成电路好坏检测方法

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1、常用的集成电路好坏检测方法　　下面介绍一些常用的集成电路好坏检测方法：　　1.开路测量电阻法　　开路测量电阻法是指在集成电路未与其它电路连接时，通过测量集成电路各引脚与接地引脚之间的电阻来判别好坏的方法。　　集成电路都有一个接地引脚（GND），其它各引脚与接地引脚之间都有一定的电阻，由于同型号的集成电路内部电路相同，因此同型号的正常集成电路的各引脚与接地引脚之间的电阻均是相同的。根据这一点，可使用开路测量电阻的方法来判别集成电路的好坏。　　在检测时，万用表拨至R×100Ω挡，红表笔固定接被测集成电路的接地引脚，黑表笔依次接其

2、他各引脚，如下图所示，测出并记下各引脚与接地引脚之间的电阻，然后用同样的方法测出同型号的正常集成电路的各引脚对地电阻，再将两个集成电路各引脚对地电阻一一对照，如果两者完全相同，则被测集成电路正常，如果有引脚电阻差距很大，则被测集成电路损坏。在测量各引脚电阻最好用同一挡位，如果因某引脚电阻过大或过小难以观察而需要更换挡位时，则测量正常集成电路的该引脚电阻时也要换到该挡位。这是因为集成电路内部大部分是半导体元件，不同的欧姆挡提供的电流不同，对于同一引脚，使用不同欧姆挡测量时内部元件导通程度有所不同，故不同的欧姆挡测同一引脚得到的

3、阻值可能有一定的差距。　　　　采用开路测电阻法判别集成电路好坏比较准备，并且对大多数集成电路都适用，其缺点是检测时需要找一个同型号的正常集成电路作为对照，解决这个问题的方法是平时多测量一些常用集成电路的开路电阻数据，以便以后检测同型号集成电路时作为参考，另外也可查阅一些资料来获得这这方面的数据，下图是一种常用的内部有四个运算放大器的集成电路LM324，下表中列出其开路电阻数据，测量使用数字万用表200kΩ挡，表中有两组数据，一组为红表笔接11脚（接地脚）、黑表笔接其他各脚测得的数据，另一组为黑表笔接11脚、红表笔接其他各脚测

4、得的数据，在检测LM324好坏时，也应使用数字万用表的200kΩ，再将实测的各脚数据与表中数据进行对照来判别所测集成电路的好坏。　　　　　　2.在路检测法　　在路检测法是指在集成电路与其它电路连接时检测集成电路的方法。　　（1）在路直流电压测量法　　在路直流电压测量法是在通电的情况下，用万用表直流电压挡测量集成电路各引脚对地电压，再与参考电压进行比较来判断故障的方法。　　在路直流电压测量法使用要点如下：　　①为了减小测量时万用表内阻的影响，尽量使用内阻高的万用表。例如MF47型万用表直流电压挡的内阻为20kΩ/V，当选择10

5、V挡测量时，万用表的内阻为200kΩ，在测量时，万用表内阻会对被测电压有一定的分流，从而使被测电压较实际电压略低，内阻越大，对被测电路的电压影响越小，MF50型万用表直流电压挡的内阻较小，为10kΩ/V，使用它测量时对电路电压影响较MF47型万用表更大。　　②在检测时，首先测量电源脚电压是否正常，如果电源脚电压不正常，可检查供电电路，如果供电电路正常，则可能是集成电路内部损坏，或者集成电路某些引脚外围元件损坏，进而通过内部电路使电源脚电压不正常。　　③在确定集成电路的电源脚电压正常后，才可进一步测量其它引脚电压是否正常。如果

6、个别引脚电压不正常，先检测该脚外围元件，若外围元件正常，则为集成电路损坏，如果多个引脚电压不正常，可通过集成电路内部大致结构和外围电路工作原理，分析这些引脚电压是否因某个或某些引脚电压变化引起，着重检查这些引脚外围元件，若外围元件正常，则为集成电路损坏。　　④有些集成电路在有信号输入（动态）和无信号输入（静态）时某些引脚电压可能不同，在将实测电压与该集成电路的参考电压对照时，要注意其测量条件，实测电压也应在该条件下测得。例如彩色电视机图纸上标注出来的参考电压通常是在接收彩条信号时测得的，实测时也应尽量让电视机接收彩条信号。　

7、　⑤有些电子产品有多种工作方式，在不同的工作方式下和工作方式切换过程中，有关集成电路的某些引脚电压会发生变化，对于这种集成电路，需要了解电路工作原理才能作出准确的测量与判断。例如DVD机在光盘出、光盘入、光盘搜索和读盘时，有关集成电路某些引脚电压会发生变化。　　集成电路各引脚的直流电压参考值可以参看有关图纸或查阅有关资料来获得。下表列出了彩电常用的场扫描输出集成电路LA7837各引脚功能、直流电压和在路电阻参考值。　　　　（2）在路电阻测量法　　在路电路测量法是在切断电源的情况下，用万用表欧姆挡测量集成电路各引脚及外围元件的

8、正反向电阻值，再与参考数据相比较来判断故障的方法。　　在路电阻测量法使用要点如下：　　①测量前一定要断开被测电路的电源，以免损坏元件和仪表，并避免测得的电阻值不准确。　　②万用表R×10kΩ挡内部使用9V电池，有些集成电路工作电压较低，如3.3V、5V，为了防止高电压损坏被测集成电路，测量