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1、一米测长机相关基础知识李云琼2012.11.16目录一、用途二、仪器规格、结构及主要参数三、使用和操作方法四、维护保养一、用途投影一米测长机是精密度较高的光学机械长度计量仪器。可对各工件作内外尺寸直接测量、比较测量及外螺纹的中径测量。二、仪器规格、主要参数及结构(一)、规格、主要参数1、测量范围(mm)外尺寸(用大小顶针时):0~1000内尺寸(用大小测钩时,深度从5~50):13.5~900外螺纹中径测量:至M1402、最小分划值:0.001mm3、尺寸直接测量:(1)、微米分划尺的示值误差限:±60μm范围内
2、±0.20μm超过±60μm范围内±0.25μm(2)、毫米分划尺的示值误差限≤±(0.6+L/200)μm(3)、分米分划尺的示值误差限≤±(0.5+L/100)μm(备注:其中L为测量值,单位为mm)4、测量轴示值不稳定性(1)0~0.1mm范围内,外尺寸测量时测量轴示值不稳定性0.1μm(2)内尺寸测量时测量轴示值不稳定性0.5μm(二)、结构由底座、头架组、尾架组、万能工作台、V型支架、内测装置、外螺纹中径测量装置等组成。底座头架组尾架组万能工作台内测装置三、使用及操作方法(一)、测帽的选择和调整本投影测
3、长机是用接触法测量的,所以测帽的选择和调整可以避免较大的测量误差。测帽选择的原则是被测件与测帽的接触面为最小,即接近于点或线。1、测量平面物体时,使用R20球形测帽;2、测量圆柱物体时,使用1.5*8刃形测帽;3、测量球形物体时,使用φ2、φ8平面测帽;4、三针法测量外螺纹中径时,使用φ8、φ14,中、大平面测帽。(二)、测帽的调整球形测帽、刃形测帽、平面测帽都可用下述方法进行调整:一对测帽分别装在尾管和测头上,并使两测帽互相接触,与此同时在投影窗里看到微米分划板的像,调节尾管十字方向驻螺中的一对测帽分别装在尾管
4、和测头上,并使两测帽互相接触,与此同时在投影窗里看到微米分划板的一个,使像自左向右或自右向左移动,并在某一个位置改变其运动方向,于是将驻螺钉停留在这个通常所谓“转折点”的地方,用同样方法调节驻螺中另一螺钉,通过上述调整,测帽在水平和垂直方向彼此平行就可以了。(三)、仪器零位的调整1、粗定位将头架组移至100mm金属分划尺的零刻线处,将尾架组移至900mm金属分划尺的零刻线处,应使《分米尺》的标记落在毫米投影窗居中位置。2、套线转动锁紧手轮,将头架组锁紧在测微杆上,再转动微动手轮,进行套线瞄准。3、微米对零松开十字
5、胶木旋扭,粗动尾管,让其与测量头良好接触,再用旋扭将尾架固定,旋动微动螺丝,让微米分划板的零刻线瞄准指标线(虚线),调整测帽,使两个测帽在水平和垂直方向彼此平行,再旋动螺线让微米分划板的零刻线瞄准指标线(虚线)。(四)、被测件的安放和装夹被测件的安放和装夹是否正确,直接影响测量结果,为了避免测量误差,在被测件安放时,要利用万能工作台或V型支架各向可能的运动寻找被测件在测量时的正确位置,即所谓的找“转折点”外尺寸测量时寻找测量最小值,内尺寸测量时寻找测量最大值。被测件在装夹时,应使被测件变形最小,因而要充分地利用附
6、件,合理地选支承点,长量块应使用量块架或用万能工作台和V型支架的组合、长量棒和V型支架支承。(五)、用一米测长机测量内尺寸(主要是孔径),需注意以下几点:1、为了减少测钩的倾斜测量误差,在装夹测钩时水平和垂直方向一定要调好,在装夹测钩时,两测钩尽量与水平方向相垂直,最简单的方式就是人站在一米测长机尾端直接用眼睛瞄准,偏多少就可以一目了然,很快就可以装夹好了。在装夹测钩时,左边的测钩放进右边的测钩槽内,这样才能保证在水平方向与测量轴线相平行。2、另外,在装夹右边测钩时,与光管接触时,尽量将螺钉压在槽的中部,过多过少
7、都不好,因为要保证一定的测量力,并拨动拨叉,看微米投影窗是否有光标刻度,有时螺钉压得太多,拨动拨叉,在微米投影窗并不能看到光标刻度,这时就要重新调节,这可解决后续对标准时始终找不到转折点的原因了。3、在用一米测长机测量孔径时,需要用标准环规(或组合量块)作为基准,然后再测量工件的孔径。在测量孔径时,注意尾架对准标尺100的位置上(这点与测量外尺寸有所不同,外尺寸是对到0位),然后观察光标刻度是否清晰,如果不清晰可以调整后边的灯泡的亮度,如果毫米投影窗内光线较暗,将会影响套线误差,测量结果的重复性误差就会较大,最大
8、可能会2个微米读数误差,这在测量过程中需要注意的。4、在对标准环规时,先定义标准环规的理论值(选取的标准环规值尽量接近所测工件的孔径,这样可以减少测头倾斜引起的示值误差;另需要注意的是微米窗公差带为±0.1mm),然后测量工件。在对标准环规时,将头架移到环规的整数值,如为29.901那么移到29.9(即在毫米投影窗套线29.9),锁紧螺钉固定不动,移动左边光管将测钩接触到
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