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时间:2018-10-09
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1、EN55024-2010forESD讲解范围此法规适用于CISPR22定义的ITE设备。频率范围0Hz到400GHz.3.定义3.1Degradation由于电磁干扰使得EUT出现不希望的改变3.2EUT受测设备,可以是独立得或者包含若干个单元的系统3.3ITE以下设备:主要功能用于数据的输入,存储,显示,纠正,传输,处理,交换,控制;可配置一个或多个终端。电压不超过600V.可包括数据处理设备,办公设备,电子商业设备。4.2ESD/EN55024ESD应对设备在正常使用期间可能被触及到的点或面施加,包括在用户使用手册中规定的部位,如:更换色带和更换纸卷时用户可能触及
2、到的部位。测试的点由EUT决定,具体参考IEC61000-4-28.3.1和A.5。当选择测试点的时候,特别注意键盘,刻度盘,电源开关,鼠标,仪器缝隙,卡的缝隙,通信口的周边等。4.2ESD/EN55024应通过两种方式进行放电:a)对导电表面和接触面的接触放电应进行200次放电,正负各100次,至少选择4个点。台式设备至少一个点对于水平耦合板的中心,也就是至少50次用于间接放电。其余的点中至少有50次用于直接放电。所有接触到的点都要被测到。对不能直接接触到的点,至少进行200次间接放电(用VCP)。接触放电使用较低的电压等级。b)对孔和缝,绝缘面进行空气放电4.2E
3、SD/EN55024应通过两种方式进行放电:b)对孔和缝,绝缘面进行空气放电当对EUT的某些部位无法进行接触放电时,应对设备进行研究并辨别使用者容易接触且容易出现故障的点,如:按键边缘的缝隙,或键盘和电话手柄的缝隙.这些部位应按空气放电方式进行试验.4.3ESDlimit/EN55024CopyfromTestspecificationUnitsPerformanceCriterionRemarkEN550244(contactdischarge8(airdischarge)kilovoltageBEnclosureport4.3ESDlimit/ENG0002340
4、Table6.1ESDTestingCriteriaAirDischarge(R2)SeverityLevelLevelAcceptanceCriteria12kVB24kVB38kVBDellRequirement12kVBDellRequirement15kVCTable6.1ESDTestingCriteriaContactDischarge(R2)SeverityLevelLevelAcceptanceCriteria14kVBDellRequirement6kVBDellRequirement8kVC4.3ESDlimit/ENG0002340Table6.
5、1ESDTestingCriteriaAirDischarge(R1)SeverityLevelLevelAcceptanceCriteria12kVB24kVB38kVBDellRequirement12kVCTestDataonly15kVNoneTable6.1ESDTestingCriteriaContactDischarge(R1)SeverityLevelLevelAcceptanceCriteria14kVBDellRequirement6kVCTestDataonly8kVNone4.3ESDlimit/ENG0002340Table6.1ESDTes
6、tingCriteriaAirDischarge(R0)SeverityLevelLevelAcceptanceCriteria12kVB24kVB38kVBTable6.1ESDTestingCriteriaContactDischarge(R0)SeverityLevelLevelAcceptanceCriteria14kVB4.3ESDlimit/ENG0002340说明R0;R1;R2LEVELR0:所有DELL产品必须满足的要求。LEVELR1:满足R0要求以及以下要求--EMC-ESD:DirectPinUSB+/-1kV(测试和报告到+/-2kV),NI
7、C,Batteryportandaudio+/-2kV,AgileM6403--EMC-ESD:ChargedDocking,+/-8kVCriteriaB,AgileM6403--EMC-immunity:systemimmunitytowirelessGSMCriteria,AgileMC200--General:suppliercomprehensiveongoingregulatoryevaluation(SCORE),,AgileENG00066824.3ESDlimit/ENG0002340说明R0;R1;R2LEVELR2:满足R0和R
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