技术参数要求

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1、技术参数要求设备一：X射线荧光光谱仪1、主机检测性能和要求：波长色散型荧光光谱仪，用于金属材料、非金属材料、块状样品、玻璃熔片样品、粉末压片样品、松散粉末样品、液体样品、不规则样品等定性、定量及无标样定量分析，分析元素范围为元素周期表8O-92U之间的元素，含量范围为ppb-100%。仪器应包括X光管、高压发生器、测角仪、分光系统、探测器、自动进样器、氦气冲洗系统、计算机控制的真空封挡装置、计算机、数据处理软件及其它的相关附件和装置。2、仪器技术参数2.1测量方式：顺序扫描式2.2分析元素范围：8O—92U2.3含量范围：ppb到100%*2.4自动

2、进样器：70位以上X-Y二维全自动机器人进样器，配50个34mm开口直径原装进口样品杯，能自动辨别液体、固体。配5个用于大气颗粒物分析的无背景散射样品杯，与大气颗粒物软件配套。2.5高压发生器：2.5.1最大功率≥4kW；最大电压≥60kV，20-60kV间1kV连续可调；*2.5.2最大电流≥170mA,5-170mA间1mA连续可调。2.5.3稳定性：外电源波动±1%时，输出波动为≤±0.00005%。2.6X射线光管：*2.6.1类型：采用低温设计端窗Rh靶陶瓷光管,Be窗厚度75μm*2.6.2最大功率及电压、电流：≥4kW，≥60kV，≥1

3、70mA*2.6.3照射方式：下照射，样品分析面朝下，能直接分析液体样品。2.7测角仪：*2.7.1角度准确度：≤±0.001°*2.7.2角度再现精度：≤±0.0001°*2.7.3定位方式：θ/2θ分别驱动，光学定位，无机械磨损。2.8探测器：F-PC及SC，全真空扫描计数率线性：SC：大于1.5×106cpsF-PC：大于3×106cps2.9配置LiF200、PET、XS-55多层膜分光晶体用于O-Mg之间元素分析。2.104位准直器：配细准直器、通用准直器、粗准直器2.11光谱室温度稳定性：±0.05℃。*2.12原位测量及配置真空封挡装置

4、。在测量液体及松散粉末样品时，样品不需要在光谱室内转换位置，保证样品的安全性。能够在样品室与光谱室间插入一程序控制的真空封挡,使只有样品室冲洗氦气，光谱室始终保持真空状态，以便起到保护光谱室、节约氦气消耗、增加探测器稳定性和分析重现性的作用。在测量过程中，真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室，防止污染光谱室。2.13Be隔离膜用于光管的保护，测量液体样品或粉尘样品防止损坏或污染光管。*2.14自动交换污染防护屏：配有自动交换的污染防护屏，用于在样品装载及样品室抽真空过程中保护测角仪、准直器、晶体及探测器等部件2.15液体样品杯1000

5、个，麦拉膜200米，prolene膜90米。2.16计算机控制系统与操作系统：双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制，保证操作简单而无失误，即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等，通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制，即使一台出现问题，也不影响测量工作。触屏控制计算机配置：优于Windows7操作系统(64位）,四核3.6GHz,8G内存,500G硬盘,8倍DVD/+-RW可擦写光驱,512MB显卡,24'LED显示器,键盘,鼠标,网卡。配置可备份数据的移动硬盘（2TB）及高性能激光打印机。

6、2.17软件：定性、定量及无标样分析软件，并包含以下功能：全自动安装与校准系统；光谱仪及进样器状态的实时、动态图形显示；网络及数据传输；自诊断及远程诊断。中文操作软件，软件免费升级保证。2.17.1定性分析：能够高分辨显示样品谱图，具有自动背景扣除与平滑功能，自动寻峰以及元素识别。2.17.2定量分析软件：具有分析曲线的自动导航；软件的智能系统提供测量参数的最佳条件；自动校正谱线重叠干扰；采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行全面的集成的基体效应修正（变动理论Alpha系数法）；灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息；分析结果超出警戒

7、线会自动显示与报警等功能。2.17.3无标样定量分析软件：在没有标准曲线的情况下对完全未知的各类样品进行自动定量分析，可以采用扫描模式进行无标样分析，也可以采用峰/背比测量模式。*2.17.4提供大气颗粒物分析软件，同类型仪器在国内大气颗粒物分析使用案例5个以上（提供用户名单，以便核实）。*2.18质量及安全标准：ISO9001&EN29002质量认证，CE机械安全认证，DIN54113射线防护认证。*2.19波长色散荧光光谱仪在环境监测有5个以上用户，土壤解决方案。3．辅助配置设备3.1水冷机：国产8kW制冷量分体式外部水冷机1台3.2磨样机：国产

8、自动磨样机一台，配100cc碳化钨磨盘1个3.3压片机：国产40吨自动压片机一台，压样模具1套。（与进样杯配