drl-ⅲ导热系数测试仪

《drl-ⅲ导热系数测试仪》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在工程资料-天天文库。

1、DRL-Ⅲ导热系数测试仪（热流法）使用说明书湘潭市仪器仪表有限公司地址：湖南省湘潭市潭邵路519号邮编:411100电话：0731-5855958858559275传真：0731-58559788http://www.xtyq.cnE-mail：xtyqyb@163.com14一、概述本仪器主要测试薄的热导体、固体电绝缘材料、导热树脂、氧化铍瓷、氧化铝瓷等细小材料的热阻以及固体界面处的接触热阻和材料的导热系数。检测材料为固态片状，加围框可检测粉状态材料及膏状材料。仪器参考标准：MIL-I-49456A（绝缘片材、导热树脂、热导玻纤增强）；GB5598-85（氧化铍瓷导热系数测定方法）；

2、D5470-95（薄的热导性固体电绝缘材料传热性能的测试标准）等。仪器特点：自动加压，自动测厚，实验全自动控制。6点温度梯度检测，提高测试精度。可检测不同压力下热阻曲线，采用优化的数学模型，测量材料导热系数和热阻以及界面处接触热阻等。广泛应用在大中院校，科研单位，质检部门和生产厂的材料分析检测。二、主要参数1．试样大小：≤Φ30mm2．试样厚度：0.02-20mm3．热极控温范围：室温-99.99℃4．冷极控温范围：0-99.0℃5．导热系数测试范围：0.05～45W/m*k6．热阻测试范围：0.05～0.000005m2*K/W7．压力测量范围：0～1000N8．位移测量范围：0～3

3、0.00mm9．测试精度：优于3％10．实验方式：a、试样不同压力下热阻测试。b、材料导热系数测试。c、接触热阻测试。d、铝基板（铜基板）热阻测试。11．计算机全自动测试，并实现数据打印输出。14三、测量装置简介仪器主要由热流测试头、试样厚度测量系统、压力测量系统、电动加压系统、数据测控系统、冷却恒温水槽、计算机系统组成。热流测试头由加热器、连接样品的上下热极、冷却器、测量热电偶、保温套组成。加热器采用黄铜材料加工而成，内装内热式加热器，由高精度数显温控表控温，提供稳定的热极温度。上下热极由纯铜制成，表面安装有热电偶，热极的作用是传递热量和测量热量。冷却器也是黄铜材料加工而成，内有水槽

4、，通过管导与外恒温水槽相连，利用外恒温水槽与冷却器的水循环，在冷却器中形成第二恒温场，提供下热极冷端稳定温度。测量热电偶由6支组成，分别测量上下热极表面的6个温度点，利用温度梯度计算热流量。试样测厚装置由位移传感器和数字显示仪表组成，可实时检测试样厚度。压力测量系统由压力传感器和数字显示仪表组成，可实时检测试样压力。电动加压系统由电机、直线减速机、电子调速器和控制电路组成，实现自动加压和卸载。计算机系统完成数据采集、数据处理、仪器控制，实现全自动测试。四、仪器安装1、连接好恒温水槽与测试主机的水管，并用管卡卡紧，在恒温水槽中加满水。2、连接好电脑连线，仪器与电脑通信线，所有电源连线。3

5、、在计算机中安装MicrosoftofficeExcel和MicrosoftofficeAccess，再安装DRL导热系数测试软件，如需打印报表还要安装打印机。4、调节仪器的地脚螺丝，使上下测试杆同轴。14五、数据处理1、样品的直径和高度2、热极的直径3、热电偶T1和T2以及T3和T4之间距离4、上热极平均温度按照热偶T1和T2测定的温度值t1和t2计算：t1+t2————25、样品的平均温度是通过测量T2和T3热电偶的温度值t2和t3计算：t2+t3————26、按下式计算导热系数：Acuλcu(t1-t2)Lsλs=——·——————————————————AsL1(t2–t3)–

6、L2［(t1–t2)+(t3–t4)］式中：λs——测定样品的导热系数W/m·k；14λcu——铜热极平均温度的导热系数W/m·k；Acu——垂直于热流方向的热极截面积m2；As——垂直于热流方向的样品截面积m2；t1和t2——热电偶1和2的温度K；t3和t4——热电偶3和4的温度K；Ls——样品的长度m；L1——热电偶1和2之间的距离m；L2——热偶2和上热端面之间的距离m；导热系数用3位有效数字表示。7、热流的计算应使用热流计，计算流过热流计的热流公式如下：(λR·A)Q=————·[T1-T2]dQ——热流，单位W；λR——热量计材料的导热；A——热量计的面积M2；T5-T6——

7、热量计两个热电偶的温差；d——热量计两温差电偶的距离；8、与试样相接触的高测量块的温度计算公式：dBTA=T2-———·(T1-T2)dATA——与试样相接触的高测量块的温度，KT1——高测量块的较高温度,KT2——高测量块的较低温度,KdA——高温传感器间距,mdB——低位传感器到高测量块低表面的距离,m9、与试样相接触的低测量块的温度计算公式14dDTD=T3+———·(T3-T4)dCTD——与试样接触的低测量块的温度,kT3——低位测量