数字实验讲稿讲稿

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1、哈尔滨理工大学自动化学院电子科学中心数字电子技术实验课讲稿18实验一TTL逻辑门电路功能测试一、通过本次实验大家应该了解如下情况：1、集成电路的种类。目前广泛使用的为TTL门电路和CMOS门电路。（1）TTL门电路TTL门电路它是由双极型数字集成电路——是由三极管和二极管等组成。我们现在使用的是74LS系列的，这种片子功耗小，速度方面比较快。74系列的门电路有很多种，如最开始有74H、74S等，它们在工作中都存在功耗和速度的问题，这在课堂上老师都给大家讲过了，那么还有其他TTL电路系列的如54、5

2、4H、54S、54LS它与74系列的结构和性能等参数是完全相同的，所不同的是54系列比74系列的工作温度范围更宽，电流允许的工作范围也更大。要注意在不同系列的TTL器件中，只要器件型号的后几位数码一样，则它们的逻辑功能，外形尺寸，引脚排列则完全相同。（2）CMOS门电路（3）TTL与CMOS的比较CMOS电路中没有电阻，集成度高，静态功耗小，噪声容限可通过提高电源电压来实现。但TTL们经济耐用。2、如何使用集成电路。（1）集成电路的类型一般分为扁平式和双列直插式。扁平式的集成度高，管教个数多，缺点

3、是手工不易焊接。双列直插式集成度低，但便于修理。3、数字实验中经常使用的仪器。（1）数字实验箱实验箱中有芯片区，开关区，数码指示去，电流区，元件区。注意：电流的调整、芯片插放的位置、不要随便拔插芯片、要先接线后给电源。（2）示波器在做计数器、555定时器实验中使用。（3）万用表890D型号，3.5位的。4、数字实验中应注意的问题。（1）首先每次课前要预习。（2）上课前要点名。（3）不能随便串位子。（4）不能随便搬动实验室的仪器。二、实验内容：1、实验目的：（1）熟悉TTL组成的各种门电路的逻辑功能

4、及测试方法。（2）熟悉万用表的使用方法。2、实验设备：（1）SAC—DS4数字逻辑实验箱（2）数字万用表（3）器件：74LS20双四输入与非门74LS02四二输入或非门1874LS51双2-3输入与或非门74LS86四二输入异或门74LS00四二输入与或门1、实验步骤：（1）、与非门逻辑功能测试用74LS20双四输入与非门进行实验。按图1接线测试，按表1要求用开关改变输入端A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表，把测试结果填入表1中，写出输出逻辑表达式。图1表1输入输出电压（v）输出逻辑状态AB

5、CD00003.25100013.25100103.25100113.25101003.25101013.25101103.25101113.25110003.25110013.25110103.25110113.25111003.25111013.25111103.25111113.250四个输入端，每一输入端有两种输入状态，24=16，即共有16种状态，按8421码顺序填写与非门，只要输入端任意一端有“低”电平输入，输出就是“高”电平。只有输入端全是“1”输入，输出才是“0”。接线时注意输入信

6、号接实验箱上的K0——18K15任意一个，输出信号接实验箱上的L0——L15任意一个。（2）、或非门逻辑功能测试用74LS02二输入四或非门进行实验。按图2接线测试，按表2要求用开关改变输入量A、B的状态，借助指示灯和万用表观测各相应输出端F的状态，并将结果填入表2中。图2表2输入输出电压（V）输出逻辑状态AB003.251010010001100从实验结果可见只要输入端有“1”输出就为“0”，只有当输入端全为“0”输出才为“1”。（3）、与或非门逻辑功能测试用74LS51双2-3输入与或非门进行

7、实验。按图3接线测试，按表3要求开关改变输入端A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表观测各对应输出端F的状态，把测试结果填入表3中。图3表3输入输出电压（V）输出逻辑状态18ABCD00003.25100013.25100103.25100110001003.25101013.25101103.25101110010003.25110013.25110103.251101100110000110100111000111100只有当其中一个“与”输入端同时为“1”是输出端才为“0”。同时为“1”即

8、与的输入端的输入信号都为“1”时。（4）、异或门逻辑功能测试图4用74LS86二输入四异或门进行实验。按图4接线测试，按表4要求用开关改变输入量A、B的状态，借助指示灯和万用表观测各相应输出端F的状态，并将结果填入表4中。表4输入输出电压（v）输出逻辑状态AB0000013.251103.2511100由实验结果可知只有两个输入信号不相同时，输出为“1”，两个输入信号相同时，输出为“0”。（5）、利用74LS00与非门实现“与电路”、“或电路”、“或非电路”、“异或电路”，画出逻辑