基于位移传感器的折射率测量系统

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5、及代码：长春理工大学(10186)学科专业名称及代码：光学工程(0803)研究方向：现代光学技术及工程应用申请学位级别：硕士指导教师：向阳教授研究生：侯利杰论文起止时间：2011.9—2012.12摘要对折射率的检测是提高光学仪器质量的前提，是研究光学系统成像质量的重要参数。本文设计了一种新的测量折射率的方法和装置，基于光学成像原理，利用光学平板成像规律，找到待测折射率与系统光学元件的调焦量的关系，将传统的折射率与角度的关系转变为折射率与轴上位移的关系。测量方法简化，非接触测量，是集光、机、电、算于一体的高性能精密测量仪器，

6、本文首先介绍了折射率测量系统的工作原理，并用Zemax软件设计了光学系统。本文采用三片式摄影物镜系统，有效焦距f为45mm，F数为4，全视场角为8°，采用1/3inchCCD作为图像接受器件，像元尺寸为6.35um×6.35um,根据仪器的使用特点，光学系统满足使用要求。接下来对精密机械机构进行了详细的阐述，并给出了设计结果，最后进行了误差精度分析，系统的精度达到了0.00885mm，满足仪器的使用要求。关键词：折射率光学系统误差ABSTRACTTherefractiveindexofthedetectionisimprov

7、ingtheopticalinstrumentqualityonthepremise,anditistheresearchoftheimportantparametersoftheimagingqualityoftheopticalsystem.Thispaperdesignsanewrefractiveindexmeasurementmethodanddevice,anditisbasedontheprincipleofopticalimaging,usingofopticalflatpanelimagingrule,fi

8、ndingtherelationshipbetweenthemeasuredindexofrefractionandsystemopticalcomponentsoffocusingamount,therelationshipofthetraditionalrefractiveindexa