资源描述：
《超大规模集成电路测试技术》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在学术论文-天天文库。
1、第32卷第6期中国测试技术Vol.32No.62006年11月CHINAMEASUREMENTTECHNOLOGYNov.2006超大规模集成电路测试技术朱莉,林其伟(华侨大学信息学院物理电子学系,福建泉州362021)摘要:随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术的发展趋势。关键词:测试生成算法;自动测试矢量生成;可测性设计;内建自测试;存储器测试;静态功耗电流中图分类号:TP29文献标识码:A文
2、章编号:1672-4984(2006)06-0117-04VLSItesttechniqueZHULi,LINQi-wei(DepartmentofInformation,HuaqiaoUniversity,Quanzhou362021,China)Abstract:Withrapiddevelopmentofthesystemintegrationandprocesstechnology,itismoreandmoredifficulttotesttheVeryLargeScaleIntegration(VLSI)circuits.Thetheoryandtechnologyofth
3、etestinghasbecomeoneofthemainaspectsinVLSI.ThispapercomprehensivelyintroducedvariousVLSItestingapproaches,andanalyzedadvantageanddisadvantage.Atlast,theauthorsalsoforecastedthedevelopingtrendoftheVLSItestingtechnology.Keywords:Testalgorithms;ATPG;DFT;BIST;Memorytesting;IDDQ1引言类型:(1)特性测试(验证测试):这种
4、类型的测试在随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大生产之前进行,目的在于验证设计的正确性,并且规模集成电路(VLSI)测试已经成为一个越来越困器件要满足所有的需求规范。需要进行功能测试和难的问题。先进的技术使得人们能以合理的成本快全面的AC/DC测试。(2)生产测试:不考虑故障诊速设计和制造非常复杂的电路,随着产品成本的降断,只做通过、不通过的判决。主要考虑的因素是测低,总成本中测试所占的比重不断增加。为了控制试时间即成本。(3)老化测试:在实际应用中,通过成本,测试工程师在不断改进和组合各种测试方测试的芯片有些很快失效,有些则会正常工作很法。但在实际中,VLSI测试技术的发展总是远
5、远落久,老化测试就是通过一个长时间的连续或周期性后于设计与制造的发展。一则,ATE(自动测试设备)的测试使不好的器件失效,从而确保通过老化测试的发展很难跟得上芯片的发展步伐(系统时钟、信后的器件的可靠性。(4)成品检测:在将采购的器件号精度、存储数据量等);再则,高性能ATE的价格集成到系统之前,系统制造商进行的测试。将令人望而却步。因此,我们还可以选择另一个途3测试方法径,即要求设计工程师在设计电路时就考虑测试的3.1测试图形生成方法复杂性,设计易于测试的电路,以降低测试的难度,在生产阶段,为了尽可能防止有缺陷或故障即可测性设计技术。的芯片流入市场,而需要对它们进行的检查。它需2测试
6、的基本原理要由测试人员利用测试仪对芯片施加激励并分析测试的基本原理是:从输入端施加若干激励信其响应,来判断芯片是否存在故障。施加什么样的号,观察由此产生的输出响应,并与预期的正确结激励,可以使故障激活,同时能在输出端测量出来果进行比较,一致就表示系统正常,不一致则表示是测试的核心问题,自动测试图形生成算法就是系统有故障。显然,测试电路的质量依赖于测试矢要研究和解决如何加最少的测试矢量达到较高的量的精度。故障检测效果。超大规模集成电路的测试生成算根据测试的具体目的,VLSI测试可以分为4种法不仅用于集成电路的测试生成和故障诊断,而收稿日期:2005-12-12;收到修改稿日期:2006-
7、02-27且可以用于印刷电路板的光板测试和加载板测118中国测试技术2006年11月试,同时它也是集成电路自动测试设备的核心技级的测试。为了使测试经济,芯片级测试必须采用术之一。存储器故障模型进行。存储器阵列测试也用于测试传统的自动测试图形生成算法大都是针对门芯片选择和控制逻辑。存储器板级测试必须测试存级的。从1959年Eldred开始了结构逻辑电路测试储器阵列、刷新逻辑、错误检测和纠错逻辑、板选择时代起,至今为止,门级自动测试图形生成算法已器
