SJT10143-1991固体电介质微波复介电常数测试方法重入腔法.pdf

《SJT10143-1991固体电介质微波复介电常数测试方法重入腔法.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、免费标准下载网(www.freebz.net)SJ中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T10142一10143-91电介质微波复介电常数的测试方法1991一04-02发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布免费标准下载网(www.freebz.net)无需注册即可下载免费标准下载网(www.freebz.net)中华人民共和国电子工业行业标准固体电介质微波复介电常数测试方法SI/T10143-91蚕人腔法本标准规定了固体电介质徽波复介电常数的“重入腔”侧试方法。本方法适用于射频、徽波固体电介质复介电常数的测量。适用频率范围:f=(100-1000)MHz,测试范围:d<20

2、tand.=2X10-4~2X10-方法原理重人式腔是电容加载式同轴谐振腔的变形。图1所示是一个电容加载式同轴谐振腔，其谐振频率决定于腔长和间除电容C,间隙距离改变时，间隙电容C变化，谐振频率变化;当间隙距离不变，但其中介质改变时，间隙电容C也变化，谐振频率随之变化。间晾电容c辐入图1电容加载式同轴谐振腔设间隙中充空气时，谐振腔的谐振频率为fo，当一个圆盘形介质片放入间隙中时，谐振腔失谐，这时保持信号频率不变，调内导体，改变间隙距离可使谐振腔恢复谐振。内导体的位移量与介质试样的介电常数。有关，:越大，放人样品后，间隙电容增加量越大，为了恢复谐振，内导体的位移量就越大。根据样品厚度，放人介质前后

3、内导体的位移量和谐振腔品质因数的变化就可以算出介电常数。重入式腔是把端面间隙电容C，移到内导体的中间一些，其结构示于图2。上内导体可调，下内导体靠近电容间隙处，附加一个微调电容C-中华人民共和国机械电子工业部1991-04-02批准1991-07-01实施一12一免费标准下载网(www.freebz.net)无需注册即可下载免费标准下载网(www.freebz.net)SJ/T10143-91信号输入图2重入式腔结构示意图当腔中无样品时，微调电容放在一定的初始值(M^-f定标时所放的”。位置)，调至测微器使谐振腔谐振，这时主测微计读数为Mo,谐振指示为lo,调微调测微计使谐振腔失谐到输出指示为

4、半功率点，在。。两边得到的半功率位置二，和，n:对应一定的频率，则谐振腔品质因数Qo值可知。放入样品后，由于样品的el使间隙电容和腔体损耗都改变了。调节主测微计使对原信号频率谐振，这时主测微器位置为M，谐振输出指示为1;。由这些参数就可以算出扩和tand=测试系统框图如图3所示:m9xHPAA4E,cl〕HA'T*AnH}Mxftat"1KAB&

5、免费标准下载网(www.freebz.net)SJ/T10143-91在100MHz-1000MHz宽的频率范围内，通常可以用四个腔体覆盖，用户可按要求选用.2.2.1谐振腔的尺寸2.2.1.1内导体平行板电容器受高频场激发时，横向电压符合贝塞尔函数分布，第一个零点符合公式(1),，.=(2.405A)/(2nI-T)....................................(1)为使内导体间隙中为均匀场，内导体的半径应小于0.1r,。由此得内导体直径应小于76X10-'A/,厂于。这里A为中心频率的波长，单位为cm,2.2.1.2外导体内径D=(3-3.6)a式中:d—内导体直

6、径，mm,2.2.1.3腔长约为A/s,2.2.2间隙电容谐振腔应设计成大电容加载式同轴谐振腔。端面电容e由主测微器带动中心导体的移动而改变。上、下内导体两端面的平行度小于0.Olmm,上、下端内导体同心度小于。.02mm,主测微器既对频率刻度，还对电容刻度，以得到计及边缘效应的内导体增量A，得出M-f和M-A对照表。这里M是主测微器刻度。2.2.3微调电容下内导体上方开一个侧向圆孔，位于腔体右侧的微调测微计推动金属杆在孔内移动就构成微调圆柱电容器Cp,此微调电容器对频率刻度，作出主测微器在不同位置M(不能少于15点)时，微调测微器读数二与频率了之间的关系曲线，实际上每一个位Pi时的、-f是一

7、根直线这就可以得到每一位置M时对应的。-f线的斜率Ii，这就是M-K对照表。2.2.4藕合机构输入、输出辆合均用环辆合，它们对谐振腔呈弱藕合，两环之间不产生直接祸合。2.2.5对重入腔主要参数的要求品质因数:2000^-2500;主测微器分辨率:。.002mm,附录A给出一个中心频率为450MHz的腔的参数，供参考。2.3功率指示器(或平方律检波器)指示器灵敏度不低于一35dB;驻波比小于1.1,