ssrf首批光束线和实验站配置一览表

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1、SSRF首批光束线和实验站配置一览表l软X射线谱学显微光束线/实验站(BL08U1A)光源类型和参数椭圆极化波荡器EPU100，周期长度100mm，4.2米。样品处同步辐射光特性能量范围250-2000eV能量分辨3000@410eV,1500@1840eV样品处光通量≥108(phs/s)@410eV≥107(phs/s)@1840eV样品处光斑尺寸≤150nm实验站实验站设备主体STXM显微镜一台快速正比计数管、光电二极管湿样品槽二个（供湿样品用）工作站一台分析软件：NEXAFS分析软件、元素成分分析软件、三维图像分析。光学显微镜实验方法透射软X射线近边吸收谱分析（NE

2、XAFS谱）、光谱显微分析—空间、能量三维（x,y,E）扫描形态三维显微成像—空间三维（x,y,f）扫描。lX射线成像及生物医学应用光束线/实验站(BL13W1)光源类型和参数多极Wiggler，1.944T/16poles/14cm。样品处同步辐射光特性能量范围10-60keV能量分辨≤5×10-3样品处光通量1×109phs/s/mm2@20keV样品处光斑尺寸45mm(H)×5mm(V)@30m@20keV实验站实验站设备精密隔振平台、高分辨X射线CCD、多维样品台、精密导轨、电离室、快门、斩波器等。实验方法同轴相衬成像（IL-PCI）显微CT（MCT）衍射增强（DE

3、I）等lXAFS光束线/实验站(BL14W1)光源类型和参数多极Wiggler38极1.2T，周期长度80mm。样品处同步辐射光特性能量范围4～22.5keV能量分辨2×10-4Si(111)晶体@10keV样品处光通量≥2×1012phs/s(100mA)@10keV样品处光斑尺寸≤0.5×0.5mm2(H×V)实验站实验站设备32元Ge固体探测器、Oxford闭气路谱学电离室、Lytle荧光电离室、高低温原位设备(10K~1000K)、5维样品平台。实验方法透射XAFS、荧光XAFS、掠入射XAFS、时间分辨QXAFS、原位XAFS。lX射线衍射光束线/实验站(BL14

4、B1)光源类型和参数弯铁，电子能量3.5GeV，束流300mA，磁场强度1.27T，临界能量10.35keV，水平自然发射度3.9nmrad。样品处同步辐射光特性能量范围4-22keV能量分辨2×10-4@10keV样品处光通量2×1011phs/s样品处光斑尺寸(H)0.4mm×(V)0.4mm实验站实验站设备Huber5021型6圆衍射仪及相关附件、NaI闪烁体探测器、电离室、固体荧光探测器。实验方法粉末衍射(XRD)掠入射衍射/掠入射反常衍射(GID/GIXAD)反射率测量(XRR)倒易空间二维强度分布测量(RSMs)衍射异常精细结构(DAFS)l硬X射线微聚焦光束线

5、/实验站(BL15U1)光源类型和参数真空室内波荡器，周期数80，长度2m。样品处同步辐射光特性能量范围5-20keV能量分辨DE/E~2×10-4样品处光通量~6×1010phs/s@10keV，200mA样品处光斑尺寸≤3mm实验站实验站设备探测器：7元Si(Li)探测器，硅漂移探测器，成像用X射线CCD，电离室。样品台：7轴高精度电动扫描台，2维压电陶瓷扫描台。其他：样品对光显微镜，调光X-CCD。实验方法微束X射线荧光分析(m-XRF)：探测样品中微区元素含量和分布,2维，3维。微束近边X射线吸收精细结构(m-XANES)：特定元素的在样品中的化学种态。微束X射线衍

6、射、散射(需要借用X射线面探测器)表面分析实验方法、X射线成像。l小角散射光束线/实验站(BL16B1)光源类型和参数弯铁光源，电子能量3.5GeV；自然水平发射度3.9nm.rad；流强300mA；磁场强度1.27T。样品处同步辐射光特性能量范围5-20keV能量分辨≤6.0×10-4@10keV样品处光通量≥3×1011phs/s@200mA样品处光斑尺寸0.4×0.5mm@10keV实验站实验站设备一维广角气体探测器、一维小角气体探测器、成像板探测器、单色光狭缝、电离室系统、掠入射小角散射样品台、真空管道及支架系统等。实验方法小角散射同时广角和小角散射掠入射小角散射反

7、常小角散射l生物大分子晶体学光束线/实验站(BL17U1)光源类型和参数真空室内波荡器,周期长度为2.5cm,最小磁隙为6mm。样品处同步辐射光特性能量范围5~18keV能量分辨<2×10-4样品处光通量2×1012phs/s(12keV@200mA)样品处光斑尺寸150×50mm2(12keV)实验站实验站设备Mar225CCD探测器、MarDtb系统、荧光探测器、样品低温冷却装置（CryoStream700）显微镜、高性能计算机。实验方法生物大分子晶体结构测定多波长反常散射法(MAD)单波长反常散射法(SAD)