晶体光学思考题-1

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1、晶体光学思考题1、观察二轴晶矿物多色性的明显程度应选择哪种切面?为什么?2、什么是闪突起？在你实习过的透明矿物中那些矿物具有闪突起现象？3、简述矿物系统鉴定的步骤、切面选择及主要的观察内容。4、根据下表所列内容对比均质体光率体、一轴晶光率体和二轴晶光率体的特征。类别特征均质体光率体一轴晶光率体二轴晶光率体形态特征最大双折率主折射率光性判别光轴数目5.画图并说明二轴晶垂直Bxa切面干涉图的图像特点6.电气石为一轴晶负光性。试问：在平行电气石c轴的切面上，何为快光？在斜交电气石c轴的切面上，何为快光？7.在正交偏光系统下，放置一块非均质矿物切

2、片，旋转载物台，将出现干涉色或消光。现移去下偏光镜，让自然光直接射入该矿物切片。试问：旋转载物台，能否同样地观察到干涉色或消光？为什么？8.已知石英中光波平行c轴方向振动的折射率为1.553,垂直c轴方向振动的折射率为1.554,求该矿物的光符正负,最大双折率及垂直光轴切面上的双折率。9.已知方解石的No=1.658,Ne=1.486,求:(1)轴性、光性符号;(2)⊥光轴及//光轴切面的突起等级;(3)在哪个切面闪突起最显著。10.蓝刚玉Ne=1.762为浅绿色,No=1.770为深蓝色,求:(1)突起等级;(2)下降载物台时贝克线是向

3、树胶移动还是向刚玉移动;(3)最大双折射率;(4)轴性、光性符号。11.单偏光镜下能够观察矿物的哪些光学特征?12.已知角闪石两组解理的交角为56°和124°,为什么在薄片中测出的解理夹角可大于或小于上述角度?应选择什么方向的切面,才能测得真实的解理夹角?13.何谓多色性、吸收性?什么方向的矿物切面的多色性最明显?14.贝克线移动规律是什么?如何利用贝克线的移动规律来判断矿物折射率的相对大小?15.在薄片中矿物突起高低取决于什么因素?如何确定正突起和负突起?16.已知薄片厚度d=0.03mm,R=650nm,分别用“计算”和“查色谱表”的

4、方法求最大双折射率。17.光程差公式及影响干涉色高低的因素有哪些?18.水晶与玻璃在正交偏光镜下如何区别?19.什么是延性符号?如何测定?20.把云母试板放在偏光显微镜的载物台上,从试板孔插入石膏试板,在正交镜下转动载物台一周,可看到干涉色有哪些变化?为什么?21.矿物垂直光轴切面,在单偏光,正交偏光镜下有何特征?该切面上能测定哪些光学常数?22.矿物平行光轴(或光轴面),在单偏光和正交偏光镜下有何特征?该切面上能测定哪些光学常数?23.测量角闪石的最大消光角时应选择什么样的切面?这种切面在单偏、正交、锥光镜下有何特点?写出测量步骤和表示

5、方法?24.角闪石与辉石在光性特征上有什么区别?25.自然光和偏振光有何不同?26.如何确定下偏光镜的振动方向?27.一轴晶、二轴晶判断光性符号正负的原则?28.解理可分为几级?在单偏下如何区分?与裂理如何区分?29.解理夹角的测量步骤?30.消光类型有哪三种?什么叫消光角及其测定步骤?31.什么叫延性?延性正负的测定步骤?32.在标准厚度薄片中,方解石垂直光轴切面干涉图可见有干涉色色圈,而石英垂直光轴切面干涉图中为什么见不到干涉色色圈?33.二轴晶垂直光轴干涉图与一轴晶垂直光轴干涉图有何区别?34.确定矿物的轴性、光性符号应选什么方向的

6、切面?它在单、正交偏光镜下有何特点?35、光波在均质体和非均质体中的传播特点有何不同?为什么?36、某矿物的干涉色为二级蓝，加入云母试板后，升高变成什么干涉色？降低又变成什么干涉色？为什么？37、如何检查AA、PP是否正交？若AA、PP不正交，则如何调节？38、当Ne趋于接近于No，光率体有什么变化?39、简述楔形边法测定矿物最高干涉色级序的步骤。40、橄榄石的最高干涉色可达皿级底部，为什么在岩石薄片中见到许多橄榄石颗粒为I级红、橙、黄，甚至I级灰?41、消光类型分哪几种?各种消光类型的特点是什么?42、偏光镜下如何区分均质体任意切面与非

7、均质体的垂直光轴切面?43、你认为偏光显微镜还可以做哪方面的改进？使我们能获得更多的信息。