成像光谱技术导论 2

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1、成像光谱技术导论第一章引言1.1成像光谱技术的基本原理1.1.1成像光谱仪的物理基础一、电磁波谱二、辐射学相关术语三、辐射学基本知识四、大气传输五、地物光谱特征1.1.2成像光谱技术的实现原理和分类一、摇扫式成像光谱仪二、推帚式成像光谱仪三、不同分光类型的成像光谱仪1.2成像光谱仪的分光类型1.2.1棱镜分光1.2.2光栅分光1.2.3傅立叶变换分光1.2.4滤光片式1.2.5声光调制器分光1.3成像光谱技术的现状和发展1.3.1星载成像光谱仪1.3.2机载成像光谱仪第2章：成像光谱技术中的光电传感器2.1光电传感器基本原理2.1.1光电导传感器一、本征型光电导传感器基本理论二、非本征光电导传

2、感器工作原理三、自由载流子光电导传感器2.1.2光伏型传感器2.1.3光电发射传感器2.2硅传感器2.2.1CCD的物理基础2.2.2硅线列传感器2.2.3硅CCD面阵传感器一、行间转移型CCD传感器二、帧转移型CCD传感器三、两种面阵结构的比较2.3InSb传感器2.3.1InSb传感器简介2.3.2InSb探测器阵列的制备和性能2.3.3InSb直接混成式焦平面阵列器件的工作原理及研制2.3.4InSb探测器性能2.3.5InSb大型焦平面列阵器件技术2.4HgCdTe传感器2.4.1HgCdTe传感器简介2.4.2HgCdTe物理特性2.4.3HgCdTe探测器结构2.4.4HgCdTe

3、探测器性能2.4.5HgCdTe传感器的未来发展2.5InGaAs传感器2.5.1InGaAs传感器简介2.5.2InGaAs物理特性2.5.3InGaAs探测器结构2.5.4InGaAs/PIN光电探测器性能2.5.5InGaAs光电探测器现状与发展趋势第3章成像光谱仪的成像系统和分光系统的设计3.1成像光谱仪的成像方式3.1.1扫描成像方式3.1.2推帚成像方式3.1.3成像光谱仪成像方式的特点3.2望远成像系统3.2.1光机扫描部件3.2.2反射式成像系统3.2.3折射式成像系统3.2.4折-反射式成像系统3.2分光方式3.3成像光谱仪的宽视场实现方法3.4成像光谱仪的像质分析3.4.1

4、斯特列尔（strehl）判断3.4.2瑞利判断3.4.3分辨率第4章成像光谱技术的电子学设计4.1探测器与信号处理技术（王跃明*）4.1.1光机扫描型成像光谱仪信号处理技术4.1.1.1光导型探测器前置放大器4.1.1.2光伏型探测器前置放大器4.1.2推帚式成像光谱仪信号处理技术4.1.2.1CCD探测器信号与噪声模型4.1.2.2CCD探测器驱动电路4.1.2.3焦平面信号读出电路4.1.2.4焦平面探测器驱动与噪声分析4.2数据采集系统（徐卫明）4.2.1信号调理与模数转换4.2.2数据传输与记录4.2.3数据显示与监控第5章成像光谱的定量化技术（徐卫明）5.1成像光谱仪的光谱定标技术5

5、.1.1实验室光谱定标技术5.1.1.1波长扫描法5.1.1.2特征光谱定标5.2成像光谱仪的辐射定标技术5.2.1实验室辐射定标技术5.2.2实时辐射校正技术5.2.2.1机上实时辐射校正5.2.2.2地面实时辐射校正5.3成像光谱仪的影像定位技术5.3.1成像光谱仪影像定位技术概述5.3.2稳像技术5.3.2.1光学稳像5.3.2.2平台稳像5.3.2.3电子稳像5.3.3姿态位置参数获取技术5.3.3.1GPS/IMU组合系统原理5.3.3.2GPS/IMU系统在成像光谱仪中的应用技术5.3.4基于POS的几何校正5.3.4.1基本原理5.3.4.2直接法几何纠正5.3.4.3间接法几何

6、纠正5.3.4.4外方位元素的计算第6章成像光谱仪的系统测试和评价技术6.1系统评价分类6.1.1主观和客观评价方法6.1.2基于视觉特征的评价方法6.1.3静态评价和动态评价6.1.4图像的几何质量和辐射质量6.1.5系统质量评价参数分类6.2基于仪器参数测量的评价方法6.2.1光谱分辨率的评价6.2.2空间分辨率的评价6.2.3辐射灵敏度的评价6.2.4其他评价参数6.3基于图像光谱信息特征的评价方法6.3.1图像信噪比6.3.2光谱偏差指数6.3.3光谱微分6.3.4光谱反射率6.3.5基于欧氏距离测度函数的方法6.3.6光谱角度填图6.3.7几何位置特征检验第7章成像光谱仪的系统设计7

7、.1成像光谱仪系统分析7.1.1系统的探测灵敏度设计分析7.1.2系统的MTF设计分析7.1.3系统的光谱分辨率设计分析7.2星载成像光谱仪的设计（刘银年*）7.2.1卫星轨道7.2.2系统总体指标设计7.2.3系统总体方案设计7.3机载成像光谱仪的设计（于龙）7.3.1系统总体指标设计7.3.2系统总体方案设计第8章成像光谱技术的信息处理技术8.1成像光谱信息的特点与数据格式8.1.1成像光谱数