大型精密仪器简介

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1、精密分析仪器简介扫描电子显微镜—能谱仪（SEM－EDS）仪器型号：SEM：JSM－5600LV；EDS：IE300X生产厂家：SEM：日本JEOL；EDS：英国Oxford主要配置：    SEM：二次电子探测器，背散射电子探测器；EDS：Si(Li)超薄窗；X射线探测器，全数字化脉冲处理器；喷金仪，喷碳仪。主要技术指标：lSEM：高真空分辨率3.5nm，低真空分辨率4.5nm;lSEM:放大倍数范围18-300,000；lEDS：Mn的Kα处的分辨率优于132eV；可测元素范围4Be-92U。主要用途：Ø固体样品表面微区形貌观察；Ø材料断口形貌及其内部结构分析；Ø微粒或纤维形状观察及

2、其尺寸分析；Ø固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。14透射电子显微镜（TEM）仪器型号：H－800生产厂家：日本Hitachi主要配置：    SEM探测器，STEM探测器，真空镀膜仪，超薄切片机。主要技术指标：l分辨率：可倾动角±25°时，晶格分辨0.204nm，点间距0.45nm；l放大倍数：电子图象：1000～6×105（30档可调），选区图象：1000～3×105（25档可调）；l加速电压：200kV、175kV、150kV、100kV、75kV。主要用途：Ø分析金属材料的晶体缺陷、晶界、相界等微结构；Ø分析高分子材料及其复合材料的形态结构；Ø微粒形状观察及其尺寸分析；Ø染

3、色体、核糖体、蛋白质、血红蛋白、细菌等的形状观察。14扫描探针显微镜（SPM）仪器型号：NanoScopeⅣ生产厂家：美国Veeco主要配置：    接触模式、轻敲模式；静电力模式、磁力模式、扫描隧道模式、摩擦力模式；配有液体样品池，可用于分析液体环境中的样品；加热台，控温范围：室温～250℃。主要技术指标：l最大平面扫描范围：125μm×125μm；l最大垂直扫描范围：2.5μm；l最高水平分辨率：0.1nm；l最高垂直分辨率：0.01nm。主要用途：Ø材料表面形貌、相组成分析；Ø材料表面各种缺陷、污染情况分析；Ø材料表面力性能研究；Ø材料表面电、磁性能研究。14X射线衍射仪（XRD

4、）仪器型号：D/Max-2550PC生产厂家：日本RIGAKU主要配置：    铜靶，自动可变狭缝系统，全自动弯（平）晶石墨单色仪；纤维取向度测试附件，变温附件；JADE软件包（可用于物相定性分析，晶粒大小和晶胞畸变的测定，结晶度测定，点阵参数精密化等）。主要技术指标：l最大输出功率：18kW；l2q角测量范围：0.5°～145°；l2q角测量准确性：£0.01°；l测试温度范围：室温～15000C。主要用途：Ø物相定性或定量分析；Ø晶体结构的分析；Ø结晶度测定（多峰分离法）；Ø晶粒取向度测定；Ø材料物相随温度变化的研究。14高级旋转流变系统（ARES）仪器型号：ARES－RFS生产厂

5、家：美国TA主要配置：各种规格的锥板夹具、平板夹具以及同心圆筒夹具，固体扭摆夹具；强制空气对流炉（室温～6000C），恒温水浴（－100C～700C）；电流变附件，介电附件，熔体拉伸粘度附件；压片制样机，氮气发生器。主要技术指标：l震荡频率范围：10-4－30Hz；l应变振幅：5μrad-500mrad；l扭矩范围：0.2μN.m-100mN.m；l法向力测量范围：0.01-20N。主要用途：Ø测定热塑性聚合物熔体的稳态和动态流变学参数；Ø测定聚合物溶液以及其它低粘度流体的流变学参数；；Ø测定电流变液的电流变性能；Ø测定聚合物的介电性能。14静态/动态激光光散射仪（SLLS/DLLS）

6、仪器型号：BI-200SM生产厂家：美国Brookhaven主要配置：50mW固体激光器（波长532nm），测角仪（测角范围：80～1620），光电倍增管检测器，采用互相关技术的相关器；dn/dc值测定仪，外循环温控系统。主要技术指标：l聚合物重均分子量（Mw）测量范围：500～108Daltons；l胶体粒子水动力学直径（DH）测量范围：1～5000nm；l聚合物均方根旋转半径（Rg）测量范围：10～1000nm；l测量温度范围：4～800C。主要用途：Ø测定胶束、胶体粒子的大小及其分布；Ø测定聚合物重均分子量；Ø研究聚合物溶液中分子链的构象及其与溶剂分子之间的相互作用；Ø研究蛋白质

7、、多糖分子的构象及其聚集过程。14凝胶渗透色谱－光散射联用仪（GPC－LS）仪器型号：BI-MwA生产厂家：GPC：美国Waters，LS：美国Brookhaven主要配置：高压梯度泵，手动进样器，Styragel系列色谱柱，多角度光散射仪，CCD检测器。主要技术指标：l流动相（四氢呋喃）流速范围:0.001-10.000ml/mim；l聚合物重均分子量（Mw）测量范围：500～108Daltons；l聚合物均方根旋转半径（Rg）测量范围：10