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《半导体薄膜用镍铂靶材讨论稿-中国有色金属标准质量信息网》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在教育资源-天天文库。
1、GB/T××××—××××ICS77.150.30H62YS发布中华人民共和国工业和信息化部××××-××-××实施××××-××-××发布半导体薄膜用镍铂靶材SputteringNickel-PlatinumTargetusedinSemiconductorFilm(讨论稿)2012.3.20YS/T××××—××××中华人民共和国有色金属行业标准1YS/T××××—××××前言本标准是根据近年来半导体薄膜制造技术的日趋成熟,首次制定。本标准由全国有色金属标准化技术委员提出并归口。本标准起草单位:有研亿金新材料股份有限公司
2、。本标准主要起草人:。IYS/T××××—××××半导体薄膜用镍铂靶材1 范围本标准规定了半导体薄膜用镍铂靶材的要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及订货单或合同内容。本标准适用于半导体薄膜用的各类镍铂靶材(以下简称镍铂靶)。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GJB1580A变形金属超声检验方法GB/T14265金属材料中氢、氧、氮、碳和硫分析方法通则YS/T347铜及铜合金
3、平均晶粒度测定方法YS/T镍铂合金中铂含量分析YS/T镍铂合金中杂质元素含量分析3 要求3.1 产品分类镍铂靶型号分类按照化学成分分成4个牌号:NiPt5、NiPt15、NiPt30、NiPt60。3.2 成分要求镍铂靶的成分及杂质元素要求应符合表1、表2规定。表1 镍铂合金元素化学成分比及其偏差产品名称化学成分质量比偏差Ni:PtPtNiPt595:5±1NiPt1585:15±1NiPt3070:30±1.5NiPt6040:60±2表2 镍铂靶材化学成分表镍铂含量不小于(%)99.95%99.99%99.995%简称3
4、N54N4N5杂质含量,不大于,10-6Ag—≤250.1Al50(10)0.55YS/T××××—××××As(8)Au——B——0.1Ba——Bi(3)Ca——0.5Cd—(3)Cl—0.5Co—503Cr—202Cu50152F—Fe100206Ga——Ge——K——0.1Li——Mg50(10)6Mn50100.5Mo——Na——0.05Na+Li+K—Nb——NiPPb5030.5Sb(3)Se—Si50101Sm0.1Sn50(3)Te—Th——0.001Ti——U——0.001U+Th—V——0.5W——Zn5
5、0100.1Zr——Total≤500≤100≤50H105YS/T××××—××××气体杂质含量,不大于,10-6C50N30O50杂质总含量,不大于(不包含C、H、O、N),%0.050.010.005注:客户对特定杂质元素含量有要求的,由供需双方协商.1.1 镍铂靶晶粒度镍铂靶的平均晶粒度应小于等于100μm,最大值应小于等于150μm,并且晶粒分布均匀。注:客户有要求的应按照客户要求1.2 内部质量镍铂靶坯内部不应有分层、疏松、夹杂和气孔等缺陷,由供方生产工艺保证。需方有特殊要求时按GJB1580A标准执行。1.3
6、焊接质量镍铂靶的焊接分为钎焊和非钎焊。焊接质量应符合表3的规定,需方如有特殊要求时,由供需双方商定。表3焊接质量要求焊接方式焊接结合率单个未焊合间隙面积/总面积钎焊≥95%≤2%非钎焊≥98%≤1%1.4 几何尺寸与允许偏差1.4.1 镍铂靶按照形状通常可分为圆形、矩形和其他形状,按照结构方式可分为单体型和焊接型两类,靶材的背板可包括铜及铜合金、铝及铝合金等。1.4.2 半导体用镍铂靶,其尺寸、规格及结构方式与用户使用的溅射机台类型有关,一般由客户提供图纸,经双方确认后,方可生产。1.5 外观质量镍铂靶表面应清洁光滑,无指痕
7、,无油污和锈蚀,应无拉伸润滑痕迹,颗粒附加物和其它沾污,应无凹坑、划伤、裂纹、凸起等缺陷。2 试验方法2.1 镍铂靶化学成分的分析方法2.1.1 Pt元素及金属杂质元素的分析方法按照YS/T***镍铂化学分析方法标准执行。2.1.2 气体元素H、O、N、C的分析方法按照GB/T14265金属材料中H、O、N、C分析方法通则标准执行。2.2 镍铂靶的晶粒度检验按照YS/T347进行观察、评定和确认。2.3 镍铂靶内部质量的检验按GJB1580A规定进行。2.4 镍铂靶焊合质量的检验按YS/T***溅射靶材-背板结合质量超声波检
8、验方法标准进行。2.5 尺寸检测方法2.5.1 半导体用镍铂靶的几何尺寸通过三维坐标测定仪(CMM),按照加工图纸标识尺寸进行测定,测定精度为0.001mm。5YS/T××××—××××1.1 外观质量及内包装质量用目视检查,如发现异常现象,用放大镜或数码显微镜进行鉴别。2 检验规则2.1
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