现代材料测试技术作业

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1、第25号现代材料测试技术作业材料0902孙伟20090121270第一章X射线衍射分析一、填空题1、X射线从本质上说，和无线电波、可见光、γ射线一样，也是一种。2、尽管衍射花样可以千变万化，但是它们的基本要素只有三个：即、、。3、在X射线衍射仪法中，对X射线光源要有一个基本的要求，简单地说，对光源的基本要求是、、。4、利用吸收限两边相差十分悬殊的特点，可制作滤波片。5、测量X射线衍射线峰位的方法有七种，它们分别是、、、、、、。6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是、、。7、特征X射线产生的根本原

2、因是。8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种，它们分别是、和字顺索引。9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分、、三种。10、实验证明，X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类：和11、当X射线穿过物质时，由于受到散射，光电效应等的影响，强度会减弱，这种现象称为。12、用于X射线衍射仪的探测器主要有、、、，其中和应用较为普遍。13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有、、三个方面14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类、。15、当X射线照射到物体上时，一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向，造成散射线；

3、另一部分光子可能被原子吸收，产生；再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子，成为。二、名词解释X-射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电子、质量吸收系数、吸收限、三、问答与计算1、某晶体粉末样品的XRD数据如下，请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检索组。d4.273.863.543.322.982.672.542.432.23I/I01040861001090658d2.162.071.841.751.541.381.261.181.06

4、I/I0285570153522012、产生特征X射线的根本原因是什么？3、简述特征X-射线谱的特点。4、推导布拉格公式，画出示意图。5、回答X射线连续光谱产生的机理。6、简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。7、简述连续X射线谱的特征8.x射线衍射仪对x光源的要求、光源单色化的方法9.测角仪的调整要求？10.测角仪的工作原理以及各狭缝作用？11.哈纳瓦特与芬克索引的规则？12.定性物相分析的注意事项？电子显微分析部分（第2、3、4章）一、填空题1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理

5、信号，分析试样物质的、和。2、电子显微镜可分为：、等几类。3、电镜中，用透镜作电子枪，发射电子束；用透镜做会聚透镜，起成像和放大作用。4、磁透镜和玻璃透镜一样，具有很多缺陷，因此会造成像差，像差包括：、、________________和畸变。5、当一束聚焦电子束沿一定方向射入试样时，在原子库仑电场作用下，入射电子方向改变，称为散射。原子对电子的散射可分为散射和散射。在散射过程中，电子只改变方向，而能量基本无损失。在散射过程中，电子不但改变方向，能量也有不同程度的减少，转变为、和等。6、电子与固体物质相互作用过程中产生

6、的各种电子信号，包括、、__________________和等。7、块状材料是通过减薄的方法（需要先进行机械或化学方法的预减薄）制备成对电子束透明的薄膜样品。减薄的方法有、、和等。8、扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像，成像信号可以是、或。9、透射电子显微镜中高分辨率像有和。10、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号，分析试样物质的、和。二、名词解释球差、色差、场深、焦深、弛豫、相互作用体积、质厚衬度、衍射衬度、相位衬度、轴上像散、场深、焦深、弹性散射、非弹性散射、驰豫、背散射电

7、子、透射电子、吸收电子、二次电子、背散射电子等。三、简答题1、为什么现代的透射电镜除电子光源外都用磁透镜做会聚镜？2、为何电子显微镜镜筒必须具有高真空？3、电子衍射谱的特征？4、扫描电镜在探测二次电子时，为何要在栅网上加250V电压？而在探测背散射电子时要加-50V电压？5、扫描电镜的衬度有哪些？各种衬度的典型衬度像是什么？6、在电镜上为什么能用能谱仪进行试样的成分分析？7、电子束做照明源制成电子显微镜具有更高的分辨本领？为什么？8、分析电子波长与加速电压间的定量关系。9、分析电子在静电场中的运动规律及静电透镜的聚焦成

8、像原理。10、TEM薄膜试样制备方法有哪些？11、质厚衬度原理及物镜光阑的作用？四、问答题1、试述球差、色差产生的原因。2、简述二次电子的特点。3、在材料科学中透射电镜的样品有哪几类？在制备每类样品时要注意什么？4、高速入射的电子与试样物质相互作用后能产生哪些物理信号？这些信号可用于什么分析测试手段上？5、扫描电镜可用哪些物理信号