数字电子技术实验

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1、数字电子技术实验实验一基本逻辑门电路实验一、基本逻辑门电路性能（参数）测试（一）实验目的１.掌握TTL与非门、与或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。２.熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。（二）实验所用器件ｌ.二输入四与非门74LS001片２.二输入四或非门74LS021片３.二输入四异或门74LS861片（三）实验内容１．测试二输入四与非门74LS00一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系。２．测试二输入四或非门74LS02一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系。３．测试二输入四异或门74LS86一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系。1.

2、将器件的引脚７与实验台的“地（GND）”连接，（四）实验提示1.将器件的引脚７与实验台的“地（GND）”连接，将器件的引脚１４与实验台的十5Ｖ连接。2.用实验台的电平开关输出作为被测器件的输入。拨动开关，则改变器件的输入电平。3.将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯(LED)连接。指示灯亮表示输出低电平（逻辑为０），指示灯灭表示输出高电平（逻辑为1）。燕山大学电子实验中心（五）实验接线图及实验结果74LS00中包含４个二输入与非门，7402中包含４个二输入或非门，7486中包含４个二输入异或门，它们的引脚分配图见附录。下面各画出测试7400第一个逻辑

3、门逻辑关系的接线图及测试结果。测试其它逻辑门时的接线图与之类似。测试时各器件的引脚７接地，引脚１４接十５Ｖ。图中的Ｋ1、Ｋ2接电平开关输出端，LED0是电平指示灯。燕山大学电子实验中心1、测试74LS00逻辑关系接线图及测试结果燕山大学电子实验中心2、测试74LS02逻辑关系接线图及测试结果燕山大学电子实验中心3、测试74LS86逻辑关系接线图及测试结果燕山大学电子实验中心二、TTL、HC和HCT器件的电压传输特性(一)、实验目的１.掌握TTL、HCT和HC器件的传输特性。２.掌握万用表的使用方法。(二)、实验所用器件１.六反相器７４ＬＳ０４片２.六反相器

4、７４ＨＣ０４片３.六反相器７４ＨＣＴ０４片（三）、实验内容１.测试TTL器件７４ＬＳ０４一个非门的传输特性。２.测试HC器件７４ＨＣ０４一个非门的传输特性。３.测试HCT器件７４ＨＣＴ０４一个非门的传输特性。（四）、实验提示１.注意被测器件的引脚７和引脚１４分别接地和十5Ｖ。２.将实验台上４.７ＫΩ电位器RTL的电压输出端连接到被测非门的输入端，RTL的输出端电压作为被测非门的输入电压。旋转电位器改变非门的输入电压值。３.按步长0.2Ｖ调整非门输入电压。首先用万用表监视非门输入电压，调好输入电压后，用万用表测量非门的输出电压，并记录下来。燕山大学电子实验中

5、心二、TTL、HC和HCT器件的电压传输特性（五）、实验接线图及实验结果１.实验接线图由于74LS04、74HC04和74HCT04的逻辑功能相同，因此三个实验的接线图是一样的。下面以第一个逻辑门为例，画出实验接线图（电压表表示电压测试点）如右图燕山大学电子实验中心二、TTL、HC和HCT器件的电压传输特性输入Vi(V)输出Vo74LS0474HC0474HCT040.00.2…1.21.4…4.85.0２.输出无负载时74LS04、74HC04、74HCT04电压传输特性测试数据燕山大学电子实验中心二、TTL、HC和HCT器件的电压传输特性３.输出无负

6、载时74LS04、74HC04和74HCT04电压传输特性曲线。燕山大学电子实验中心４.比较三条电压传输特性曲线的特点。尽管只对三个芯片在输出无负载情况下进行了电压传输特性测试，但是从图２.２、图２.３和图２.4所示的三条电压传输特性曲线仍可以得出下列观点:（1）74LS芯片的最大输入低电平VＩＬ低于74HC芯片的最大输入低电平VＩＬ，74LS芯片的最小输入高电平ＶＩＨ低于74HC芯片的最小输出高电平ＶＩＨ。（２）74LS芯片的最大输入低电平ＶＩＬ、最小输入高电平ＶＩＨ与74HCT芯片的最大输入低电平ＶＩＬ、最小输出高电平ＶＩＨ相同。（３）74LS芯片的最

7、大输出低电平ＶＯＬ高于74HC芯片和74HCT芯片的最大输出低电平ＶＯＬ。74LS芯片的最小输出高电平ＶＯＨ低于74HC芯片和74HCT芯片的最小输出高电平ＶＯＨ。（４）74HC芯片的最大输出低电平ＶＯＬ、最小输出高电平ＶＯＨ与74HCT芯片的最大输出低电平ＶＯＬ、最小输出高电平ＶＯＨ相同。二、TTL、HC和HCT器件的电压传输特性燕山大学电子实验中心5．在不考虑输出负载能力的情况下，从上述观点可以得出下面的推论（１）74HCT芯片和74HC芯片的输出能够作为74LS芯片的输入使用。（２）74LS芯片的输出能够作为74HCT芯片的输入使用。实际上，在考虑输

8、出负载能力的情况下，上述的推论也是正确的。应当指出，虽然在教科书中