射线检测3级思考题(含答案)

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1、问题1：射线照相灵敏度定义?    问题2：射线照相灵敏度与超声波检测灵敏度有什么差异？    两者属不同的概念——射线照相灵敏度对应于提高图像信噪比，灵敏度越高越有利于缺陷识别和检出；超声波检测灵敏度是指回波信号的放大倍数，与信噪比无关，灵敏度高并不意味缺陷检出率高。          问题3：什么是绝对灵敏度?    问题4：什么是相对灵敏度?    问题5：JB/T4730.2采用的是绝对灵敏度还是相对灵敏度？    问题6：什么是像质计灵敏度?    问题7：像质计灵敏度与自然缺陷灵敏度的关系如何?    问题8：为什么射线照相灵敏度≠缺陷检出率？    问题9

2、：为什么“即使底片上像质计灵敏度很高，黑度、不清晰度符合要求，也会出现裂纹难于检出甚至完全不能检出的情况？”    问题10：除了裂纹以外，还有哪些缺陷的检出灵敏度与像质计灵敏度不符？    问题11：射线照相对比度、不清晰度、颗粒度是如何定义的?    问题12：射线照相灵敏度影响因素是如何归纳的？    问题13：底片对比度增大有哪些有利和不利影响?    问题14：如果缺陷中不是充满空气，公式是什么样？    ΔI/I=（μ-μ’）ΔT/（1+n)    问题15：②③条假设有何区别？    ②是指IS不变，③是指n不变，因为n=Is/Ip，所以公式中Ip要用没有

3、缺陷存在的透射线值。          问题16：怎样理解“在大多数情况下，以上假设引起的误差极小，因此公式是可以成立的。    只有缺陷尺寸较小时，讨论对比度才有意义。    问题17：公式由哪些参数构成？    问题18：公式的意义和用途是什么？    问题19：主因对比度和胶片对比度的关系？    问题20：放大系数为3-8是从哪儿得来的？    见第二章表2-13  胶片的分类；几种胶片的梯度。    问题21：ΔT与缺陷尺寸和透照方向关系？    问题22：其他影响透照厚度差ΔT的因素？    问题23：衰减系数μ与射线能量关系？    问题24：材质的哪些特

4、性影响衰减系数μ    问题25：散射比有哪些影响因素？    问题26：使用高梯度胶片有哪些有利和不利影响?    问题27：提高黑度有哪些有利和不利影响?    问题28：改变显影条件变化有哪些有利和不利影响?    问题28：怎样理解“本影消失，对比度显著下降现象”？    问题29：射线照相不清晰度U是如何定义的？    问题30：什么叫黑度过渡区的趾部和肩部？    问题31：黑度过渡区的趾部和肩部是如何产生的？    问题32：几何不清晰度是如何定义的？    问题33：固有不清晰度是如何定义的？    问题34：U、Ug和Ui的关系?    问题35：公式

5、（3-3）和（3-4）有什么不同？    问题36：JB/T4730怎样规定L1与Ug值的？    问题37：通过哪些方法可以减小Ug值？    问题38：在减小Ug值的同时会带来哪些不利影响？    问题39：焊缝上不同位置的Ug值受哪两大因素影响?    焦点投影，工件形状。    问题40：纵焊缝照相，底片上各点的Ug值不同是焦点投影造成的？还是几何条件造成的？    焦点投影造成，工件形状不产生影响。    问题41：环焊缝照相，底片上各点的Ug值不同是焦点投影造成的？还是几何条件造成的？    焦点投影和工件形状都产生影响。    问题42：X射线、γ射线、高

6、能X射线的固有不清晰度大致在什么数量级范围？    问题43：比较正常情况下（焦距700mm，射源尺寸2mm），不同能量射线对不同厚度焊缝透照（100KV透照10mm焊缝、300KV透照30mm焊缝、Ir192透照50mm焊缝、Co60透照100mm焊缝）的Ug和Ui值的大小？    问题44：如何解释增感屏和胶片不贴紧导致固有不清晰度增大的现象？    问题4:5：JB/T4730对增感屏的使用是怎样规定的?    问题46：双丝像质计结构与用途？    问题47：什么叫颗粒性?什么叫颗粒度?颗粒度是怎样构成的?    问题48：颗粒几何尺寸和黑度起伏的关系？    

7、问题49：为什么说颗粒度是随机的?    问题50：形成底片颗粒度的随机性有几种？    问题51：胶片噪声与哪些工艺参数相关?    问题52：量子噪声与哪些工艺参数相关?    问题53：怎样理解胶片粒度和感光速度对颗粒性的影响?    问题54：怎样理解射线能量对颗粒性的影响?    问题55：怎样理解颗粒度对细节显示的影响?    问题56：什么是最小可见对比度？    问题57：怎样理解“ΔD是底片上的客观存在的量值，而ΔDmin不是？    问题58：对比度和最小可见对比度有什么关系？    问题59：底片上的缺陷在较暗的灯下