射线检测3级思考题(含答案)

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时间:2018-07-30

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1、问题1:射线照相灵敏度定义?    问题2:射线照相灵敏度与超声波检测灵敏度有什么差异?    两者属不同的概念——射线照相灵敏度对应于提高图像信噪比,灵敏度越高越有利于缺陷识别和检出;超声波检测灵敏度是指回波信号的放大倍数,与信噪比无关,灵敏度高并不意味缺陷检出率高。          问题3:什么是绝对灵敏度?    问题4:什么是相对灵敏度?    问题5:JB/T4730.2采用的是绝对灵敏度还是相对灵敏度?    问题6:什么是像质计灵敏度?    问题7:像质计灵敏度与自然缺陷灵敏度的关系如何?    问题8:为什么射线照相灵敏度≠缺陷检出率?    问题9

2、:为什么“即使底片上像质计灵敏度很高,黑度、不清晰度符合要求,也会出现裂纹难于检出甚至完全不能检出的情况?”    问题10:除了裂纹以外,还有哪些缺陷的检出灵敏度与像质计灵敏度不符?    问题11:射线照相对比度、不清晰度、颗粒度是如何定义的?    问题12:射线照相灵敏度影响因素是如何归纳的?    问题13:底片对比度增大有哪些有利和不利影响?    问题14:如果缺陷中不是充满空气,公式是什么样?    ΔI/I=(μ-μ’)ΔT/(1+n)    问题15:②③条假设有何区别?    ②是指IS不变,③是指n不变,因为n=Is/Ip,所以公式中Ip要用没有

3、缺陷存在的透射线值。          问题16:怎样理解“在大多数情况下,以上假设引起的误差极小,因此公式是可以成立的。    只有缺陷尺寸较小时,讨论对比度才有意义。    问题17:公式由哪些参数构成?    问题18:公式的意义和用途是什么?    问题19:主因对比度和胶片对比度的关系?    问题20:放大系数为3-8是从哪儿得来的?    见第二章表2-13  胶片的分类;几种胶片的梯度。    问题21:ΔT与缺陷尺寸和透照方向关系?    问题22:其他影响透照厚度差ΔT的因素?    问题23:衰减系数μ与射线能量关系?    问题24:材质的哪些特

4、性影响衰减系数μ    问题25:散射比有哪些影响因素?    问题26:使用高梯度胶片有哪些有利和不利影响?    问题27:提高黑度有哪些有利和不利影响?    问题28:改变显影条件变化有哪些有利和不利影响?    问题28:怎样理解“本影消失,对比度显著下降现象”?    问题29:射线照相不清晰度U是如何定义的?    问题30:什么叫黑度过渡区的趾部和肩部?    问题31:黑度过渡区的趾部和肩部是如何产生的?    问题32:几何不清晰度是如何定义的?    问题33:固有不清晰度是如何定义的?    问题34:U、Ug和Ui的关系?    问题35:公式

5、(3-3)和(3-4)有什么不同?    问题36:JB/T4730怎样规定L1与Ug值的?    问题37:通过哪些方法可以减小Ug值?    问题38:在减小Ug值的同时会带来哪些不利影响?    问题39:焊缝上不同位置的Ug值受哪两大因素影响?    焦点投影,工件形状。    问题40:纵焊缝照相,底片上各点的Ug值不同是焦点投影造成的?还是几何条件造成的?    焦点投影造成,工件形状不产生影响。    问题41:环焊缝照相,底片上各点的Ug值不同是焦点投影造成的?还是几何条件造成的?    焦点投影和工件形状都产生影响。    问题42:X射线、γ射线、高

6、能X射线的固有不清晰度大致在什么数量级范围?    问题43:比较正常情况下(焦距700mm,射源尺寸2mm),不同能量射线对不同厚度焊缝透照(100KV透照10mm焊缝、300KV透照30mm焊缝、Ir192透照50mm焊缝、Co60透照100mm焊缝)的Ug和Ui值的大小?    问题44:如何解释增感屏和胶片不贴紧导致固有不清晰度增大的现象?    问题4:5:JB/T4730对增感屏的使用是怎样规定的?    问题46:双丝像质计结构与用途?    问题47:什么叫颗粒性?什么叫颗粒度?颗粒度是怎样构成的?    问题48:颗粒几何尺寸和黑度起伏的关系?    

7、问题49:为什么说颗粒度是随机的?    问题50:形成底片颗粒度的随机性有几种?    问题51:胶片噪声与哪些工艺参数相关?    问题52:量子噪声与哪些工艺参数相关?    问题53:怎样理解胶片粒度和感光速度对颗粒性的影响?    问题54:怎样理解射线能量对颗粒性的影响?    问题55:怎样理解颗粒度对细节显示的影响?    问题56:什么是最小可见对比度?    问题57:怎样理解“ΔD是底片上的客观存在的量值,而ΔDmin不是?    问题58:对比度和最小可见对比度有什么关系?    问题59:底片上的缺陷在较暗的灯下

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