欢迎来到天天文库
浏览记录
ID:14873924
大小:261.50 KB
页数:4页
时间:2018-07-30
《晶体光学与造岩矿物模拟题》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、中国地质大学(北京)继续教育学院2013年03课程考试《晶体光学与造岩矿物》模拟题(补)一.名词解释1.光率体是表示光波在晶体中传播时,光波振动方向与相应折射率值之间关系的一种光性指示体。也可以说光率体是表示光波在晶体中各振动方向上折射率和双折率变化规律的一个立体几何图形。2.补色法则:在正交偏光镜的45°位置放置两个互相重叠的非均质体矿片(垂直光轴切片除外),在光波通过此二矿片后,其总的光程差增减法则称补色法则。3.光性方位:光率体主轴与晶体结晶轴之间的关系就是光性方位,表示光率体的主轴N;Ne和No,或者N
2、g、Nm、Np与晶体的结晶轴a、b、c之间的关系。4.多色性与吸收性:由于光波在晶体中振动方向不同,而使薄片颜色发生改变的现象称为多色性,这种颜色深浅变化也称为吸收性。5.边缘和贝克线:在两个折射率不同的物质(矿物颗粒之间或者矿物与树胶)接触处,存在一条较黑暗的界线和一条比较明亮的细线,前者称为矿物的边缘或轮廓,后者称为贝克线或亮带,光带。6.消光角:指矿片消光时,其光率体椭圆半径与解理缝、双晶缝、晶体延长方向之间的夹角。(也就是目镜十字丝与解理缝、双晶缝、晶体延长方向之间的夹角。)二.单项选择题1.随着目镜焦
3、矩平面的变化,薄片中相邻2个矿物之间的贝克线会发生移动,若提升镜筒(远离薄片),贝克线向(A)矿物移动;下降镜筒(靠近薄片),贝克线向(B)矿物移动。A.折射率大的B.折射率小的C.树胶D.不移动2.二级蓝干涉色的光程差是(C)。A.1200nmB.230nmC.680nmD.1700nm3.橄榄石Nm平行晶体延长方向,其延性为(C)。A.正延性B.负延性C.延性可正可负4.垂直普通角闪石b轴测得的消光角是(C)。A.最小消光角B.对称消光角C.最大消光角5.以下的矿物中,(D)是负高突起;(B)是正高突起;(
4、A)是正极高突起;(C)具有明显的闪突起。A.锆石B.辉石C.方解石D.萤石6.某矿物的干涉色为二级绿,加入石膏试板后使其异名轴一致,矿物将出现(A)。A.I级干涉色B.II级干涉色C.III级干涉色D.IV级干涉色7.某矿物主折射率为1.616,1.609,1.606其轴性为(A),光性符号为(D)。A.二轴晶B.一轴晶C.负光符D.正光符8.在干涉色级序中,第一级干涉色出现特有的(C),第二级最鲜艳和典型的干涉色是(A),第三级最鲜艳和典型的干涉色是(B)。第4页(共4页)中国地质大学(北京)继续教育学院2
5、013年03课程考试A.二级蓝B.三级绿C.I级灰D.三级黄9.观察矿物闪突起应在(A)。A.单偏光下观察B.正交偏光下观察C.锥光下观察10.某岩石标本中长石种类较多,其中有20%的微斜长石、40%的更长石、30%的正长石和10%条纹长石,那么钾长石和斜长石含量分别为(B)。A.20%的斜长石和80%的钾长石B.40%的斜长石和60%的钾长石C.30%的斜长石和70%的钾长石D.60%的斜长石和40%的钾长石11.二轴晶垂直Bxa的切面干涉图,且2V角小于45°,可以观察到(B)。A.一个光轴出入点,一个黑色
6、弯臂B.两个光轴出入点,两个黑色弯臂C.无法观察到光轴出入点12.垂直光轴的薄片的切片,在正交偏光镜下旋转物台时具有(A),插入石膏试板后出现(C)。A.全消光B.四次消光C.一级紫红D.二级黄13.矿物的折射率值以(D)光为标准。A.白光B.紫光C.红光D.黄光14.在单偏光下观察薄片中矿物的边缘、贝克线、糙面和突起等现象,归根到底最主要的影响因素为矿物的(A)。A.折射率B.切面方向C.晶族三.填空题1.用偏光显微镜观察透明矿物薄片,单偏光下可观察(矿物形态)、(解理)、(颜色)和(多色性和吸收性);正交镜
7、下可观察(消光类型)、(消光角)、(干涉色级序)、(双晶)和(延性);锥光下可观察(轴性)、(光性符号)、(光轴角)和(切面方向)。※注:单偏光下填写如下的任意4个即可:矿物形态解理颜色多色性和吸收性边缘贝克线糙面突起闪突起2.二轴晶负光性的矿物,在垂直光轴的切面上可测(Nm)主折射率、^Bxa切面上可测(Ng)、(Nm)主折射率,在^Bxo切面上可测(Nm)、(Np)主折射率,在平行光轴面的切面上可测(Ng)、(Np)主折射率。3.石膏试板是一种补色器,它的光程差是(550(/530))nm,其干涉色为(一级
8、紫红),加入石膏试板后,矿物的干涉色将升高或降低一个(级序)(选择级序或色序)。4.当二轴正晶的光率体中Nm=Np时,它与(一轴正晶)的光率体相同;当Nm=Ng时它与(一轴负晶)的光率体相同;当Ng=Nm=Np时,它与(光性均质体(或者均质体))的光率体相同。5.影响解理可见性的因素为(解理的完善程度)、(切片方向)、(矿物折射率与树胶折射率的差值)。6.二轴晶光率体的主要切面包括(垂
此文档下载收益归作者所有