hp3070基本故障处理

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1、-基本故障处理当一块板在自动测试设备（ATE）上测试通不过时，ATE分析技术员的职责是：找出故障的根源，将故障记录到FMS中，将缺陷纠正。板子产生真正的故障（有些是由于板子的原因），还有错误的故障（有些是由于测试设备或者测试程序的原因）。真正的故障也许是由一个范围内的缺陷引起的，例如：助焊剂阻塞了测试点；焊接短路；缺焊或虚焊的元件；丢失的、错误的、反安装的、不重合的、损坏的、不工作的元件；还有的是光板生产出来有缺陷，比如损坏、遗漏、蚀刻过度或者欠蚀刻。分析任何故障的第一步就是找出板子是在什么地方通不过，并把由测试设备产生的错误报告交给技术员。这个错误报告将指出该板的故障的类型，如开路、

2、短路、模拟故障、电源故障、或者是固件需要重新烧录。在错误报告上的信息将使得下次检测板子失败的现象减少。这一部分处理真正的故障，例如，板子本身的故障HP基本测试计划测试计划测试计划是为了测试一条给定的生产线，由测试工程师编写的代码。整个测试计划是由一系列由详细的命令组成的小测试组成的。测试的命令如下：PINS针脚：这个测试命令将测试设备上所有没有电容隔离的针脚。这个测试将确保测试设备针脚和待测的板子之间的良好接触。Pre-shorts预短路：预短路测试是在正式短路测试之前进行的一个模拟测试。这个测试将像测试开关和跳线设置一样测试电位计设置。这个测试要先进行，因为设置、开关、跳线、电位计将

3、影响下面的测试。Shorts短路：这个短路测试要测试已知将要短路的节点之间的开路，以及其他所有节点之间的短路。短路和开路测试能够快速找到制造缺陷，如丢失元器件或者锡桥。开路测试用于测试已知要短路的节点之间的连通性。短路测试将在两个方面进行，检测和绝缘。检测是关于哪个节点短路的快速诊断。绝缘使用一个对分过程来检测短路。这将导致仅只是短路的节点一起显示成一个错误。ANALOG模拟:这个检测没有加电,使用来检验模拟元件,象电阻,电容等是否被正确的安放在扳子上,以及他们的值是不是在指定的误差范围内.TESTJET感应片:感应片通过测试在针脚和感应片盘之间的电容,来测两栖件上的针脚和板子之间的连

4、通性.针脚都配合起来被视为一个脚.电源和地的针脚不能用这种方式来测试。POWERSUPPLIES电源供应：在这个测试中间，打开了电源供应。它们的电流和电压输出都被检测，以确保它们在限制的范围内。如果不是软件关掉电源供应，那么它将产生一个电流限制或者过电压错误。BOUNDARYSCAN边界扫描：这是一个使用一个设备测试的技术，它的设计是用一个移位寄存器放在每个输入/输出针脚和器件内部逻辑核心之间。每个移位寄存器被称为一个单元，当它们被连接起来成为链的时候，就组成了“边界寄存器”或者称为“数据寄存器”。在器件里还有另外的寄存器：一个指令寄存器，一个旁路寄存器和一个ID寄存器。在使用边界扫描

5、的时候，设备上需要4到5个额外的针脚。这些针脚是：TDI（TESTDATAIN测试数据输入）：这是一个测试和指令位的串口输入。当一个设备被定义的时候，这些位将被移位进指令寄存器。对这些位数据流来说，数据是通过装在每个器件输入/输出针脚中的移位寄存器装入到数据寄存器中去的。TDO（TESTDATAOUT测试数据输出）：这是一个从指令寄存器，或数据寄存器或标志寄存器中往外输出测试数据的输出串口。TCK（TESTCLOCK测试时钟）：这是一个用来驱动边界扫描逻辑的独立的时钟。数据在时钟上升沿输入，时钟下降沿输出。TMS（TESTMODESELECT测试模式选择）：这提供了使TAP控制器从一个

6、状态改变到另一个状态所需的逻辑标准。TRST*（TESTRESET）：这是一个可选的信号，常用于重启设备。星号表示这个信号是一个活动的低输入信号。TRST*也考虑到了TAP控制器的异步初始化。当TRST*是高电平的时候，边界扫描逻辑关闭，设备将如同边界扫描硬件不存在一样的工作。DIGITAL（数字）：最基本的数字测试是驱动IC的输入，比较在给定的输入下面能否得到需要的输出。数字测试的另外一种类型是CRC（CYCLICREDUNDANCYCHECK循环冗余检查）。这被用在预编程的设备，如ROM芯片上面，以确保数据的可靠性。ANALOGPOWEREDANDMIXED模拟电源和混合：这个测试

7、将测试需要电源的模拟设备。二极管，发光二极管，数摸转换，模数转换和晶体管等都是在这一部分需要检测的一些设备。PROGRAMMINGANDNVRAM烧录编程和NVRAM：这个测试考虑到了FLASHROMS，SROM，FPGA，XLINX或者EEPROMS的烧录编程。这种测试将检查制造ID和设备ID，当错误的数据存在时，将擦除此数据。在烧录编程完后，还要测试器件，以确保数据被保存了。万一被烧录编程的器件是个固件器件，CRC检测将执行，以确保烧录正确