基于IEEE 1149.6标准的高速数字网络测试方法

基于IEEE 1149.6标准的高速数字网络测试方法

ID:14106483

大小:42.47 KB

页数:5页

时间:2018-07-26

基于IEEE 1149.6标准的高速数字网络测试方法_第1页
基于IEEE 1149.6标准的高速数字网络测试方法_第2页
基于IEEE 1149.6标准的高速数字网络测试方法_第3页
基于IEEE 1149.6标准的高速数字网络测试方法_第4页
基于IEEE 1149.6标准的高速数字网络测试方法_第5页
资源描述:

《基于IEEE 1149.6标准的高速数字网络测试方法》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在学术论文-天天文库

1、第44卷第2期(总第172期)2015年6月火控雷达技术FireControlRadarTechnologyVol.44No.2(Series172)Jun.2015基于IEEE1149.6标准的高速数字网络测试方法尤路(中国电子科技集团公司第38研究所合肥230088)【摘要】随着高速信号测试需求的逐渐增加,IEEE1149.6标准的应用前景越来越广,本文从IEEE1149.6标准的产生入手,主要介绍了IEEE1149.6标准与IEEE1149.1标准的区别,后文中通过测试验证实例,详细介绍了IEEE1149.6标准中的故障类型,该方法目

2、前已在数字电路高速通道测试中凸显作用。中图分类号:TN407文献标志码:A文章编号:1008-8652(20】5)02-1]2^05关键词:IEEE1149.6;IEEE1149.1MethodofTestingHighSpeedDigitalNetworkBasedonIEEE1149.6StandardYouLu(No.38ResearchInstituteofCETC,Hefei230088)Abstract:Asrequirementofhighspeedsignaltestingincreasesgradually,theappl

3、icationprospectoftheIEEE1149.6standardbecomesmoreandmoreextensively.StartingfromgenerationofIEEE1149.6standard,thedifferencebetweentheIEEE1149.1andIEEE1149.6standardsisintroduced.ThefaulttypeoftheIEEE1149.6standardisintroducedindetailbywayoftestverificationexample.Thismeth

4、odisfunctionedobviouslyintestinghighspeeddigitalcircuitchannel.Keywords:IEEE1149.6;IEEE1149.1o引言在髙速串行通信中,设计者更倾向采用差分信号传输,相比于单端信号传输,它的抗干扰能力和故障容错能力强,而且失真度小。为了提高对差分互连与交流耦合信号的测试能力,2001年5月,Agilent公司和Cisco公司成立了“特别工业工作组”开始起草用于高速数字网络的边界扫描标准,2003年IEEE计算机协会和测试技术标准委员会通过并公布了该标准,即IEEE11

5、49.6-2003。该标准的主要任务是设计支持具有鲁棒性的边界扫描测试芯片,所测试的信号通道中允许使用差分信号交流耦合技术。它的目标是提高IEEE1149.1的检测能力,以保持快速准确的检测和诊断系统中和电路板上的互连缺陷。IEEE1149.6标准定义的测试同时适用于IEEE1149.1传统数字网络测试和IEEE1149.4传统模拟网络测试,该标准在原IEEE1149.1基础上扩充了边界扫描的描述语言(BSDL),以支持新的测试模式。该标准制定的目的是为1C的可测试性电路提供设计指南,当这些1C包含差分信号,具有交流耦合特性时,可以方便地以

6、更高的故障覆盖率对其进行板级和系统级测试。1IEEE1149.6标准1.1概述IEEE1149.6标准是一种结构化的可测性设计方案,兼容IEEE1149.1数字电路边界扫描测试标准,并在此基础上,进一步扩充了测试资源,弥补了它对高速数字网络交流耦合、差分互连等测试能力的不足。具体来说,对于数字电路中的直流耦合互连部收稱日期:2014-12-25作者简介:尤路(1988-),男,硕士研究生。研究方向为电子信息工程。第2期尤路:基于IEEE1149.6标准的高速数字网络测试方法113TMS)、测试数据输入(TestDataIn,TDI)、测试数

7、据输出(TestDataOut,TDO)与测试复位TRST*(TestResetJRSr,该管脚可选)。同时,器件内核逻辑与外部I/O管脚之间嵌人了边界扫描单元,这些单元均具有移位寄存器的特征,在内部依次串接后,首尾分别与测试管脚TDI和TDO连接,形成一条芯片内部的边界扫描链,如图2所示。高速数字边界扫描器件的基本结构通常包含:边界扫描单元、TAP控制器、指令寄存器、指令译码器、旁路寄存器与其它用户测试数据寄存器等。若电路板上有多个边界扫描器件,它们各自的扫描链则以菊花链形式连接,构成一条更长的边界扫描链。当测试进行时,外部测试控制器将通

8、过这条链向各器件串行移人测试指令与测试向量,并采集反馈的测试响应,完成测试任务。1.3IEEE1149.6交流测试指令IEEE1149.6标准是IEEE1149.1标准的扩展,兼

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。