现代检测技术考试必背

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1、第一章一、选择题1.M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（B）A.Kα；B.Kβ；C.Kγ；D.Lα。2.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（C）A．Cu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。3.当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（A）A.短波限λ0；B.激发限λk；C.吸收限；D.特征X射线4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）A.光电子；B.二次荧光；C.俄歇电子；D.（A+C）二、正误题1.激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。（√）2.经

2、滤波后的X射线是相对的单色光。（√）3.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（√）4.选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。（×）三、填空题1.当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和标识X射线。2.当X射线管电压低于临界电压仅产生连续X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和特征X射线。3.特征X射线的产生过程中，若K层产生空位，由L层和M层电子向K层跃迁产生的K系特征辐射按顺序称Kα射线和Kβ射线。4.X射线的本质既是光也是电磁波，具有波粒二象性。5.短波长的X射线称硬X射线，常用于金属

3、部件的无损探伤；长波长的X射线称软X射线，常用于医学透视上。6.连续谱短波限只与管电压有关。7.特征X射线谱的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构。四、问答题1.什么叫“相干散射”、“短波限”？答：相干散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。短波限，连续X射线谱在短波方向有一个波长极限，称为短波限λ0.它是由光子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线。2.特征x射线谱的产生机理。答：高速运动的粒子（电子或光子）将靶材原子核外电子击出去，或击到原子系统

4、外，或填到未满的高能级上，原子的系统能量升高，处于激发态。为趋于稳定，原子系统自发向低能态转化：较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁，这一降低的能量以一个光子的形式辐射出来变成光子能量，且这降低能量为固定值（因原子序数固定），因而λ固定，所以辐射出特征X射线谱。第二章一、选择题1.最常用的X射线衍射方法是（B）。A.劳厄法；B.粉末法；C.周转晶体法；D.德拜法。2.射线衍射方法中，试样为单晶体的是（D）A、劳埃法B、周转晶体法C、平面底片照相法D、A和B3.晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（B）  A、

5、(364)  B、(234)  C、(213) D、(468)4.立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（B）A、相互平行B、相互垂直C、成一定角度范围D、无必然联系5.晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（C）。A.垂直；B.平行；C.不一定。6.在正方晶系中，晶面指数{100}包括几个晶面（B）。A.6；B.4；C.2D.1；。7.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（  B）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它二、判断题1.X射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行。（×）2.干涉晶面与实际晶面的区别在于：干

6、涉晶面是虚拟的，指数间存在公约数n。（√）3.布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度。（√）三、填空题1.本质上说，X射线的衍射是由大量原子参与的一种散射现象。2.布拉格方程在实验上的两种用途是结构分析和X射线光谱学。3.粉末法中晶体为多晶体，不变化，变化。4.平面底片照相法可以分为透射和背射两种方法。5.平面底片照相方法适用于研究晶粒大小、择优取向以及点阵常数精确测定方面。四、问答题1．布拉格方程2dsinθ=λ中的d、θ、λ分别表示什么？布拉格方程式有何用途？答：dHKL表示HKL晶面的面网间距，θ角表示掠过角或布拉格角，即入射X射线或衍射线

7、与面网间的夹角，λ表示入射X射线的波长。该公式有二个方面用途：（1）已知晶体的d值。通过测量θ，求特征X射线的λ，并通过λ判断产生特征X射线的元素。这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。（2）已知入射X射线的波长，通过测量θ，求晶面间距。并通过晶面间距，测定晶体结构或进行物相分析。2．某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来，其θ较高抑或较低？相应的d较大还是较小？答：背射区线条与透射区线条比较θ较高，d较小。产生衍射线必须符合布拉格方程2dsinθ=λ，对于背射区属于2θ高角度区，根据d=λ/2sinθ，θ越大d越小。3.X射线学有几个分支？每个分

8、支的研究对象是什么？答：X射线学分为三大分支：X射线透射学、X射线