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时间:2018-07-25
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1、第二部分实验实验一逻辑门电路的功能与测试一、实验目的1.熟悉TTL中、小规模集成电路的外形、管脚和使用方法;2.了解和掌握基本逻辑门电路的输入与输出之间的逻辑关系及使用规则;二、实验仪器1.DICE-SEM型数字模拟综合实验箱1台2.器件▪74LS00四2输入与非门2片▪74LS02四2输入或非门1片▪74LS04六反向器1片(可选)▪74LS08四2输入与门1片▪74LS20二4输入与非门1片▪74LS21二4输入与门1片(可选)▪74LS32四2输入或门1片(可选)▪74LS86四2输入异或门1片
2、三、实验原理实现基本逻辑运算和常用逻辑运算的单元电路通称为逻辑门电路。如实现“与”运算的电子电路称为与逻辑门,简称与门;实现“与非”运算的电子电路称为与非门。与基本逻辑运算和和常见逻辑运算相对应,常用的简单逻辑门电路有与门、或门、非门;复合逻辑门电路有与非门、或非门、与或非门和异或门等。根据制造工艺不同,逻辑门电路有两大类,一类是以晶体三极管为主要元件的双极型逻辑门电路;。另一类是一MOS场效应管为主要元件的MOS型逻辑门电路。根据门电路输出端结构不同,又可分为基本输出门电路、开路输出门电路(OC门、
3、OD门)、三态门电路(TS门)。基本输出门电路可以完成基本的逻辑功能,开路输出门电路不仅可以完成基本的逻辑功能,还能实现逻辑电平之间的转换,提高负载驱动能力。三态门电路可以完成基本的逻辑功能,在输出的高、低两种电平的基础上还增加了另一个状态——高阻状态,可以用于数字系统中的总线连接。门电路通常用高电平VH表示逻辑值“1”,低电平VL表示逻辑值“0”。TTL门电路高电平的典型值为VH=5V~3.6V,低电平的典型值为VL=0.4V。CMOS门电路高电平的值为VH=5V,低电平的值为VL=0V。可以看出只
4、有相同类型的门电路,其电平才相匹配。不同类型的门电路,其电平是不相匹配实验-90的。因此当某一类的门电路的输出作为另一类型的门电路的输入信号时,必须在它们之间增加一种电压转换电路,否则会出现错误的输出。以下表1-1是TTL与门的输入输出电压关系;表1-2是TTL与非门的输入输出电压关系表1-1与门的输入输出电压关系输入输出ABYVLVLVLVLVHVLVHVLVLVHVHVH表1-2与非门的输入输出电压关系输入输出ABY0V0V5V0V5V5V5V0V5V5V5V0V▪与非门逻辑功能二输入端F=AB四
5、输入端F=ABCD▪或非门逻辑功能二输入端F=A+B▪异或门逻辑功能F=AB一、预习1.各实验用门电路的工作原理及相应逻辑表达式。2.熟悉所用集成电路的引脚位置及各引脚用途。3.预习:填写以下逻辑功能表ABABA+B实验-90实验内容实验前按使用说明先检查实验箱电源是否正常。然后选择实验用的集成电路。按自己设计的实验接线图连线,特别注意Vcc及地线不能接错。本实验箱上的接线采用自锁紧插头、插孔。接线时首先把插头插进插孔,然后按顺时针方向轻轻一拨就则锁紧了。拔出插头时,首先按逆时针方向轻轻拧一下插头,使
6、插头和插座松开,然后将插头从插孔中拔出。不要使劲拔插头,以免损坏插头和连线。线接好后经实验指导教师检查无误方可通电实验。实验中改动接线须先断开电源,接好线后再通电实验。必须注意,电插、拔器件必须在关闭+5V电源的情况下进行,不要带电插、拔器件。(一)或门的逻辑功能测试对四2输入或门74LS32进行逻辑功能测试。参考附录中74LS32芯片的引脚号。将引脚1、2(A、B)分别连接到任意一个小开关插孔;引脚3(F)连接到任意一个发光二极管电平指示灯插孔;引脚7连接接地插孔;引脚14连接+5V电源插孔。拨动开
7、关(开关拨向下方为0,拨向上方为1)组合A、B的值,观察F(上方的发光二极管指示0,下方的发光二极管指示1)的结果。测试结果填入表1-3。表1-3或门的逻辑功能ABF(二)与非门74LS00的逻辑功能测试对四2输入与非门74LS00进行逻辑功能测试。参考附录中74LS00芯片的引脚号。将引脚1、2(A、B)分别连接到任意一个小开关插孔;引脚3(F)连接到任意一个发光二极管电平指示灯插孔;引脚7连接接地插孔;引脚14连接+5V电源插孔。拨动开关(开关拨向下方为0,拨向上方为1)组合A、B的值,观察F(上
8、方的发光二极管指示0,下方的发光二极管指示1)的结果。测试结果填入表1-4。实验-90表1-4与非门的逻辑功能ABF(一)或非门74LS02的逻辑功能测试参照附录中74LS02芯片的引脚号,接线。按表1-4设置A、B,验证输出。测试结果填入表1-5。表1-5ABF00011011(二)与非门74LS20的逻辑功能测试选用四输入双与非门74LS20一只,参照附录中74LS20芯片的引脚号,插入实验板,将电平开关按表1-6置位,分别测输出端逻辑状态。填在表中
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