实验三 移位运算实验

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1、实验三移位运算实验一．实验目的1．了解移位发生器74LS299的功能。2．验证移位控制电路的组合功能。二、实验环境TDN-CM+或TDN-CM++教学实验系统一台。三、实验原理：图3-1所示为移位控制电路图。其中使用了一片74LS299作为移位发生器，其中8位输入/输出端可连接至内部总线。74LS299移位器的片选控制信号为299-B,在低电平时有效。T4为其控制脉冲信号，由“W/RUNIT”单元中的T4接至“STATEUNIT”单元中的单脉冲发生器KK2上而产生，S0、S1、M作为移位控制信号，其移位控制逻辑功

2、能表如表3-1所示。（注：进位标志指示灯CY亮时，表示“0”，无进位；反之表示“1”，有进位）表3-1移位控制电路功能表功能299-BS1S0M保持000任意循环右移0100带位循环右移0101循环左移0010带位循环左移0011装数任意11任意四、实验内容（方法步骤）1．按图3-2所示连接实验电路并检查无误。2．打开电源开关。3．向移位寄存器置数，操作如下：（1）拨动输入开关形成二进制数01101011.（2）使SWITCHUNIT单元中的开关SW-B=0，控制打开数据输入三态门。（3）使S0=1、S1=1,并

3、按动微动开关KK2，产生T4控制脉冲信号，将二进制数01101011装入了74LS299移位寄存器。（4）使SW-B=1，关闭数据输入三态门74LS245。图3-1移位控制电路原来图4．移位运算操作。参照表3-2中的内容，先将S1、S0置为0、0，检查移位寄存器单元装入的数是否正确，然后通过改变S0、S1、M、299-B的状态，并按动微动开关KK2，观察移位结果。注意在进行下一步操作时，要重新置数。AUJ1D7…D0B7…B0B7…B0图3-2移位运算实验连线图五、实验结论及总结将实验结果填入下表：299-BS1

4、S0M原CY输入按KK2一次的数据及CY按KK2两次的数据及CY功能000任意06BH011010110011010110保持010006BH101101010110110100循环右移010106BH001101011100110101带进位循环右移001006BH110101100101011010循环左移001106BH110101100101011001带进位循环左移任意11任意06BH111111110111111110装数