数字电子技术综合实验指导 (1)

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1、数字电子技术综合实验指导实验一门电路综合实验一、实验目的熟悉逻辑实验箱的使用掌握基本门电路逻辑功能测试方法二、实验设备及器件1．逻辑实验箱2．万用表3．四2输入与非门74LS004.四2输入或门74LS325.四2输入异或门74LS866．六非门74LS04三、实验重点　熟悉常用门电路的逻辑符号及逻辑图、了解门电路对脉冲信号的控制作用四、集成电路外引线图、逻辑符号及逻辑图1、四2输入与非门74LS002、四2输入与非门74LS03（OC门）3、四2输入或门74LS324、8四2输入异或门74LS865、六非门74LS

2、04五、实验内容及步骤（一）基本门电路实验记录表中输出栏“电平”用万用表V档测取电压值，逻辑状态高电平用“1”表示，低电平用“0”表示。1.A与非门逻辑功能测试（74LS00）输入端输出端YAB电平逻辑状态00011011与非门逻辑图1.B集电极开路（OC门）与非门逻辑功能测试（74LS03）输入端输出端YAB电平逻辑状态00011011集电极开路与非门逻辑图82或门逻辑功能测试（74LS32）输入端输出端YAB电平逻辑状态00011011或门逻辑图3异或门逻辑功能测试（74LS86）输入端输出端YAB电平逻辑状态0

3、0011011异或门逻辑图4六非门逻辑功能测试（74LS04）A电平逻辑状态01门逻辑图5.用7400和7420设计完成一个3输入表决电路写出分析过程和电路设计，并验证。实验二组合电路综合实验一、实验目的熟悉掌握译码器、显示译码器计数码管的使用方法。二、实验设备及器件1．逻辑实验箱2．万用表3．3线－8线译码器（反码输出）74LS1384．4线－7段译码/驱动器CD4511三、实验内容及步骤（一）3线－8线译码器（反码输出）74LS138功能测试1．集成电路外引线图、逻辑符号及功能图82．参数测试使能输入逻辑输入输出

4、OE1OE2AOE2BCBAY0Y1Y2Y3Y4Y5Y6Y7×1××××××1×××0×××××1000001000011000101000111001001001011001101001111=高电平；0＝低电平；×＝任意3.用74LS138设计完成一个3输入表决电路写出分析过程和电路设计，并验证。（二）BCD码--7段译码显示译码器CD4511    CD4511是一个用于驱动共阴LED显示器的BCD码—七段码译码器，其引脚路如图6，逻辑功能见表2，8421BCD码对应的显示见图7。其功能介绍如下：   BI：当

5、BI=0时，不管其它输入端状态如何，七段数码管均处于熄灭状态，不显示数字。    LT：当BI=1，LT=0时，不管输入DCBA状态如何，七段均发亮，显示“8”。它主要用来检测数码管是否损坏。    LE：使能控制端，当LE=0时，允许译码输出。    DCBA：为8421BCD码输入端。    abcdefg：为译码输出，输出为高电平。8实验内容：输入0-9的BCD码依次显示。实验三触发器功能综合测试一、实验目的1、了解触发器构成方法和工作原理。2、熟悉触发器的功能和特性。3、学习简单时序逻辑电路的分析和检验方法

6、。二、实验仪器与器材1、THD-4型数字电路实验箱2、示波器3、器材：74LS112双下降沿JK触发器74LS74双上升沿D触发器二、实验内容1、集成D触发器的逻辑功能测试　（1）测试D、D的复位、置位功能　　测试方法同实验内容1、（1），自拟表格记录。　（2）测试D触发器的逻辑功能按表3.7.5要求进行测试，并观察触发器状态更新是否发生在CP脉冲的上升沿（即由0→1），记录之。在输入信号为单端的情况下，D触发器用起来最为方便，其状态方程为：Qn+1=D，输出状态的更新发生在CP脉冲的上升沿，故又称为上升沿触发的边沿

7、触发器，触发器的状态只取决于时钟到来前D端的状态，D触发器的应用很广，可用作数字信号的寄存，移位寄存，分频和波形发生等。8表3.7.174LS74功能表74LS74是上升沿触发的双D触发器，其引脚排列见图3.7.1。测试完成74LS74的逻辑功能表见表输入输出DDCPDQn＋1n＋101××10××11↑111↑011↓×图3.7.174LS74引脚排列注：×—任意态　↓—高到低电平跳变↑—低到高电平跳变Qn（Qn）—现态Qn+1（Qn+1）—次态φ—不定态2、集成JK触发器的逻辑功能测试（1）测试D、D的复位、置位

8、功能在双下降沿JK触发器74LS112上任取一只JK触发器，D、D、J、K端接逻辑开关输出插口，CP端接单次脉冲源，Q、端接至逻辑电平显示输入插口。要求改变D，D（J、K、CP处于任意状态），并在D＝0（D＝1）或D＝0（D＝1）作用期间任意改变J、K及CP的状态，观察Q、状态。自拟表格并记录之。（2）测试JK触发器的逻辑功能测试在输入信号为双