无损检测考试重点

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1、1、什么是无损检测技术？无损检测以不损害被检验对象的使用性能为前提，应用多种物理原理和化学现象，对各种工程材料、零部件、结构件进行有效的检验和测试，借以评价它们的连续性、完整性、安全可靠性及某些物理性能。无损检测技术享有“工业卫士”的美誉.2、无损检测的三个发展阶段vNDI（无损探伤）：主要用于产品的最终检验，在不破坏产品的前提下，发现零部件中的缺陷，以满足工程设计中对零部件强度设计的需要。vNDT（无损检测）：不但要进行最终产品的检验，还要测量加工过程工艺参数，诸如：温度、压力、密度、浓度、成分、组织结构、残余应力、晶粒大小。vNDE（无损评估）：除了进行上述检验外，还要掌握使

2、用材料的负载条件、环境条件等，综合评价材料完整性，判断材料及构件的性能和可靠性。5、无损检测方法的基本特征§由外界的源向被检对象提供适当形式和分布的能量；§　当材料存在非连续性或其特性变化时，可使被检对象中能量分布作相应的改变；§　利用各种类型传感器提取表面或内部缺陷信号，并记录缺陷的影像或图像；§　解释记录原因和评价被检对象的使用可靠性。射线法（X射线和中子射线照相法）将X射线发生器发射的射线透照被检件，透射线被检测对象传递或衰减，用以成像检查内部结构或缺陷。来自反应堆、加速器或同位素源的中子束照射被检件时，可用图像显示被检件的中子透射或衰减，或用来发现X射线不能检出的内部结构

3、或缺陷。v超声法超声脉冲直接射入被检件，超声回波（透射衰减）能指出缺陷、界面和不连续性的存在和位置。v磁粉法将被检件或被检区域磁化，施加磁粉使覆盖整个表面区域，当任一处的表面或近表面缺陷导致磁场畸变而泄漏时，相应的畸变泄漏的磁场便吸附积聚磁粉。v　声发射法利用物体内部缺陷在外力或残余应力作用下，本身能动地发射出声波来判断发射地点的部位和状态。根据声发射信号的特点和AE波的外部条件，既可以了解缺陷的目前状态，也能了解缺陷的形成过程和发展趋势，这是其它无损检测诊断方法难以做到的。n渗透法　　将渗透液覆盖于检测表面，使其渗入表面裂纹，然后清除表面上的多余液体，再施加显像剂。使其成为薄的

4、粉层将裂纹中的液体吸出，使其着色，从而将其检出。n　涡流法被检件局部感应交流回路（涡流），由探头测量感应电流磁场的感抗反应，指示次表面缺陷。2、射线的种类　波长较短的电磁波叫射线。速度高、能量大的粒子流也叫射线。射线由射线源向四周发射的过程又称为辐射。　非电离辐射：指能量很低，不足以引起物质发生电离的射线，如微波辐射、红外线等。　电离辐射：指能够直接或间接引起物质电离的辐射。直接电离辐射：如β射线、α射线和质子射线等。由于它们带有电荷，所以在与物质发生作用时，要受原子的库仑场的作用而发生偏转。同时，会以物质中原子激发、电离方式损失其能量，故其穿透本领较差，因而一般不直接利用这类射

5、线进行无损检测。间接电离辐射：是不带电的粒子，如X射线、r射线及中子射线等。由于它们属于电中性，不会受到库仑场的影响而发生偏转，且贯穿物质的本领强，故广泛地被用于无损检测。实验表明，X射线管阳极靶发射出的X射线分为两类：连续X射线谱和特征X射线谱。电子在光的作用下从金属表面发射出来的现象，称为光电效应。阴极K和阳极A封闭在真空管内，在两级之间加一可变电压，用以加速或阻碍释放出来的电子。在光的作用下，电子从电极K逸出，并受电场加速而形成电流，这种电流称为光电流。俄歇效应产生的原理：原子中的内电子被电离后出现一个空位，这时较外层的电子将填补空位而释放出能量，该能量以产生辐射的形式被释

6、放出来。存在这样一种可能，即所释放的能量立即被原子内部较外层的一个电子吸收，再产生一个光电子，相对于第一个光电子，它就是次级光电子，或称为俄歇电子。这种现象就是俄歇现象，也称次级光电效应。当一束能量较大的光子进入原子核的库仑场时，光子可以被全部吸收，而同时发射一对正负电子，这种现象称为电子对效应。康普顿效应现象规律：1、X射线散射后的波长与入射线的波长不等，波长增加；2、波长改变的数值与散射角有关，随角度增加而增加；3、随着散射角的增大，新谱线增强，原谱线减弱；4、新谱线波长的移动与散射物性质无关；5、当散射物的原子序数增加时，原谱线的强度增加，移动的新谱线的强度减弱，即康普顿效

7、应减弱。光电效应：原子电离，发出光电子俄歇效应：受激原子回到正常状态发射二次光电子荧光效应：由光子激发出的特征X射线，称为二次特征X射线或荧光X射线电子对效应：X射线与核场相互作用，一部分能量转变为一个电子和一个正电子的静止质量什么叫电子对效应？当一束能量较大的光子进入原子核的库仑场时，光子可以被全部吸收，而同时发射一对正负电子，这种现象称为电子对效应。单色平行X射线窄射束衰减规律当一束单色、平行、窄射束垂直入射到被照物体上时，贯穿后的射线强度被一窄缝收成窄束而到达P点，设贯穿厚