激光共聚焦技术参数

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1、共聚焦荧光显微镜技术参数1 技术规格（配置）1. 激光照射部分(1) 系统激光器应覆盖可见光，三个激光器单独分立：红光HeNe激光器633nm；绿光HeNe激光器543nm；多线蓝光Ar激光器458/488/514nm。(2) 具有独立电动机械光闸，以降低声光调制器的漏光现象。(3) 激光器强度由各独立AOM控制，调节由计算机的激光共聚焦扫描软件系统控制，与整个系统偶合程度高，电噪声小，安全。2. 扫描检测部分(1) 激光扫描系统通过照相端口与显微镜相连，不影响传统荧光观察效果，并且使扫描系统在正置与倒置显微镜通用。与所接显微镜一体化设计，一体化像差及色差校正，以保证高质量，高分辨率成像

2、。软件对硬件应有效控制，使系统有优异的稳定性及可维护性。光纤藕合表面应有专用防反射涂层，以提高激光传输效率(2) 检测器：① 传统荧光检测器：三个荧光扫描检测器+一个透射光DIC（明场/相差/微分干涉）扫描检测器② 专用光谱检测器：32个通道(3) 光谱/荧光检测系统：① 光谱检测通道与传统荧光检测通道分别工作，不相互影响② 采用多阳极PMT灵敏度矫正技术，可以对每个光谱检测通道的灵敏度误差以及波长透射属性进行矫正，使测量误差和偏差降至最低③ 光谱检测通道可自由选择光谱的波长范围、光谱分辨率及当前工作的通道数，通过一次扫描即可获取完整的最大32个通道的光谱图像，能精确地对光谱进行分析。可

3、以任意指定软件只显示选定的波段，相当于拥有了一个可编程的荧光阻挡滤光片④ 光谱检测器上具有可移动的激光遮光片，可以屏蔽任意波长的激光，这样即增加了激光的应用种类，又提高了PMT的利用率⑤ 光谱探测器可同时拍摄透射和共聚焦图像，为定位荧光标记，提供手段⑥ 三个传统荧光通道和一个透射光DIC通道可同时进行快速扫描⑦ 多个传统荧光通道的图像可即时叠加、荧光图像与透射光DIC图像即时叠加⑧ 使用者可自行更换传统荧光检测系统中所有的滤色镜，这样可以在使用新的探针和染料不会存在兼容性问题(4) 光谱扫描系统：① 高速32通道光谱分析和扫描，可获得透射光谱图像② 光谱分辨率：2.5nm、5nm、10n

4、m（用衍射光栅方式保证精度）③ 光谱扫描范围：400-750nm④ 光谱扫描步进：0.2nm⑤ 使用光栅线性拆分光谱，保证光谱精度⑥ 使用DEES衍射效率增强技术，提高光栅衍射效率⑦ 使用DISP双积分信号处理技术，以提高曝光精度和光谱数据精度，从而提高图像的信噪比⑧ 光谱数据来源：用户指定/用户自建/厂家预设(5) 扫描速度：① 标准模式下扫描速度：≥1.68us/pixel（512×512pixels）② 光谱扫描速度：≥2.4ms/pixel(512×512pixels32通道同步记录)③ 扫描速度可调节(6) 共聚焦针孔：可变，电动切换(7) 扫描分辨率及灰度级：① 分辨率：≥2

5、048×2048pixels② 灰度级：≥12bit(8) 扫描方式： X-Y-Z-t-λ任意组合，可实现点扫描及任意区域扫描、光谱波长扫描等① 点扫描 获取样品中一指定点的荧光强度随时间变化的点扫描图像② 平面扫描 X-Y横切面、X-Z纵切面、X-Y-t，任意方向旋转，任意角度扫描，步进1°③ X-Y-Z,X-Y-Z-t扫描 任意方向，任意角度④ 局部放大扫描 1X---≥1000X，步进1X⑤ 光谱模式下 多通道同时扫描，可进行：X-Y-λ、X-Y-Z-λ、X-Y-t-λ、X-Y-Z-t-λ扫描：分别获取横切面XY平面或纵切面XZ平面虽光谱λ变化的系列图像，并支持任意角度旋转扫描(9

6、) 扫描旋转、光学放大（变倍）：① 旋转扫描：任意角度自由旋转（旋转步进：1度），旋转扫描的同时可做DIC扫描② 光学放大扫描：1X---≥1000X，连续可调，调节步进1X③ 共聚焦扫描视野：≥18mm(10) 可即时或延时进行扫描，扫描时间无限制，扫描时可结合ROI(regionofinteresting，感兴趣区域)，实现样品中多点位置的荧光强度变化的图象、曲线和数值的实时（realtime）显示；时间扫描时可单通道或多通道同时进行,并可实现可变延迟(11) 光谱扫描具有极佳精度， 可使在充分保证荧光信号通量（特别是一些弱荧光信号）的情况下，消除串色（混色）问题；同时也有利于对荧光

7、样品的定量检测；在遇到发射光谱相近的探针同时存在的情况，要保证在实际操作中可以分开相差5nm的相近光谱(12) 可对光谱图像进行动态拍摄，进行光谱型FRET试验的观察，并同步生成光谱曲线，即时监视光谱变化(13) 在改变扫描分辨率及扫描速度等后，无须很复杂地对仪器参数重新设置；避免频繁重新设置扫描参数，减少样品不必要的激光照射时间，减少荧光的无谓淬灭是荧光定量检测的根本保证(14) 有记忆功能，使仪器可在不同时间对样品进行同一仪器测