涂层测厚仪的使用方法

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时间:2018-07-23

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1、涂层测厚仪的使用方法,涂层测厚仪的技术性  简要介绍了涂镀层测厚技术的发展现状及时代特征,重点介绍了目前国内外磁性涂镀层测厚仪典型产品的功能特点,初步探讨了涂镀层测厚技术的未来发展趋势。 1.磁性:涂镀层测厚仪厚度测量是涂镀层物性检测的重要项目之一,伴着新型工程材料开发,微电子技术应用和标准化事业进展,涂镀层测厚技术近'"几年来国内外得到迅速发展。与此同时,采取多种原理,应用范围广泛,有较高科技含量,日趋智能化的各类测厚仪相继问世,有力地推动了工程物理检测的发展。与国外先进技术和同类产品相比,目前我国

2、涂镀层测厚技术在总体上相当于先进工业国家19世纪90年代初期水平,面对入世和国际经贸一体化的挑战,我们当奋起直追,增强参与国际竞争的适应力和创新意识,抢抓机遇,努力实现测厚技术的跨越式发展。A涂镀层测厚技术发展现状A(A测量方法原理多样化涂镀层厚度测量,方法多样,测试原理各不相同。在国家标准,《金属和其他覆盖层厚度测量方法评述》中,将覆盖层厚度测量方法分为无损法和破坏法两类,见表。就涂镀层测厚仪的应用而言,目前国内外仍普遍采用磁性法、涡流法、N射表覆盖层厚度测量方法一览表无损法破坏法磁性法称重法涡流法

3、分析法N射线光谱法库仑法!射线反向散射法金相显微镜法光切显微镜法轮廓仪法干涉显微镜法注:某些情况下可能是破坏的;可以是无损的。线光谱法和!射线反向散射法等无损法测量。本文作者重点探讨应用磁性方法原理的涂镀层测厚仪开发现状及功能特点。A(B测试技术标准体系化在先进工业国家,涂层测厚技术标准已自成体系,而且有多种规格的涂镀层测厚仪可同时兼顾双重原理,满足多项试验方法标准要求,因而大大地拓展其应用领域。也为我国采用国外先进技术标准,推动国产仪器更新换代提供了借鉴与参考。据不完全统计,迄今我国已制订涉及涂镀层

4、测厚技术的方法或仪器的国家标准和专业标准达M"余项,该标准体系的建立与完善,将严格规范涂镀层厚度检测及仪器开发的质量要求,有效地促进测厚技术的总体发展。A(C测厚仪开发日趋智能化回顾涂层测厚仪技术发展的历史沿革,集中表现为以下技术特征:电路设计:电子管———晶体管———集成电路———专用芯片L模块化。整机功能:单(原理)功能型———具有部分统计功能型———双原理通用型———智能型。探头制式:主机探头分离式———主机与探头一体式(内置式探头)———主机配多规格探头(可供选择更换)。量值显示:机械式(千分

5、表)———表头指针式———液晶数字式———数据打印式(外接或内置)。B磁性涂镀层测厚仪开发现状国家标准《磁性金属基体上非磁性覆盖层厚材料保护度测量———磁性方法》指出,磁性测厚方法的原理,或是测量永久磁铁(探头)和基体金属之间由于存在覆盖层而引起磁引力的变化,或是测量通过覆盖层和基体金属磁路的磁阻变化。因此,磁性测厚仪也包含两种类型:一类是测量某一磁体与基体金属间的磁引力;另一类是测量通过覆盖层和基体金属磁通路的磁阻。现将国内外具代表性典型仪器的主要功能特点分述如下。全自动型涂镀层测厚仪德国EPK公司

6、开发的3200(磁吸力法全自动型涂镀层测厚仪,自*+世纪,+年代初进入中国市场,已为国内用户熟知。它作为系列化产品,有,种规格。可分别测量钢铁基体上非磁性涂镀层厚度、非铁基体或钢铁基体上镍镀层厚度。其涂镀层最大测量厚度*+--,测量精度通常为.!。实践证明,该仪器操作简单,调整方便,测量直观,稳定准确,颇受用户欢迎,目前国内市场仍拥有一定的销量。。。。。型电脑涂镀层测厚仪中外合资上海华阳检测仪器有限公司于19世纪,80年代初期率先推出的/001*2型电脑涂镀层测厚仪,属国产磁性测厚仪的升级换代产品。它

7、具有.项测量数据(平均值、最大值、最小值、标准偏差、测量次数)统计功能,并由液晶直接显示测量值。该仪器具有操作简单,使用方便,稳定性好,测量精度高等优点,受到用户青睐。数字式涂层测厚仪19世纪,90年代中期,我国公司研制出全新制式的((CRANEL820型数字式涂镀层测厚仪,其突出的特点是采用内置式探头,在国产测厚仪中率先实现仪器主机与测量探头一体化,标志着我国测厚技术的空前进步。它具有可连续测量和单次测量两种测量方式,设有.个统计值,采用液晶数字显示,可存储和统计计算3.个测量值,并备有计算机接口、

8、数据删除、欠压提示、错误提示、自动关机等多项测控功能,更适用于现场快速无损检测,成为国产仪器的畅销品牌。金属涂镀层测厚仪德国尼科斯博士自动化仪器有限公司开发的4500.4200型金属涂镀层测厚仪,在19世纪,90年代末打入中国市场。它采用了先进的半导体电子调谐技术和内置双探头的一体化结构,兼顾了磁性法和涡流法两种测试原理,通过主机正反两侧独立和镶有红宝石探针的内置式探头,可分别对钢铁等磁性基体上的非磁性涂镀层的厚度和铝铜等非磁性金属基体上的绝缘层厚度进行

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