奥氏体钢锻件的超声波检验方法

奥氏体钢锻件的超声波检验方法

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时间:2018-07-21

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1、·奥氏体钢锻件的超声波检验方法·· 本标准包括用直射法、斜射法或两者兼用对奥氏体钢锻件进行接触法脉冲反射式超声波探伤的规范和操作步骤。凡在定货合同或技术条件中规定要按本标准对奥氏体钢锻件进行超声波探伤时,必须执行本标准。但无磁护环件应按JB/ZQ6112《汽轮发电机用钢质护环的超声波检验方法》进行超声波探伤,不得适用本标准。   本标准是参考ASTMA745-85标准制订的。   同本标准有关的标准有:   JB1834《A型脉冲反射式超声波探伤仪技术条件》 1定货条件1.1定货要求按本标准进行超声波探伤时,需方应在定货合同中规定质量验收等级。1.2拟定技术条件时,供方厂应将说明扫查表面,扫

2、查方向、校准槽的位置和深度、波束覆盖范围的超声检验简图以及有关说明,提请需方认可。 2设备2.1仪器2.1.1应采用A型脉冲反射式超声波探伤仪。仪器的工作频率至少要有0.5-5HMz。2.1.2仪器的探伤性能指标,包括工作频率、垂直线性、水平线性、动态范围和衰减器的精度,应符合JB1834的规定。考虑到对粗晶材料的检测,仪器应具有深度补偿装置和足够的功率。2.2探头2.2.1所用仪器和探头的组合灵敏度,应满足所探工件最大声程处的探测灵敏度要求。分辨率、盲区、信噪比、工作频率误差应符合JB1834的规定。探头(包括直探头和斜探头)应没有明显影响测量精度的偏斜和双峰。2.2.2用直射波束扫查时,

3、应采用晶片直径为20--35mm的换能器。2.2.3用斜射波束扫查时,应采用相当于晶片直径20--30mm的换能器。斜射波束在工件中的折射角应为30°--70°。2.2.4为了精确测定缺陷,必要时也可以采用其它探头。2.3耦合剂   在换能器和探测面之间应使用合适的、具有良好润湿特性的耦合剂。校正和探伤应采用同样的耦合剂。2.4对比试块2.4.1所有对比试块都必须符合有关超声检验用钢质对比试块的制造和控制方法的标准。但由于奥氏体钢的特殊性质,不要求同上述标准绝对一致。2.4.2对比试块的晶粒大小(用测量对比试块的相对透声性表示)应同被测锻件大致相近。但由于大型奥氏体钢锻件透声性变化很大,因此

4、应选用同被测锻件平均透声性相近的试块,即可以采用晶粒较粗或较细的补充试块。2.4.3在条件允许时,可以在锻件上有代表性的部位加工一个或几个适当大小的对比孔或槽,代替试块作为校正和探伤的基准。工件上的这些孔或槽待以后加工时去掉。如果这些孔或槽以后加工去不掉,则在加工前必须征得需方同意。 3对锻件的要求3.1锻件原则上应在最终热处理后,精加工前加工出探伤面进行超声探伤。除在定货合同中另有规定外,探伤面的表面粗糙度高度参数轮廓算术平均偏差Ra值一般不得大于3.2μm。探伤面表面应无氧化皮、漆皮、脏物等。3.2锻件应加工成简单的形状,以利于扫查时声束的覆盖。3.3在某些情况下,例如对于异形锻件,要保

5、证100%的扫查体积是不现实的。对于这样的锻件,应尽可能都扫查到。表明探伤覆盖范围的规定,应交需方认可。 4扫查4.1应至少在两个互相垂直的方向上尽最大可能扫查锻件的所有区域。相邻两次扫查之间的覆盖应不小于晶片直径的15%,扫查速度应不超过150mm/s。4.2对于圆饼锻件,至少要从一个平面上用直探头扫查,可能时还应从圆周上作径向扫查。这里所说的圆饼,是指直径超过高度尺寸的圆柱体。这种锻件尽管在探伤时可能有中心孔或台阶,但仍属此类。4.3对于长方形、实心圆柱形、环形和空心锻件,应采用直探头从整个外表面(圆周面或端面)进行扫查。当长度同直径的比超过6:1或轴向长度超过600mm,要尽可能从两端

6、面作轴向扫查。在因为衰减不可能轴向穿透时,可以用轴向斜射束代替轴向直射波束。对内外径的比大于或等于0.6、壁厚小于或等于200mm的环形和空心锻件,还要用斜探头从外径或内径表面沿顺时针和反时针进行扫查,以确保100%的体积覆盖(或按定货条件规定的覆盖范围覆盖)。 5探测频率5.1应采用1--2.5MHz的标称频率检查锻件。由于衰减的影响,必要时可以采用0.5MHz。5.2采用0.5MHz也无法探测的某些区域,经供需双方协商,可以采用其它无损检测方法,以保证锻件质量。 6纵波检验6.1校正方法   纵波检验的灵敏度,应根据定货锻件的厚度和要求的质量等级,在适当厚度和当量的平底孔试块上校正。当被

7、探锻件厚度小于或等于150mm时,可以采用当量试块比较法或距离--振幅曲线法确定探测灵敏度。当被探锻件厚度大于150mm但小于或等于600mm时,可以采用距离--振幅曲线法确定探测灵敏度。当被探锻件厚度大于600mm时,可以按5级锻件或合同规定进行底波检验。对壁厚小于或等于200mm的空心圆形锻件,可以用轴向斜射扫查代替端面直射扫查,为此,可以在圆周扫查所要求的轴向槽上或为轴向斜射扫查特制的横向槽上进行校正。

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