浅议电子产品可靠性试验

《浅议电子产品可靠性试验》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在学术论文-天天文库。

1、浅议电子产品可靠性试验摘要：21世纪带给我们的是一个信息技术高速发展进步的时代，随之而来的不断革新的电子产品研发和制造技术。随着时代的发展和科技的进步，人们在关注电子产品的先进性和实用性的同时，也越来越注重其可靠性。因此，对电子产品可靠性的研究也逐渐被广大生产商列为重要试验项目。本文就电子产品检测的可靠性试验等问题进行了初步探讨和研究。关键词:电子产品可靠性试验试验分类试验方案的选择随着电子产品在研发、制造、种类、功能等各个方面的集成度越来越高，对其品质要求、元件数量以及结构性要求也越来越高。那么，为了检测电子产品是否与其运行环境相适应或是否满足其可靠性指标，就需要

2、利用对其进行可靠性试验的方法来进行测量。与此同时还可通过可靠性测验来发现产品设计上或制作工艺中存在的不足，进而优化产品设计工艺，提高产品综合性能。1、电子产品的可靠性试验目的6可靠性试验的目的是验证产品的可靠性是否达到规定的要求，用来鉴定产品的设计、生产结果和设计工艺变更之后是否符合可靠性要求，根据产品试验目的不同可靠性试验的类型可分为鉴定试验、验收试验和现场试验，试验的结果是否达到了规定的最低可接收的可靠性要求。最大限度的暴露出产品存在的缺陷不足，从而对其进行优化设计改进。尽可能的对产品的可靠性进行保障。研究预防故障发生措施及产品科技创新的效率分布。对选用电子元件

3、进行评价。2、试验的分类可靠性试验的分类很多。根据试验的用途可以分为：可靠性鉴定试验、可靠性验收试验，和可靠性验收试验等。按统计方法可以分为：定时截尾试验、定数截尾试验、序贯试验等。2.1可靠性鉴定试验：可靠性鉴定试验的目的是验证生产厂是否有能力生产出满足可靠性要求的产品。鉴定试验的结果用来判定在下列情况下产品的可靠性是否符合要求。可靠性验收试验：可靠性验收试验的目的是验证批量生产的产品是否能在规定的条件下满足可靠性的要求。验证的结果作为验收产品的依据之一。6现场可靠性试验：在现场使用条件下进行的可靠性验证或测定试验。现场试验可以提供更真实的试验结果，而只要较少的试

4、验设施和试验经费，然而现场试验不可能在严格受控条件下进行，现场试验的再现性不如实验室试验好。是否用现场可靠性试验作为可靠性验证试验或作为它的补充性试验，以及试验条件、试验要求等由生产方与使用方商定。2.2统计试验方案：用于估计产品的平均失效间隔时间（MTBF）的真值，并确定其能否满足规定的可靠性要求。定时定数截尾试验：在试验过程中，连续或按规定时间对受试产品进行监测并计算累积试验时间，或累积失效数，直至达到或超过试验方案规定的累积试验时间或累积失效数为止。截尾序贯试验：在试验过程中，连续或按规定时间对受试产品进行性能监测，并将累积试验时间和累积失效数不断地与规定的接

5、收、拒收或继续试验的判定标准进行比较，直至与截尾接收线或截尾拒收线相交，作出判定结论为止。统计试验方案选择的一般原则是：假如事先规定试验时间、用度或失效数，宜选用定时定数截尾试验方案。一般情况下选用的方案见表1方案5：1至5:7。新研制产品的可靠性试验宜选用定时截尾试验方案，见表1方案5:8、5:9、5:10。假如需要根据预定的判定风险（α、β）对预定的可靠性特征量（m0、m1）作出接收还是拒收判定，并且，事先不能确定总试验时间，则选用截尾序贯试验方案，见表2方案4:1至4:7。6假如生产方和使用方都愿意接受较高风险时，可以选用高风险定时定数截尾试验方案或短时间高风

6、险的截尾序贯试验方案，见表1方案5:8至5:10或表2方案4:8至4:10。定时截尾试验方案（见表1）3、试验方案的选择3.1产品的可靠性鉴定试验和验收试验的试验方案可从表1和表2中选取，选取的原则是：对于可靠性鉴定试验推荐选用定时截尾试验方案；当要求通过试验对产品的平均失效间隔时间的真值作出估计和试验时，推荐选用定时截尾试验案。而对于可靠性验收试验推荐选用序贯试验方案，当仅需要以预定的判别风险率（α、β）和鉴别比（Dm）对产品的平均失效间隔时间作接收或拒绝的判决，并且不需要试验前确定总试验时间和经费时，推荐选用序贯试验方案。3.2具体试验方案为：可靠性试验的样品应

7、从检验合格的产品中随机抽取，其性能和功能应符合产品规范的规定。从检验合格的产品中随机抽取的样本的数量大小，样本量的大小由产品规范规定。试验时间。a)预计的试验时间在采用定时截尾试验方案时，为选定方案的截尾时间除以样本量；采用序贯试验方案时，为选定方案的最大累积相关试验时间除以样本量。b)采用定时截尾试验方案时，当试验进行到截尾试验时间或截尾相关失效数时，试验终止。c)6采用序贯试验方案时，如果在最大累积相关试验时间内可以做出判决，试验终止；当试验到最大累积相关试验时间时，试验终止，并根据判决标准对试验进行判决。如集成电路卡及集成电路卡读写机产品，依据GB/T50