欢迎来到天天文库
浏览记录
ID:12559790
大小:572.00 KB
页数:5页
时间:2018-07-17
《笔记本三代内存(槽)测试点》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、笔记本三代内存(槽)测试点A.电压:(5种)+1.5V(+1.5V_SUS)+1.5V75、76、81、82PIN+0.75V(0.75V_DDR_VTT)+0.75V203、204PIN+SMDDR_VREF_DQ0+0.75V1PIN+SMDDR_VREF_DIMM0+0.75V126PIN+3.3V(+3.3V_RUN)+3.3V199PINB.关键信号:200pin:SMBDATA+3V1.240202pin:SMBCLK+3V1.24030pin:DDR3_DRAMRST#198pin:PM_EXT
2、TS#0注:SMBDATA和SMBCLK信号线上的两个开关MOS管较易损坏,引起内存无法识别。现象是:跑代码不过内存,内存排阻上无波形跳变。(自检不过内存)以上信号名称在不同图纸中会有不同标示,但电压值都是一样。以上是参考DELL的图纸。
此文档下载收益归作者所有