接触（触针）式表面轮廓测量仪

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1、ICS17.040.30J42备案号：36497—20120中华人民共和国机械行业标准JB/T11271—2012接触（触针）式表面轮廓测量仪Contact（stylus）surfacecontourtester2012-05-24发布2012-11-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布目次前言II1范围12规范性引用文件13术语和定义14型式与基本参数14.1型式14.2基本参数15要求25.1外观25.2相互作用25.3触针25.4计量特性25.5安全性能36检验条件36.1温度36.2温度变化36.3

2、等温时间36.4环境36.5电源电压37检验方法37.1外观37.2相互作用37.3触针37.4计量特性37.5安全性能58检验规则58.1出厂检验58.2型式试验59标志与包装59.1标志59.2包装5图1接触（触针）式表面轮廓测量仪2图260°角度量块摆放示意图4图390°角度量块倾斜摆放示意图4图4圆弧评估区域5表1基本参数2前言本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。本标准负责起草单位：哈尔滨量具刃

3、具集团有限责任公司。本标准参加起草单位：哈尔滨科瑞精密仪器有限公司、中国计量学院、成都工具研究所、中国计量科学研究院、广州威而信精密仪器有限公司。本标准主要起草人：孙秀文、郎岩梅、刘力岩、霍炜、于德海、赵军、姜志刚、张恒、戴桂秋。本标准为首次发布。接触（触针）式表面轮廓测量仪1范围本标准规定了接触（触针）式表面轮廓测量仪的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验条件、检验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于用触针扫描法测量工件表面的二维形状位置参数的接触（触针）式表面轮廓测量仪（以下简称“轮廓仪”）。2规范

4、性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T191—2008包装储运图示标志GB/T4879—1999防锈包装GB/T5048—1999防潮包装GB/T6062—2009产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法接触（触针）式轮廓仪的标称特性GB/T6388—1986运输包装收发货标志GB/T9969—2008工业产品使用说明书总则GB/T13384—2008机电产品包装通用技术条件G

5、B/T14436—1993工业产品保证文件总则GB/T17163—2008几何量测量器具术语基本术语3术语和定义GB/T6062—2009、GB/T17163界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1接触（触针）式表面轮廓测量仪contact（stylus）surfacecontourtester以直线导轨为基准，触针沿工件表面运动，记录测量的表面轮廓曲线，计算并评定测量轮廓的尺寸、角度、圆弧半径等二维形状位置参数的测量轮廓仪。3.2坐标系coordinatesystem定义表面轮廓参数的坐标体系。注：通常采

6、用一个直角坐标体系，X轴与基准导轨方向一致，Z轴则在从材料到周围介质的外延方向上。本标准的参数和术语都是在此坐标系中定义的。4型式与基本参数4.1型式轮廓仪的型式如图1所示。图示仅供图解说明，不表示详细结构。4.2基本参数轮廓仪的基本参数见表1。说明：1——底座；2——工作台；3——触针；4——基准导轨；5——立柱；6——驱动箱；7——传感器；8——电箱；9——计算机系统。图1接触（触针）式表面轮廓测量仪表1基本参数坐标方向测量范围mm分辨力mm垂直Z≤600.05，0.1，0.2，…水平X≤2200.1，0.

7、5，1，…5要求5.1外观5.1.1轮廓仪表面不应有影响外观和使用性能的锈蚀、碰伤、划痕等缺陷。5.1.2轮廓仪表面的镀层、涂层不应有脱落、起泡和影响外观的色泽不均等缺陷。5.1.3轮廓仪表面的标记应完整、清晰。5.2相互作用轮廓仪各活动部件运动应平稳、灵活，无卡滞、跳动和爬行现象；紧固部件作用有效、可靠；可调部分应有足够的调整范围。5.3触针5.3.1传感器至少应配备一支针尖半径不大于50mm的触针。5.3.2触针针尖半径：R±5mm；针尖角度最大允许误差：b±2°。注：R为触针针尖半径，单位为mm；b为针尖

8、角度，单位为（°）。5.4计量特性5.4.1静态测力应在0.02N～0.2N范围内。5.4.2基准导轨直线度：≤1mm/80mm；全量程基准导轨直线度：≤1.5mm。5.4.3传感器的示值最大允许误差MPEZ：±（1mm+

9、H

10、/5000）。注：H为触针距离其水平位置的位移量，单位为μm。5.4.4X轴的示值最大允许误差MPEX：±（2μm+L/50000）。注：L为X轴测量的位移量，