晶体管检验规范书

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1、AEC深圳市亚科德电子有限公司SHENZHENAKKORDELECTRONICSCO.,LTD.材料检验规范手册晶体管检验规范书文件编号版本号修改号生效日期WI-QE-004V1.002004.12.22适用范围:适用于我司各种封装二极管、三极管、发光管来料的检验。缺陷判定的详细标准:一、外观、尺寸缺陷判定的详细标准:1.编带包装要求不符、变形、散乱。(轻缺陷)2.污渍⑴表面可轻易擦净的污渍。(轻缺陷)⑵表面不可轻易擦净的污渍。(重缺陷)3.发光管胶体出现气泡、杂物、变形。(重缺陷)4.引脚变形、氧

2、化。(重缺陷)5.丝印错误、模糊不清。(轻缺陷)6.封装、尺寸不符。(重缺陷)7.可焊性差。(轻缺陷)二、性能缺陷判定的详细标准:1.二极管类正、反向电阻量不符。(重缺陷)2.三极管类rbe不符。(重缺陷)3.发光管类⑴额定工作电压不符。(重缺陷)⑵不发光或发光有偏差。(重缺陷)⑶发射管发射光谱不符。(重缺陷)检验设备:操作台、镊子、放大镜、电压源、LED测试架、万用表、LED测试机、测试电脑、暗箱恒温烙铁、锡线检验步骤:外观丝印检验—>封装尺寸检验—>性能指标检验—>可焊性检验一、目测1.检验员取

3、盘(袋)装,需重点目视其标贴、包装形式,以及编带的清洁度、完整性。5AEC深圳市亚科德电子有限公司SHENZHENAKKORDELECTRONICSCO.,LTD.材料检验规范手册晶体管检验规范书文件编号版本号修改号生效日期WI-QE-004V1.002004.12.222.拆开编带手拿镊子取待检料,需重点目视:⑴待检物料外形的清洁度、完整度;⑵待检物料脚的完整性、氧化状况;3.将待检物料丝印朝上置于放大镜下70-80mm处,通过放大镜目视:⑴丝印的清晰度、准确性;⑵发光管胶体内部的清洁度、完整度;

4、注:以上检验可参照《检验规格书》上的封样。一、卡尺量测检验员需对照《检验规格书》上的“技术资料”及“技术图纸”量测的项目:⑴待检物料外形的尺寸(长、宽或直径、高);⑵待检物料引脚的尺寸(长、宽或直径、高、间距);二、性能指标检验1.二极管类用万用表分别测试被测试二极管正—>负、负—>正的电阻量,并与封样做比较。2.三极管类用万用表分别测试被测试二极管b—>e的电阻量,并与封样做比较3.发光管类⑴普通发光管①将LED测试架以正确的方法连接到电压源上,并将LED正确插到LED测试架的插槽上。②将万用表调

5、至电压档“20V”位,并用表笔接触灯管两引脚,打开电压源,对照万用表的显示将LED电压调至额定电压。③调节电压源微调旋钮试之电压降低,直至熄灭,确定起亮度的统一性。⑵发射发光管①用普通发光管的《性能指标检验》来检验其额定工作电压、亮光度。(仅限于λ=850mm)②将LED灯装配到测试机上并连接到测试电脑上,对准近处某一物体将测试程序画面调至最清晰后,将其放置在暗箱中,观注图象画面。(λ=940mm发光管需配日夜两用型双通镜头,λ=940mm发光管配普通镜头)三、可焊性检验用烙铁为其引脚上锡,要求34

6、0℃—350℃、时间2±0.5秒。6

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