31.带表卡尺自校规程

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1、厦门众力达机械有限公司带表卡尺自校规程文件编号WI-31版本1.0受控状态■受控□非受控批准审核编制生效日期2014年08月29日页次第3页共3页更改记录修订次数实施日期更改描述第3页共3页厦门众力达机械有限公司带表卡尺自校规程文件编号WI-31版本1.0受控状态■受控□非受控批准审核编制生效日期2014年08月29日页次第3页共3页1.目的确保带表卡尺符合检验要求，对其进行校准。2.范围本规程适用于我司分度值为0.02mm、测量范围上限至200mm通用卡尺的首次校准，后续校准，使用中校准。3.工作

2、程序3.1结构概述带表卡尺是用来测量外尺寸和内尺寸、盲孔、阶梯形孔及凹槽等相关尺寸的量具。其主要结构形状如图所示图33.2校正步骤3.2.1校准条件1)计量室室内温度（20±5）℃。2)计量室室内湿度不得超过80%RH。3)校准前，应将被校准卡尺及量块等校准用设备同时置于平板或木桌上，一小时后方可进行校准。第3页共3页厦门众力达机械有限公司带表卡尺自校规程文件编号WI-31版本1.0受控状态■受控□非受控批准审核编制生效日期2014年08月29日页次第3页共3页3.2.2校准方法1)外观目力观察2)

3、各部分相互作用目力观察和手动试验。3)各部分相对位置目力观察或用2级塞尺进行比较校准。4)零值误差移动尺框，使游标卡尺或带表卡尺量爪两外测量面接触。对于深度游标卡尺，将尺框基准面与尺身测量面同时与平板接触。分别在尺框紧固和松开的情况下，用目力观察。5)示值变动性在相同条件下，移动尺框，使游标卡尺或带表卡尺量爪两外测量面接触；对于深度游标卡尺，将尺框基准面与尺身测量面同时与平板接触，重复测量10次并读数。示值变动性以最大与最小读数的差值确定。6)示值误差用3级或6等量块校准。受校准点的分布：对于测量范

4、围在300mm内的卡尺，不小于均布分布3点。卡尺校准点分布在20mm、50mm、100mm。误差不得超过0.02mm。7)校准结果的处理经校准符合本规程要求的在量具空白处贴上《校准标签》，不符合本规程要求的，暂停使用，维修后，再校准。8)校准周期校准周期可按实际使用情况而定，卡尺校准周期一般在三个月以内。1.相关文件无2.记录5.1计量器具自校记录表第3页共3页