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时间:2018-07-15
《金相显微镜axio imager m2m》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、研究级智能全自动万能金相显微镜AxioImagerM2m品牌:卡尔·蔡司型号:AxioImagerM2m制造商:德国卡尔蔡司公司经销商:北京普瑞赛司仪器有限公司产地:德国联系方式:800-890-0660ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天,ZEISS仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品。通过我们不断改进的显微技术,我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观世界的道路。今天的显微镜与以往相比,它们的成像质量更好、效率更高、机械性能更加稳定,并且更加环保。总体描述:金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组
2、织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支,既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征,亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷(例如位错)的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。金相学的兴起给金属材料研究带来了历史性的变革,而蔡司长久以来一直致力于金相显微镜的研发与应用,并将金相学的科研水平推向一个又一个高点。2010年蔡司最新推出的金相显微镜AxioImagerM2m再次为金相学的长足发展了提供最佳检测工具。 旷世经典、延续传奇!蔡司研究级智能全自动正立
3、万能材料显微镜AxioImagerM2m的诞生源于蔡司高端智能显微镜AxioImagerM1m升级产品,在研究级智能全自动万能材料显微镜AxioImagerM1m卓越的产品性能基础上,对光路设计尤其是照明系统进行了全新的升级,将光学系统的优化发挥到了极致,展现给您无微不至的细节和最锐利的显微图像。AxioImagerM2m可通过AxioVision软件、TFT液晶显示屏、远程、手动等方式进行显微镜的所有操作控制,操作菜单和所采集的图像及显微镜功能控制同界面,是至今为止智能化程度最高的研究级显微镜。AxioImagerM2m的诞生给智能化显微镜提出了全新的标准,将蔡司的显微
4、技术又一次推向了巅峰。凭借AxioImager,蔡司再次向世界证明了其全球技术先锋的领导地位!产品特点:1、 采用世界上最优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型(ICCS)光学系统,为用户提供最锐利的图像。2、 更高品质的光学部件,更完善的色差校正,从而获得超强的对比度和极高的分辨率。3、 全新的照明理念获得出色的成像质量,xioImagerA2m采用全新的照明系统,最大限度地降低了杂散光的干扰和图像的畸变,从而获得最出色的图像对比度。4、 6位或10位的观察功能转盘获得绝无仅有的超大升级空间,满足您日趋复杂的分析要求。5、 创新的设计保证工作的稳定性,不受环境振动的影响。
5、6、 精益求精的人机工程学设计,让您保持操作仪器时无任何负担。技术参数:光学系统:ICCS光学系统镜体:FEM设计,ACR位置编码1、ICCS物镜:5X、10X、20X、50X、100X可选1.25X、2.5X、150X2、目镜:10X/233、物镜转盘:研究级7孔或6孔明暗场自动物镜转盘4、观察功能转盘:6-10位,有预留位置便于日后升级5、观察功能:反射光:自动切换明场、ADF高级暗场、圆偏光、微分干涉、荧光 透射光:自动切换明场、ADF高级暗场、圆偏光、相衬6、光源:12V100W卤素灯,智能化光路管理器,光强色温自动可调7
6、、光学附件:目镜测微尺,台尺,各种滤色片8、Z轴聚焦:自动聚焦9、数字化平台:可配数字相机,计算机,图像分析软件10、可配热台11、可配自动扫描台,实现多视场自动扫描。12、可配激光共聚焦附件(蔡司独有技术)13、可升级为颗粒度分析工作站产品应用:应用目标群体实例金属样品分析•质量控制•失效分析•新材料开发•结构成分的鉴定和量化•晶粒大小和非金属夹杂物的检测•腐蚀损害的分析•气孔和裂痕的检测•孔隙率的测定•机械工程学•汽车制造行业•汽车行业•航空、航天领域•船工业•金属行业•铸造业•以上各行业和大学的研究中心反射光C-DIC下的珍珠岩:两束正交光方向上的图像区分 材料分
7、析•质量控制•阻力测试•失效分析•鉴定•材料科学的研究中心•新材料机构•汽车行业•航空航天领域•船舶制造业•精密仪器行业复合材料(碳加强的碳化硅),反射光, 聚合物分析•质量控制•阻力测试•失效分析•鉴定•塑料加工行业•汽车领域•航空、航天领域•精密器械•塑料行业的研究中心复合材料(涂有塑料的铝)偏光+RedI,透射光 矿物原材料分析•岩相测定和定量分析•质地和结构分析•气孔分析•矿物、地质行业的研究机构•采矿公司(天然气和原油、岩石学、粘土/瓷土/石英、经济地质学)反射光明场下含黄铁的矿石微系统元件的分析和测试•缺陷分析
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