电子元器件检验规范标准

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1、电子元器件检验规范标准(一)IC类检验规范(包括BGA)1.目的作为IQC人员检验IC类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有IC(包括BGA)之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):0.4;次要缺点(MI):1.5.5.参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。b.包装必须采用防静电包

2、装,否则不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受;b.来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;c.本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过0.5mm2,且未露出基质,可接受;否则不可接受;e.Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;f.元件脚弯曲,偏位,缺损或少脚,均不可接受;目检或10倍以上的放

3、大镜检验时,必须佩带静电带。备注:凡用于真空完全密闭方式包装的IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的,IQC仅进行包装检验,并加盖免检印章;该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH对应的位置有没有变成粉红色,若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。(二)贴片元件检验规范(电容,电阻,电感…)1.目的便于IQC人员检验贴片元件类物料。2.适用范围适用于本公司所有贴片元件(电容,电阻,电感…)之检验。3.抽样计划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽

4、样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):0.4;次要缺点(MI):1.5.5.参考文件《LCR数字电桥操作指引》《数字万用表操作指引》检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。b.包装必须采用防静电包装,否则不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MA

5、a.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受;b.来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;c.本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过0.5mm2,且未露出基质,可接受;否则不可接受;e.Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;目检10倍以上的放大镜检验时,必须佩带静电带。电性检验MA元件实际测量值超出偏差范围内.LCR测试仪数字万用表检验时,必须佩带静电带。二极管类型检测方法LED选择数字万用表的二极管档,正向测量,LED需发出与要求相符的颜色的光,而反向测量不发

6、光;否则该二极管不合格。注:有标记的一端为负极。其它二极管选择数字万用表的二极管档,正向测量,读数需小于1,而反向测量读数需无穷大;否则该二极管不合格。注:有颜色标记的一端为负极。备注抽样计划说明:对于CHIP二极管,执行抽样计划时来料数量以盘为单位,样本数也以盘为单位;从抽检的每盘中取3~5pcs元件进行检测;AQL不变。检验方法见"LCR数字电桥测试仪操作指引"和"数字万用表操作指引"。(三)插件用电解电容.1.目的作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。2.适用范围适用于本公司所有插件用电解电容之检验。3.抽样计

7、划依MIL-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准(AQL)严重缺点(CR):0;主要缺点(MA):0.4;次要缺点(MI):1.5.5.参考文件《LCR数字电桥操作指引》、《数字电容表操作指引》。检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;b.实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。

8、目检点数外观检验MAa.极性等标记符号印刷不清,难以辨认不可接受;b.电解电容之热缩套管破损、脱落,不可接受;c.本体变形,破损等不可接受;d.Pin生锈氧化,均不可接受。目检可焊性检验MAa.Pin上锡不良,或完全不上锡不可接受。(将PIN沾上现使用之合格的松香水,再插入小锡炉5秒钟左右

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