JBT 5439-1999 压缩机球墨铸铁零件的超声波探伤.pdf

《JBT 5439-1999 压缩机球墨铸铁零件的超声波探伤.pdf》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。

1、免费标准网(www.freebz.net)J72JB/T5439－1991压缩机球墨铸铁零件的超声波探伤1991-07-22发布1992-07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载免费标准网(www.freebz.net)中华人民共和国机械行业标准JB/T5439－1991压缩机球墨铸铁零件的超声波探伤1主题内容与适用范围本标准规定了采用A型脉冲反射式超声波探伤仪所进行的探伤方法和缺陷等级分类。本标准适用于压缩机球墨铸铁零件（以下简称“工件”）和其他类似部件的超声波探伤。2引用标准ZBY

2、230A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件ZBJ04001A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法JB3111无损检测名语术语3术语3.1透声性超声纵波垂直入射到测试面与底面平行的无缺陷工件时，声波在其中往返一次所引起的声压降，单位为分贝（dB）。3.2本标准其他术语按JB3111的规定。4探伤人员压缩机球墨铸铁零件探伤应由具有一定基础知识和球墨铸铁件探伤经验，并经考核取得有关部门认可的资格证书者担任。5探伤器材5.1探伤仪5.1.1采用A型脉冲反射式超声波探伤仪，其频率范围应在1~5MHz之间。5.1.2仪器至少应在满刻度的75%范围内呈线性显

3、示，垂直线性误差不得大于5%。5.1.3仪器的水平线性、分辨力和衰减器的精度等指标均应符合ZBY230的有关规定。5.2探头5.2.1纵波直探头的晶片直径应在10~30mm之间，工作频率为1~5MHz，频率误差为±10%。25.2.2横波斜探头的晶片面积应在100~400mm，K值一般取1~3。5.2.3纵波双晶直探头晶片之间的声绝缘必须良好。5.3仪器系统的性能仪器系统的灵敏度余量和分辨力应按照ZBJ04001的有关规定进行测试。5.3.1在工作频率下，纵波直探头的灵敏度余量不得低于30dB，横波斜探头的灵敏度余量按附录A（补充件）A1.2条的规

4、定。机械电子工业部1991-07-22批准1992-07-01实施1免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载免费标准网(www.freebz.net)JB/T5439－19915.3.2在工作频率下，纵波直探头的分辨力不得低于20dB，横波斜探头的分辨力不得低于15dB。5.4试块标准试块用碳钢或低合金钢锻件材料制作，不允许存在大于或等于φ2mm平底孔当量的缺陷。5.4.1纵波直探头采用的标准试块5.4.1.1工件探测距离大于或等于1.6倍近场区，应采用纵波直探头。5.4.1.2纵波直探头探伤采用的标准试块的形状和尺寸按图1和表1

5、。图1表1高度H457095120145170220直径D506070805.4.2纵波双晶直探头采用的标准试块5.4.2.1工件探测距离小于1.6倍近场区，应采用纵波双晶直探头。5.4.2.2纵波双晶直探头探伤采用的标准试块形状和尺寸按图2和表2。图2表2mm序号123456789探测距离L510152025303540452免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载免费标准网(www.freebz.net)JB/T5439－19915.4.3横波斜探头探伤采用的标准试块的形状和尺寸应按附录A中A1.3条及图A1的规定。5.4.4

6、探伤面是曲面时，应采用与工件曲率半径相同或接近（0.7~1.1倍）的对比试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失，其形状和尺寸按图3及表1。图35.5耦合剂可采用机油、甘油、油脂等透声性能好，且不损害工件的耦合剂。6探伤时机及准备工作6.1探伤原则上应安排在最终热处理后进行，若因热处理后工件形状不适于超声探伤，也可将探伤安排在热处理前，但热处理后，仍应对其进行尽可能完全的探伤。6.2工件应在外观检查合格后，方可进行超声探伤，所有影响超声检测的物质都应予以清除。6.3探伤面的表面粗糙度值应为Ra3.2µm。7探伤方法工件超声探伤以纵波直探头和纵波双晶直

7、探头为主要探伤方法。如因受工件形状和缺陷方向的限制，无法单独用纵波探伤进行有效的检测，经供需双方协商同意，可采用附录A规定的横波检验方法。7.1探测方向7.1.1原则上应从探测面上两相互垂直的方向进行，并应尽量扫查到工件的整个体积。7.1.2主要工件的探测方向如图4所示。a连杆3免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载免费标准网(www.freebz.net)JB/T5439－1991b曲轴c高压气缸体和高压气缸头d十字头图44免费标准网(www.freebz.net)无需注册即可下载免费标准网(www.freebz.net)JB

8、/T5439－19917.2扫查7.2.1应对工件整个探测面进行全面连续扫查。相邻两次扫查其相互重叠部分约为探头晶片直径的