《材料现代分析方法》练习与答案修改分解

《《材料现代分析方法》练习与答案修改分解》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在教育资源-天天文库。

1、一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（  B）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；2.M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（B）A.Kα；B.Kβ；C.Kγ；D.Lα。三、填空题1.当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和特征X射线。2.X射线与物质相互作用可以产生俄歇电子、透射X射线、散射X射线、荧光X射线、光电子、热、、。3.X射线的本质既是波长极短的电磁波也是光子束，具有波粒二象性性。5.短波长的X射线称，常用于；长波长的X射线称，常用于。一、选择题1.有一倒易

2、矢量为，与它对应的正空间晶面是（）。A.（210）；B.（220）；C.（221）；D.（110）；。2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（）衍射线。A.三条；B.四条；C.五条；D.六条。3.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（）。A．是否满足布拉格条件；B．是否衍射强度I≠0；C．A+B；D．晶体形状。4.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（）。A．4；B．8；C．6；D．12。二、填空题1.倒易矢量的方向是对应正空间晶面的；倒易矢量的长度

3、等于对应。2.只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表示该满足条件，能产生。3.影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还有，，，。4.考虑所有因素后的衍射强度公式为，对于粉末多晶的相对强度为。5.结构振幅用表示，结构因素用表示，结构因素=0时没有衍射我们称或。对于有序固溶体，原本消光的地方会出现。三、选择题1.最常用的X射线衍射方法是（）。A.劳厄法；B.粉末多法；C.周转晶体法；D.德拜法。2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（）。A.正装法；B.反装法；C.偏装法；D.A+B。3.德拜法中对试样的要求除了无应

4、力外，粉末粒度应为（）。A.<325目；B.>250目；C.在250-325目之间；D.任意大小。4.测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是（）。A.保持同步1﹕1；B.2﹕1；C.1﹕2；D.1﹕0。5.衍射仪法中的试样形状是（）。A.丝状粉末多晶；B.块状粉末多晶；C.块状单晶；D.任意形状。11一、填空题1.在粉末多晶衍射的照相法中包括、和。2.德拜相机有两种，直径分别是和Φmm。测量θ角时，底片上每毫米对应º和º。3.衍射仪的核心是测角仪圆，它由、和共同组成。4.可以用作X射线探测器的有、和等。5.影响衍射仪实

5、验结果的参数有、和等。二、选择题1.测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（）。A.外标法；B.内标法；C.直接比较法；D.K值法。2.X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（）进行核对。A.Hanawalt索引；B.Fenk索引；C.Davey索引；D.A或B。3.德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于（）。A.相机尺寸误差；B.底片伸缩；C.试样偏心；D.A+B+C。4.材料的内应力分为三类，X射线衍射方法可以测定（）。A.第一类应力（宏观应力）；B.第二类应力（微观应力）；C.第三类应力

6、；D.A+B+C。5.Sin2Ψ测量应力，通常取Ψ为（）进行测量。A.确定的Ψ角；B.0-45º之间任意四点；C.0º、45º两点；D.0º、15º、30º、45º四点。三、填空题6.在Δθ一定的情况下，θ→º，Δsinθ→；所以精确测定点阵常数应选择θ。7.X射线物相分析包括和，而更常用更广泛。8.第一类应力导致X射线衍射线；第二类应力导致衍射线；第三类应力导致衍射线。9.X射线测定应力常用仪器有和，常用方法有和。10.X射线物相定量分析方法有、、等。四、选择题1.若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm，那么这台电镜

7、的有效放大倍数是（4*10-5）。A.1000；B.10000；C.40000；D.600000。2.可以消除的像差是（）。A.球差；B.像散；C.色差；D.A+B。3.可以提高TEM的衬度的光栏是（）。A.第二聚光镜光栏；B.物镜光栏；C.选区光栏；D.其它光栏。4.电子衍射成像时是将（）。A.中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合；B.中间镜的物平面与与物镜的像平面重合；C.关闭中间镜；D.关闭物镜。5.选区光栏在TEM镜筒中的位置是（）。A.物镜的物平面；B.物镜的像平面C.物镜的背焦面；D.物镜的前焦面。五、填空题1

8、1.TEM中的透镜有两种，分别是物镜和目镜。12.TEM中的三个可动光栏分别是第二聚光镜光栅位于第二聚光镜下方焦点位置，物镜光栅位于物镜后焦面上，选区光栅位于物镜像平面位置。13.TEM成像系统由物镜、中间镜和投影镜组成。111.TEM的主要组成部分是照明系统、成像系统和观察记录系统；辅助部分由真空系统、循环冷却系统