jjg853-1993 低本底α、β测量仪检定规程

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1、中华人民共和国国家计量检定规程JJG853-1993低本底a、p测量仪LowBackgroundAlphaand/orBetaMeasuringInstrument1993一09一22发布1994一04一01实施国家技术监督局发布.1.1G853-1"3、低本底a,p测量仪检定规程产。.O.O.O.O.O.口.O.O.O.O.O.O.O.。.。.心.心.今.令.VerificationRegulationofLowBackground;JJG853-1993心Alphaand/orBetaMeasuringInstrument又、.门，.，，.‘，.‘，.o.0.o.0

2、.o.o.o.0.o.o.尸本检定规程经国家技术监督局于1993年09月22日批准，并自1994年04月01日起施行。归口单位:中国计量科学研究院起草单位:中国计量科学研究院本规程技术条文由起草单位负责解释标准分享网www.bzfxw.com免费下载ITG553-1993本规程主要起草人:唐贞信(中国计量科学研究院)JJG853-1993目录一概述··························································································⋯⋯(1)二技术要求·............

3、.............................................................................(1)三检定条件·.........................................................................................(2)四检定项目和检定方法·..........................................................................(3)五检定结果处理和检定周期·.........

4、...........................................................(5)附录1术语····················································································⋯⋯(6)附录2几何因子··············································································⋯⋯(7)标准分享网www.bzfxw.com免费下载.1.1G853-1993低本底a,p测

5、量仪检定规程本规程适用于新制造、使用中和修理后的低本底。、F3和。/R活度或表面粒子数测量仪的检定。。粒子的能量大于3.9MeV,R粒子的最大能量不小于0.15MeV.本规程不适用于测量。或R能谱和表面污染检测类型仪器的检定。概述本规程涉及的受检装置主要由探测器部件、测量部件和电源部件等组成。这些部件可以组装成一个整体，也可以分为儿个部分。被测样品的。或R粒子进人探测器灵敏体后，产生电脉冲，该脉冲经整型、放大、甄别后，输人计数电路，根据仪器输出的脉冲数，可求出样品中放射性核素的活度。二技术要求1仪器的分级本底计数率低、探测效率高和稳定度好为低本底。、R测量仪的3个主要指

6、标。本规程根据这3个指标分为工、I,m级，见表to表1仪器分级技术指标工IIf单位面积上的平均本底计数率仪蕊0.0017簇0.005,0.017(n-min-gem-')R,0.05蕊0.15<0.5Q,90%_,80%弃70%效率比R,R,60%)50%,40%a<2%<3%<5%效率R<5%<10%<15%稳定度ane

7、给出的平均本底计数率(op.).4.n。为检定时测得受检仪器24h本底计数率(cpm)o5.V,为本底计数率的变异系数。JJG853-19932仪器的表面适当部位应有产品铭牌，标明仪器的名称、型号、出厂编号、制造厂名和日期。仪器出厂时必须有厂家检定合格证书，仪器技术说明书和使用说明书。3受检户必须具备有与自己常测的放射性核素能量相同或相近的放射性标准源或标准物质。受检户所用标准源活性区的面积应与待测样品面积相同或相近，并略小于探测器的灵敏面积，标准源表面粒子发射率以1了一10'粒子/(min"2动为宜;标准物质的比活度以10一100Bq/