犓犇犘晶体加工表面的亚表面损伤检测与分析

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1、第15卷第11期光学精密工程Vol.15No.112007年11月OpticsandPrecisionEngineeringNov.2007文章编号1004924X(2007)11172106犓犇犘晶体加工表面的亚表面损伤检测与分析吴东江,曹先锁,王强国,王奔,高航,康仁科(大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室,辽宁大连116024)摘要:采用截面显微法和择优蚀刻法分别对磷酸二氢钾(KDP)晶体从线切割样品制备到磨削、抛光亚表面损伤进行检测,利用OLYMPUSMX40光学显微镜对表面腐蚀现象与亚表面裂纹形状进

2、行观测,并对裂纹深度进行测量。结果表明,由线切割产生的亚表面损伤裂纹形状以“斜线状”为主,裂纹深度最大值为85.59μm;由#600砂轮磨削产生的亚表面损伤深度最大值为8.55μm。在(001)晶面出现了四方形的分布密度较高的位错腐蚀坑;而在三倍频晶面上出现的是密度较低、形状类似梯形的位错腐蚀坑。该研究为KDP晶体亚表面损伤提供了一种检测与分析手段。关键词:KDP晶体;损伤检测;裂纹形状;裂纹深度中图分类号:O786文献标识码:A犇犪犿犪犵犲犱犲狋犲犮狋犻狅狀犪狀犱犪狀犪犾狔狊犻狊狅犳犿犪犮犺犻狀犲犱犓犇犘犮狉狔狊狋犪犾

3、狊狌犫狊狌狉犳犪犮犲WUDongjiang,CAOXiansuo,WANGQiangguo,WANGBen,GAOHang,KANGRenke(犓犲狔犔犪犫狅狉犪狋狅狉狔犳狅狉犘狉犲犮犻狊犻狅狀犪狀犱犖狅狀狋狉犪犱犻狋犻狅狀犪犾犕犪犮犺犻狀犻狀犵犜犲犮犺狀狅犾狅犵狔狅犳狋犺犲犕犻狀犻狊狋狉狔狅犳犈犱狌犮犪狋犻狅狀,犇犪犾犻犪狀犝狀犻狏犲狉狊犻狋狔狅犳犜犲犮犺狀狅犾狅犵狔,犇犪犾犻犪狀116024,犆犺犻狀犪)犃犫狊狋狉犪犮狋:ThesubsurfacedamageofPotassiumDihydrogenPho

4、sphate(KDP)crystalmachinedfromlineincisiontogrindingandpolishingwasdetectedusingsectionexperimentandstepetchingexperiment.TheOLYMPUSMX40opticmicroscopewasusedtoobservethesurfaceetchingphenomenaandthesubsurfacemicrocrackconfigurations,andtomeasurethemicrocrac

5、kdepth.Theresultsshowthatthesubsurfacemicrocrackconfigurationsinducedbylineincisionismainlyof“biasfigure”,andthemaxmicrocrackdepthis85.59μm.Whilebythe#600grindingwheelthemaxdepthreducesto8.55μm.Thesquaredislocationsetchingpitswithhighdensityareon(001)crystal

6、surfaceandthelowdensityetchingpitswiththefigureresembledtrapeziumareonthetriplersurface.ThisstudyaffordsaexcellentdetectionandanalysismethodforthesubsurfacedamageofKDPcrystalmachining.犓犲狔狑狅狉犱狊:KDPcrystal;damagedetection;microcrackconfiguration;microcrackdepth收

7、稿日期:20070702;修订日期:20070821.基金项目:国家自然科学基金重点项目(No.50535020)1722光学精密工程第15卷容易实现,但精确度不高,对损伤较小的晶体检测[57]1引言很困难。KDP晶体加工所需样品制备在沈阳科晶公科学技术的迅速发展,尤其是航空航天、国防司生产的STX602型精密台式金刚石线切割机军工、信息技术、微电子及光电子等尖端科学技术上完成(切割参数:金刚石线直径0.27mm,金刚的不断发展,对材料提出了新的要求,推动了新材石粒度W20,线速度100m/min,进给量为料

8、的发展。KDP(KH2PO4)晶体是20世纪40年0.8mm/min),切割后的KDP晶体表面有明显代发展起来的一种非常优良的电光非线性光学晶金刚石线切割留下的切痕,粗糙度值较大,犚犪=体材料。由于它具有较大的电光和非线性系数以4.21μm。由于线切割产生的亚表面损伤较大,及较高的激光损伤阈值等特点,已被广泛应用于故

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