面阵探测器相连缺陷元识别定位研究

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1、面阵探测器相连缺陷元识别定位研究侯治锦1，2，3，傅莉1，司俊杰2，3，王巍2，3，吕衍秋2，3，鲁正雄2，3，王锦春2，3(1.西北工业大学电子信息学院，西安，710072；2.中国空空导弹研究院，河南洛阳，471099；3.红外探测器技术航空科技重点实验室，河南洛阳，471099）摘要：相连缺陷元识别定位一直是面阵探测器研究难点。本文报道了面阵探测器相连缺陷元识别定位的研究成果。面阵探测器相连缺陷元的光电信号与正常元基本相同，因此采用现有面阵测试方法无法识别相连缺陷元。针对相连缺陷元的特点，提出了借助改变面阵探测

2、器光电响应的方法来实现相连缺陷元的识别定位。实验结果表明该方法使面阵探测器分为两个不同透过率探测单元，多元相连缺陷元响应电压是相对应的两个不同透过率探测单元响应电压之和的平均值。采用MATLAB软件对测试数据进行分析处理，分析结果清晰给出缺陷元诸如个数、形状和位置等详细信息。采用本方法面阵探测器相连缺陷元可以被显著识别定位。研究结果为今后的面阵探测器评测与可靠性提高提供了参考。关键词：面阵探测器；相连缺陷元识别；缺陷元定位；缺陷；红外中图分类号：TN215文献标识码：AStudyonIdentificationand

3、OrientationofConnectedDefectiveElementsinFPAHOUZhi-jin1，2，3，FULi1，SIJun-jie2，3，WANGWei2，3，LVYan-qiu2，3，LUZheng-xiong2，3，WANGJin-chun2，3(1.SchoolofElectronicsandInformation,NorthwesternPolytechnicalUniversity,Xi’an,710072,China;2.LuoyangOptoelectroTechnologyDeve

4、lopmentCenter,LuoyangHenan,471099)Abstract：Asweknow,itisdifficulttoidentifyconnecteddefectiveelementsbyFPAtest-benchbecausetheresponsevoltageofconnecteddefectiveelementsisbasicallythesameasthatofnormalpixels.Inthispaperidentificationandorientationofconnecteddef

5、ectiveelementsinfocalplanearray(FPA)arepresented.Tocharacteristicofconnecteddefectiveelements,weproposedanovelmethodwhichrealizestheidentificationandorientationofconnecteddefectiveelementsbymeasuringtheresponsevoltageofdetectors.Resultsshowthattheresponsevoltag

6、eofdetectorcanbedividedintotwosectionsbyusingtheproposedmethod.Theresponsevoltageofconnecteddefectiveelementsisaverageofcorrespondingresponsevoltageofthetwosectionsunits.ThetestdataisanalyzedbyMATLABsoftwareandtheparticularinformationofconnecteddefectiveelement

7、ssuchasnumber,shapeandlocationisshown.Theconnecteddefectiveelementsareidentifiedandorientatedmarkedlybythetechnique.OurstudypresentsacrucialstepfortestingandevaluatingFPA.Keywords：Focalplanearray;connecteddefectiveelementsidentification;defectiveelementsorienta

8、tion;defective;infraredPACS：95.55.Aq引言红外焦平面探测器具有灵敏度高、环境适应性好、抗干扰性强等优点，被广泛应用于国防武器、红外遥感和气象环境等军民两用领域[1~2]。响应波段在1～5.5μm的锑化铟（InSb）[3~4]面阵探测器具有灵敏度高（相对于铂硅PtSi），在批量生产中具有工艺成熟度高（相对于碲镉汞