综合布线概念详释

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时间:2018-07-07

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1、综合布线概念详释~教育资源库鉴于目前国内结构化综合布线领域的从业人员素质参差不齐,对测试方法和测试标准的理解存在着偏差,本报将分几期对布线系统测试所涉及的参数及其测试原理进行一些简要的介绍,以期抛砖引玉,促进国内同业精英各抒高见,共同推动布线行业的发展。  如果五类及六类的新的测试标准能够按照TIA的原定计划如期在明年第一季度推出的话,国内的布线产品提供商就将面临一场严峻的考验。新的测试标准将增加几项参数,如等电平远端串扰(ELFEXT)、回波损耗(ReturnLoss简称回损)、延迟差异(DelaySkeNEXT,PSNEXT)  衰减量(Attenua

2、tion)  衰减对串扰比(AttenuationCrosstalkRate,ACR)  远端串扰(FEXT)及等电平远端串扰(ELFEXT)  传播延迟(PropagationDelay)  延迟差异(DelaySkepedance)  直流环路电阻  杂讯  ■接线图  接线图用来表示错误接线的方式。每一条电缆的四对八根线芯的接线图可以表示:  在每一端点的正确压线位置  是否与远端导通  两芯或多芯的短路  交错线对  反向线对  分岔线对  其他各种接线错误  反向是指线对的一端极性相反。交错是指远端的两个线对位置相互对调。分岔指各芯线是以一对一的

3、方式导通着,但物理线对位置分开。特别提醒读者注意,分岔线对是经常出现的、但是使用简单的通断仪器不能被准确地查找出来的接线故障。在10Base-T网络中,此种接线故障由于网络对布线系统的要求较宽松而对网络的整体运行不会产生太大的影响,但是高速以太网测试仪器,如100Base-TX测试仪器的接线图测试功能都必须能发现这种错误。由于五类验证仪器价格不菲,用户可选用美国Microtest公司生产的局域网侦测仪MicroScanner,该仪器能全面检测各种接线问题,价格便宜且方便实用。  ■长度测量  对铜缆长度进行的测量应用了一种称为TDR(时间域反射测量)的测试

4、技术。测试仪从铜缆一端发出一个脉冲波,在脉冲波行进时如果碰到阻抗的变化,如开路、短路、或不正常接线时,就会将部分或全部的脉冲波能量反射回测试仪。依据来回脉冲波的延迟时间及已知的信号在铜缆传播的NVP(额定传播速率)速率,测试仪就可以计算出脉冲波接收端到该脉冲波返回点的长度。NVP是以光速(c)的百分比来表示的,如0.75c或75%。  返回的脉冲波的幅度与阻抗变化的程度成正比,因此在阻抗变化大的地方,如开路或短路处,会返回幅度相对较大的回波。接触不良产生的阻抗变化(阻抗异常)会产生小幅度的回波。  测量的长度是否精确,取决于NVP值。因此,应该用一个已知的

5、长度数据(必须在15米以上)来校正测试仪的NVP值。但TDR的精度很难达到2%以内,同时,在同一条电缆的各线对间的NVP值,也有46%的差异。另外,双绞线线对实际长度也比一条电缆自身要长一些。在较长的电缆里运行的脉冲波会变形成锯齿形,这也会产生几纳秒的误差。这些都是影响TDR测量精度的原因。  测试仪发出的脉冲波宽约为20纳秒,而传播速率约为3纳秒/米,因此该脉冲波行至6米处时才是脉冲波离开测试仪的时间。这也就是测试仪在测量长度时的盲区,故在测量长度时将无法发现这6米内可能发生的接线问题(因为还没有回波)。  测试仪也必须能同时显示各线对的长度。如果只能得

6、到一条电缆的长度结果,并不表示各线对都是同样的长度。  早期的一些测试仪不是采用TDR原理测量长度,而是以用频率域方式测量回流损耗的方法来测量阻抗的变化以便计算长度,这种方法在各对线出现长短不等的情况时会发生误判。  ■近端串扰(NEXT)  当电流在一条导线中流通时,会产生一定的电磁场,干扰相邻导线上的信号。频率越高这种影响就越大。双绞线就是利用两条导线绞合在一起后,因为相位相差180度的原因而抵消相互间的干扰的。绞距越紧则抵消效果越佳,也就越能支持较高的数据传输速率。  近端串扰是指在与发送端处于同一边的接收端处所感应到的从发送线对感应过来的串扰信号。

7、在串扰信号过大时,接收器将无法判别信号是远端传送来的微弱信号还是串扰杂讯。  需要注意的是,表示低NEXT时的值越大(如45dB),发送的信号与串扰信号幅度差就越大,高NEXT的值就越小(如20dB),而这是要设法避免的。  为了符合5类规格,在电缆端接处的非绞接部分长度不能超过13米。通常会产生过量NEXT的原因有:  使用不是绞线的跳线。  没有按规定压接终端。  使用老式的66接线块。  使用非数据级的连接器。  使用语音级的电缆。  使用插座对插座的耦合器。  另外,要特别注意,在链路两端测量NEXT值时,尤其在长度大于40米时,远端的串扰会被链路

8、的衰减所抵消,而无法在近端测量到其NEXT值。在链路两端测量到的N

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