南昌大学材料测试分析 期末重点

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1、第一章1、连续X射线：从某一短波限l。开始，直至波长等于无穷大l¥的一系列波长。特征X射线：具有一定波长的特强X射线，叠加于连续X射线谱上。连续X射线谱：强度随波长连续变化的谱线。特征X射线谱：当管电压达到阳极材料某特征UK时，在某特定波长范围处，产生的强度特别大的谱线X射线管适宜工作电压U≈（3～5）Uk光电效应：当入射光子的能量等于或大于碰撞体原子某壳层电子的结合能时，光子被电子吸收，获得能量的电子从内层溢出，成为自由电子，即光电子，高能量层电子填补激发态空位，能量差以X射线形式辐射，该现象称为光电效应。二次X射线（荧光辐射）：由入射X射线所激发出来的特征X射线。俄歇效应：当原子中K

2、层的一个电子被打出后，它就处于K激发状态，其能量为Ek。如果一个L层电子来填充这个空位，K电离就变成了L电离，其能由Ek变成El，此时将释Ek-El的能量，可能产生荧光χ射线，也可能给予L层的电子，使其脱离原子产生二次电离。即K层的一个空位被L层的两个空位所替代，这种现象称俄歇效应。滤波材料λk:相干散射：当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子能量不足以使原子电离，但电子可在X射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射与入射X射线波长相同的辐射，因为各电子所散射的射线波长相同，有可能相互干涉，故称相干散射。不相干散射：能量为hv的光子与自由电子

3、或受核束缚较弱的电子碰撞，将一部分能量给予电子，使其动量提高，成为反冲电子，光子损失了能量，并改变了运动的方向，能量减少hv，显然v`

4、）、周转晶体法采用单色X射线照射转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录确定晶体的结构。3）、粉末法采用单色X射线照射多晶体。有数量众多、取向混乱的微晶体组成。各微晶体中某种指数的晶面在空间占有各种方位。粉末法主要用于测定晶体结构，进行物相定性、定量分析，精确测定晶体的点阵参数以及材料的应力、织构、晶粒大小的测定等。2、布拉格方程见书P25布拉格方程2dsinθ=λ中的d、θ、λ分别表示什么？布拉格方程式有何用途？答：dHKL表示HKL晶面的面网间距，θ角表示掠过角或布拉格角，即入射X射线或衍射线与面网间的夹角，λ表示入射X射线的波长。该公式有二个方面用途：（1）已知晶体的d

5、值。通过测量θ，求特征X射线的λ，并通过λ判断产生特征X射线的元素。这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。（2）已知入射X射线的波长，通过测量θ，求晶面间距。并通过晶面间距，测定晶体结构或进行物相分析。第三章1、产生电子衍射的充分条件是Fhkl≠0，产生电子衍射必要条件是满足或基本满足布拉格方程。系统消光：由于FHKL＝0而使衍射线消失的现象称为系统消光。2、几种点阵的结构因数计算见书P343、多晶体衍射的相对积分强度（见书P44）：4、总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。晶体结构结构消光（Fhkl=0）条件简单主体无结构消光体心立方h+k+l=奇数面心立方h、k、

6、l奇偶混合体心正方h+k+l=奇数第四章1、衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同？衍射仪法德拜法试样形状块状、粉末粉末细柱状试样吸收吸收系数是定值吸收系数随q角改变入射光束有一定发散度平行光衍射线记录计数管底片1、乘积RC称为积分电路（计数率计）的时间常数。时间常数愈大，计数率计对衍射强度的变化愈不敏感，表现为衍射花样愈显平滑整齐，但滞后也愈严重，即衍射峰的形状位置受到歪曲也愈显著；时间常数过小，由于起伏波动太大将给弱峰的识别造成困难。2、连续扫描：该法效率高，精度差，用于物相定性分析。采用计数率仪计数，试样与计数管以1:2角速转动，计数管以一定的

7、扫描速度，从起始角向终止角扫描。记录每一瞬时衍射角的衍射强度，绘制衍射图。3、步进扫描：该法采用定标器计数，速度慢、精度高，常用于精确测定衍射峰的积分强度、衍射角。计数器在较小角度范围内，按预先设定的步进宽度(如此0。020)、步进时间(如5s)，从起始角到终止角，测量各角的衍射强度。4、扫描速度提高扫描速度，可节约测试时间，但却会导致强度和分辨率下降，使衍射峰的位置向扫描方向偏移并引起衍射峰的不对称宽化。5、时间常数增大时间常数可