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《jbt 8239.2-1999 衍射光栅 技术条件》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、JB/TS么拍2一1田9前言本标准是对JB厅8239.2一以衍射光栅技术条件》的修订。修订时,对原标准作了编辑性修改,主要技术内容没有变化。本标准自实施之日起,代替JB刀8239.2一95。本标准由全国光学和光学仪器标准化技术委员会提出并归口。本标准负责起草单位:上海光学仪器研究所。中华人民共和国机械行业标准JB汀8239.仑199衍射光栅技术条件代替JB汀8力9全955沪如咧onfor。,脚婉范围不标准规定了衍射光栅的技术指标名称和代号、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。:一:本标准适用于JB刀8刀9.1规定
2、的反射式衍射光栅。.本标准中所述光谱均指一级光谱。2引用标准下列标准所包含的条文.通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,听示版本均兰有效。所有标准都会被修订,使月太标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/,r1185-一1989光学零件表面疵病GB汀282日一1987逐批检查计数抽样程序及抽样表(适用于连续批的检查)GB灯2829一19盯周期检查计数抽样程序及抽样表(适用于生产过程隐定性的检查)GB汀15毒孚卜一1995仪器仪表包装通用技术条件JB汀8239.1一1999衍射光栅基本参数JB厅9329一.
3、1男旧仅器仪表运愉、运输贮存基本环境条件及试验方法。3技术指标名称和代号3.1衍射光栅技术指标名称和代号按表1规定。表1技术指标名称代号衍射波阵面偏差△实际分辨率与理论分辨率比值尸r最大相对衍射效率E波长范围两端处相对衍射玫率与最大相对衍射效率比值P.鬼线最大相对强度R。杂光相对强度甲4技术要求4·,衍射波阵面偏差(“冷级要求按表2衅麟爹一{;一点淇七21等级0l23△落几/10落又/6‘又几一一!,争注:几为一级光谱的峰值波长。国家机械工业局1999一08一临批准2自)〕一01一01实施4.2实际分辨率与理论分辨率比值(尸r)等级
4、要求按表3规定。表3等级0l23认’)卯)80)印)504.3最大相对衍射效率(E)等级要求按表4规定。表4等级01234}点〕90)75)印势45)304.4波长范围两端处相对衍射效率与最大相对衍射效率之比值(P.)等级要求按表5规定。表5等级01234一}之)50〕40杂30)20)104.5鬼线最大相对强度(R。)等级要求按表6规定。表6等级0123凡‘10一‘‘10一,‘10一‘‘10一,4.6杂光相对强度(妇等级要求按表7规定。表7l一l等级0l23一{4}甲‘10一‘10一,冬10一‘‘10一5I注:,是巨主线土5二处的
5、杂光与主线渔度的相对比值。4.7衍射光栅有效刻划面表面应清洁,无指纹、霉点、水迹,无明显油斑。4.8衍射光栅各棱边应平整,毛坯与膜层结合情况应良好。4.9衍射光栅刻划毛坯的宽度和长度偏差按dl规定,厚度偏差均为士0.么llnl4.10矩形的衍射光栅槽线方向于光栅毛坯边缘,倾斜不超过lm。4.1衍射光栅有效刻划面表面疵病质量要求按CB汀1185的有关规定。阴影按表8规定。表8光机有效刻划面积阴影质量要求口1刀轻微阴影总面积应小于光拐有效面积>1印xl的1/4》团x印U6》30减30U84.12衍射光栅在包装运输条件下,应符合JB厅93
6、29的规定。其中:高温:选用+5℃;b)低温:选用一40弋;c)跌落:选用自由跌落高度25加加。5试验方法5.1衍射波阵画伯晚丈妈)介.1)51试验土具‘仪器准蔺够王兰至_“:夕0的干涉仪5.1.2试被测衍蔓干涉仪内用波长为石单色光测得衍射光橱的千涉条纹最大变形量N.按公。。和公。)计和柳射光栅峰值魂参还:瘾行射波阵二偏如。一条轰二(1、一r一_‘里斋二(2)5.2实际分辫率与理论分辨率比直护r)(4.幻5.2.,试验二具」仪器分辫率大于桩侧衡射光栅分辞率的测试仪。5.2.2试验和什算方法被畜汀射光栅放于分若率测试仪内的光栅架上,使
7、其调整到正确也置,狭缝开启处于正常缝宽、然后用光二倍增管扫描毕色光松线轮廓,计算轮廓峰值加%处的轮廓宽度并蒋其作天夯辨汲限波长(二)按公式(3).公式(4)和公式又5)计算即得实际分沸率与理论分辨率比值(P,)。一川*二六··········一口*。二、八r二二鱼资钾·⋯⋯“‘_R汉尸r二气千-·····,·,二‘⋯“’一,’八o式中:尸—实际分辨率与理论分辨率比值;_R-—实际分辨率;R。—理论分辨率;凡一‘丝色光波长(一般指撕·腼卜以一一分辨极限波长;天—光谱级数;刃一光栅刻槽乓数;『—光栅刻划宽度;a—人射角;卢一,~衍射角。
8、5.“最大担对衍射效率哆助(4.2)53.1试验土共,光栅相对衍射效率测试仪。5.3.2试验和计算方法光栅相对衍射效率测试,前置单色仪输出一系列单色光,在待测单色仪上依次测单色光的光栅衍射最大光强度,然后以同样方法侧相应波长下单色光对
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