xrd物象鉴定如果获得晶体的晶格常数如何获得平均晶体粒径为什么髙指数晶面的衍射峰较低是不是所有晶面都会出现峰呢

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1、Xrd物象鉴定/如何获得晶体的晶格常数？如何获得平均晶体粒径？为什么髙指数晶面的衍射峰较低？是不是所有晶面都会出现峰呢？1、Xrd物象鉴定依据的基本原理是什么？鉴定过程流程有哪些？答：当X射线波长λ已知时(选用固定波长的特征X射线)，采用细粉末或细粒多晶体的线状样品,可从一堆任意取向的晶体中，从每一θ角符合布喇格条件的反射面得到反射,测出θ后，利用布喇格公式即可确定点阵平面间距、晶胞大小和类型;根据衍射线的强度,还可进一步确定晶胞内原子的排布。而在测定单晶取向的劳厄法中，所用单晶样品保持固定不变动（即θ不变）,以辐射束的波长作为变量来保证晶体中一切晶面都满足布

2、喇格条件,故选用连续X射线束。如果利用结构已知的晶体，则在测定出衍射线的方向θ后,便可计算X射线的波长，从而判定产生特征X射线的元素。这便是X射线谱术,可用于分析金属和合金的成分。在进行物相鉴定之前，预先作背底扣除，最好不平滑。右键点击工具栏上的“S/M”，出现一设置面板，“General”里面首先是样品类别的选定，再下面是一些复选框，如单相鉴定，有否择优取向，是否自动匹配，以及化学元素限定等等。最后一项是最常用到的，复选“useChemistry”，点击“Chemistry”，出现元素周期表，直接点击你确定的元素，一次为“可能”有，二次为“肯定”有，建议点击

3、一次变为蓝色即可，然后“OK”。除Chemistry外，其它的诸如Formula，UnitCell等等也可以，但都不常用。对于一般的用户来说，完成上述操作即能进行下一步的工作。点击设置面板上的“OK”，将出现检索结果，一般默认按可信度排列，点击名称，在图谱上就会出现对应的谱线，在复选框内打勾，就表示选定。到此为止，基本的操作就算完成。2、如何获得晶体的晶格常数？如何获得平均晶体粒径？答：可以由图谱得知hkl三个参数，然后根据这3个参数来计算a。比如立方晶系[hkl]面间距的计算公式：*有了hkl，再由Bragg方程式：，可以从图谱的衍射角和给定的X射线波长算出

4、d,再代人*式，即可得a的大小。然后根据Scherrer公式D＝kλ/W1/2cosθ(式中D为平均晶粒尺寸，W1/2为半峰宽，θ为衍射角，λ为x射线波长，k为Scherrer常数，其值为0.89)，计算可得晶体的平均晶粒尺寸3、查阅有关文献，说明为什么髙指数晶面的衍射峰较低？是不是所有晶面都会出现峰呢？为什么？答：所谓髙指数晶面指的是hkl比较大，因为晶格常数是一个定值，那么满足布拉格方程的d值就应该比较小，由布拉格方程可知，当衍射角为90°时候，d有最小值为x射线的半波长，而髙指数晶面的衍射的d很小，导致只有衍射角的正弦值比较大时候才能满足布拉格方程。这样

5、导致一些低角度的射线就失去作用了，强度因而较低。并不是所有晶面都会出现峰，当晶面指数很高的时候，那个算出的d就不能满足布拉格的最小值，那么就不会产生峰了。