材料分析测试技术a卷

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1、一、选择题（每题1分，共15分）1、X射线衍射方法中，最常用的是（）A．劳厄法B.粉末多晶法C.转晶法2、已知X射线定性分析中有三种索引，已知物质名称可以采用（）A.哈式无机相数值索引B.无机相字母索引C.芬克无机数值索引3、电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中能用于测试1nm厚度表层成分分析的信号是（）A.背散射电子B.俄歇电子C.特征X射线4、测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用的方法是（）A.外标法B.内标法C.直接比较法D.K值法5、下列分析方法中分辨率最高的是（）A.SEMB.TEMC.特征X射线6、

2、表面形貌分析的手段包括（）A.SEMB.TEMC.WDSD.DSC7、当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）A.光电子B.二次电子C.俄歇电子D.背散射电子8、透射电镜的两种主要功能（）A.表面形貌和晶体结构B.内部组织和晶体结构C.表面形貌和成分价键D.内部组织和成分价键9、已知X射线光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（）A.CoB.NiC.FeD.Zn10、采用复型技术测得材料表面组织结构的式样为（）A.非晶体样品B.金属样品C.粉末样品D.陶瓷样品11、

3、在电子探针分析方法中，把X射线谱仪固定在某一波长，使电子束在样品表面扫描得到样品的形貌相和元素的成分分布像，这种分析方法是（）第6页/共6页A.点分析B.线分析C.面分析12、下列分析测试方法中，能够进行结构分析的测试方法是（）A.XRDB.TEMC.SEMD.A+B13、在X射线定量分析中，不需要做标准曲线的分析方法是（）A.外标法B.内标法C.K值法14、热分析技术不能测试的样品是（）A.固体B.液体C.气体15、下列热分析技术中，（）是对样品池及参比池分别加热的测试方法A.DTAB.DSCC.TGA二、填空题（每空1分，共2

4、0分）1、由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型，即和。2、常见的几种电子衍射谱为单晶衍射谱、、、高级劳厄带斑点、。3、透射电镜的电子光学系统由、、和四部分组成4、今天复型技术主要应用方法来截取第二相微小颗粒进行分析。5、扫描电子显微镜经常用的电子信息是、和6、德拜照相法中的底片安装方法有、和7、产生衍射的必要条件是8、倒易点阵的两个基本特征是和9、透射电镜成像遵循原理三、名词解释（每题5分，共20分）1、X射线强度2、结构因子3、差热分析第6页/共6页4、衍射衬度四、简答题（每题5分，共20分）1、阐述特征X射线产生的物理机

5、制2、给出物相定性与定量分析的基本原理3、简述扫描电镜的结构。4、简述热重分析应注意的问题五、论述题（共25分）1、从原理及应用方面指出X射线衍射、透射电镜中的电子衍射在材料结构分析中的异同点。2、以体心立方（001）(011)的衍射为例，说明产生衍射的充分必要条件一、选择题（每空1分，共15分）1-5、BBBCB6-10、ACBCA11-15、CDCCB二、填空题（每空1分，共20分）1、连续X射线和特征X射线。2、多晶电子衍射谱、多次衍射谱、菊池线。3、光学系统、样品室、放大系统、供电和真空系统4、萃取复型5、二次电子和背散射

6、电子、吸收电子、特征X射线（任填3个）6、正装法、反装法（倒装法）、45℃法（不规则法）7、满足布拉格定律8、H（hkl）垂直于正点阵（hkl）面；H（hkl）=1/d（hkl）9、阿贝成像原理三、名词解释（每题5分，共20分）第6页/共6页1、X射线的强度X射线的强度是指行垂直X射线传播方向的单位面积上在单位时间内所通过的光子数目的能量总和。常用的单位是J/cm2.s。2、结构因子结构因子是指一个单胞对X射线的散射强度，由于衍射强度正比于结构因子模的平方，消光即相当于衍射线没有强度，因此可通过结构因子是否为0来研究消光规律3、差

7、热分析在程序控制温度条件下，测量样品与参比的基准物质之间的温度差与温度关系的一种热分析方法。4、衍射衬度衍射衬度是指试样中由于各处晶体取向不同和（或）晶体结构不同，满足布拉格条件的程度不同，使得对应式样下表面处有不同的衍射效果，从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布而形成的衬度，它是由于晶体取向差异和（或）晶体结构造成的。四、简答题（每题5分，共20分）1、阐述特征X射线产生的物理机制答当外来电子动能足够大时，可将原子内层（K壳层）中某个电子击出去，于是在原来的位置出现空位，原子系统的能量因此而升高，处于激发态，为使系统能量

8、趋于稳定，由外层电子向内层跃迁。由于外层电子能量高于内层电子能量，在跃迁过程中，其剩余能量就要释放出来，形成特征X射线。2、简述扫描电镜的结构。扫描电镜包括以下几个部分：（1）电子光学系统由电子抢、电磁透镜、光阑、样品室等部件组成。（2）信号收集和