温度冲击试验.doc

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1、温度冲击试验项目介绍本试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。一通检测实验室测试参考标准IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等试验用途　　试验主要是针对于电工、电子产品，以及其原器件，及其它材料在温度急剧变化的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。该试验主要用于对产品按照国家军用标准要求或用户自定要求，在高温与低温瞬间变化条件下，对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试，测试后，通过检测，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。试验

2、适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温冲击试验是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，军工，研位，等单位.一通检测实验室设备参数设备型号：CJ602S3Ⅰ试验温度范围：-75℃～200℃高温设定范围：+60℃～+200℃低温设定范围：0℃～-75℃温变速率：≤5Min内箱尺寸：670×650×460mm